Патенты с меткой «152742»

Номер патента: 152742

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 5/08, G01B 5/14

Метки: 152742

...кта из- измерялее вывочногоразно- метр отИзвестные способы измерения малых внутренних размеровпутем контакта измерительных наконечников с поверхностяминой меры и измеряемой детали дают погрешность измерения н+3 мк.Описываемый способ отличается от известных тем, чточения более высокой точности измеряют расстояния от поверхтановочного приспособления до эталонной меры и до отверси по разности сумм отсчетов двух шкал определяют дейстдиаметр отверстия.Сущность описываемого споьряемого отверстия определяется,а=я+ (0;.+0;1 - 0;+0,) 1,где М - размер эталонной меры;0 и 0;. - отсчеты по шкалам на эталонной мере;0" и 0 - отсчеты по шкалам на размер детали,Размер эталонной меры М не должен отличаться от разм.ли более суммарной величины расхода...