Способ измерения геометрических искажений растра электронно лучевой трубки

Союз СоветскикСоциалистическикРеспублик Оп ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и 1960999Ф ифе(51)М. Кл, Н 01 1 9/42 3 ЪеудорствкннЫ 1 комитет СССР ао делам нзобретеннй н откритнй(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИМИСКАЖЕНИЙ РАСТРА ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОЙТРУБКИ 1Изобретение относится к радиоиз мерительной технике,. а именно к способу измерения параметра отклонения электронно-лучевых трубок (ЭЛТ) геометрических искажений. Под геометрическими искажениямиэлектронного луча ЭЛТ, развернутогов прямоугольный растр на рабочейчасти экрана трубки с помощью напряжений, прикладываемых к горизонтальной и вертикальной отклоняющим системам понимают отклонения его формыот прямоугольной. При геометрических искажениях форма растра можетпринимать вид трапеции с ровными,выпуклыми или вогнутыми сторонами,длины которых в общем случае могутбыть разными,Геометрические искажения осциллографических ЭЛТ в горизонтальном и вертикальном направлениях в общем случае могут иметь различную вели 2чину и обычно определяются согласно ГОСТ 19748,4-74 из выраженияо-Ьа+Вгде а и б - соответственно максимальное и ьюнимальное расстояния между двумя крайними точками растрапо вертикали или по горизонтали экрана ЭЛТ.Известен способ измерения геометрических искажений с помощью линейки, при котором разворачиваютэлектронный луч в прямоугольный растрна экране трубки, производят измерения геометрических размеров, а затем вычисляют значение геометрических искажений 111.Недостатком такого способа является относительно низкая точность.2 о Известен также способ измерениягеометрических искажений растра ЭЛТзаключающийся в развертке электронного луча в пределах рабочей частиэкрана под действием горизонтально3 96и вертикально отклоняющих напряжений, определении максимального иминималнного значения величин, характеризующих геометрические размеры линий развертки с помощью масштабной сетки (,2,Недостатками известного способаявляются. также относительно низкаяточность и экспрессность.Целью изобретения является повышение точности и уменьшение времениизмерения,Указанная цель достигается тем,что согласно способу .измерения геометрических искажений растра ЭЛТ,заключающемуся в развертке электронного луча по рабочей части экранапод действием горизонтально и вертикально отклоняющих напряжений,определении максимального и минимального значения величин; характеризующих геометрические размеры линий развертки с помощью шаблона,геометрические размеры линий развертки определяют путем измерениямаксимальных и минимальных значенийразности одноименных электрическихкоординат Фотооптических микродат.чиков, установленных по периметрушаблона симметрично по горизонталями вертикалям,На фиг. 1 показан искаженный растрна. экране ЭЛТ; на фиг. 2 - экран ЭЛТс наложенной на его рабочую поверхность прямоугольной маской с Фотооптическими,микродатциками (показаныточками), расположенными симметрично по сторонам прямоугольной маски",на Фиг, 3 - осциллограммы напряжений,поясняющие сущность способа,Способ осуществляется следующимобразом,На рабочую поверхность экрана ЭЛТнакладывается прямоугольная маска сминиатюрными Фотооптическими микродатчиками (Фиг. 2), расположеннымисимметрично по сторонам прямоугольника маски. Центр указанной маскисовпадает с центром экрана, а ее горизонтальная и вертикальная оси симметрии располагаются параллельно соответствующим осям плоскости экранатрубки. Число микродатчиков на каж-дой стороне прямоугольной маски определяется размерами рабочей поверхности экрана и конкретными требованиями к данному типу ЭЛТ,Затем , например, из левого нижнего угла плоскости экрана (фиг. 2) 0999 4 разворачивают снизу вверх и слеванаправо электронный луч в прямоугольный растр благодаря подаче на вертикально и горизонтально отклоняющиепластины трубки изменяющихся по линейному закону ступенчатых напряжений соответственно строчной О(фиг. За) и кадровой О(фиг. 36)разверток. При этом каждое по 1 в следующее приращение ступенчатого напряжения строчной О и кадровой О раэвертоквыбирают так, чтомежду двумя соседними микродатчиками,расположенными на одной стороне маски,обеспечивается заданная разрешающаяспособность (точность измерения) . Так, например, если на расстоянии между микродатчиками 1 О мм укладывается 100 или 200 ступеней отклоняющего напряжения, то разрешающая способность составляет соответственно .0,1 и 0,05 мм,Ввиду геометрических искажений в ЭЛТ прямоугольный растр на экране трубки наблюдается искаженным. Амплитуды отклоняющих напряжений строчной ОА (фиг, За) и кадровой О (Фиг. 36) разверток ЭЛТ выбираются так, что растр на экране трубки полностью перекрывает площадьпрямоугольной. маски.В момент времени с пересеченияэлектронным лучом юкродатцика, например 3,1 (фиг. 2 ), последний Формирует импульс отметки О, (Фиг. Зв),который обеспецивает разрешение назапоминание электрических координат(кодов) микродатчика О =О (Фиг.Зг)и О,=О(Зд).Коды электрических координат Оеи О е по осям Х и У представляют соуебой числа ступеней (число линий раст.ра соответственно кадровой О(Фиг. 36) и строчной О., (фиг. За)разверток, отсчитанное соответфф ственно относительно .начала кадровой развертки О, и начала соот-,ветствующей строчной развертки О .За время одного кадра цифровой раз.вертки Т Формируются и эапоминают- фВ ся коды Х и У всех микродатчиков. Затем вычисляем разности одноименных электрических координат микродатФ чиков а, а, аа фиг, 2), расположенннх по вертикалям а -2 о 1 а, а- Ц и микродат чиков ао бо,а -1 и микродатчиков ао и а 6,ж (Фиг. 2), расположенных по горизонталям а-аа960999 Ьсобствует повышению быстродействия,увеличению точности измерения, улучшению условий труда оператора.Способ измерения геометрическихискажений растров ЭЛТ может найтиширокое применение при измеренияхи контроле указанного параметра отклонения ЭЛТ на. заводах - изготовителях ЭЛТ, а также при разработке1 О высокоточной измерительной аппаратуры на основе ЭЛТ. Учитывая то, что величина напряжения отклонения электронного луча О и Опрямо пропорциональна через масштабный коэффициент К числу ступеней, т.е. коду электрическихкоординат, а величина отклоняющего . напряжения (О и 0 ) по вертикали и горизонтали прямо пропорциональна через коэффициент 5 (5 - чувствиУтельность по оси У, 5- по оси Х)величине преемещения а и Ь электронного луча, можно сделать вывод, что выражения (1) и (2) тождественно равнымокс- юииКня +К " моисфмиисф-Ьэ аоав+ььофЪ Формула изобретения Характерным отли чием предлагаемого способа является фиксированиеточных размеров развертки электрон-ного луча (размеров растра) в пределах рабочей части экрана с помощьюпрямоугольной маски с миниатюрными фотооптическими микродатчиками,установленными симметрично по обеим сторонам прямоугольной маски,и последующим измерением амплитудотклоняющих напряжений, обеспечивающих заданный размер растра,Предлагаемый способ позволяет автоматизировать процесс измерения геометрических искажений ЭЛТ, что спо 5б -б 1 рд. После чего опредефляем максимальное п и минимальное и значения разности электрических координат (числа ступеней) между указанныип микродатчиками и производим вычисления геометрических искажений по формуле Способ измерения геометрическихискажений растра электроннолучевойтрубки, заключающийся в разверткеэлектронного луча по рабочей частирВ экрана под действием горизонтальнои вертикально отклоняющих напряжений, определении максимального иминимального значения величин, характеризующих геометрические размерыд линий развертки с помощью шаблонао т л и ч а ю щ и й с я .тем, что,с целью повышения точности и уменьшения времени измерения, геометрические размеры линий развертки определяют путем измерения максимальныхи минимальных значений разности одноименных электрических. координат. фотооптических микродатчиков, установленных по периметру шаблона симметрично по горизонталям и вертикалям.35Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Миллер В.А. и др. Приемныеэлектроннолучевые трубки. М., "Энерщ гия", 1971, с. 258.2. Гдалин В.С. Измерение параметров телевизионных передающих и приемных трубок М., "Советское радио",1978, с. 237-21 (прототип).960999 В,белокота остдвител ехред Т.ф Корректор Л, Бокшан еда ктор Тираж 7 1 Под НИИПИ Государственного комите по делам изобретений и откры 13035, Москва, Ж, Раушская