Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката

Номер патента: 777568

Автор: Брон

ZIP архив

Текст

О П И С А Н И Е (п)777568ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик(21) 2639467/25-2 51) 011 Ч 27 8 присоединением аявки Гасударственные комн СССР(71) Заявитель Ю, М. БронНаучно-исследовательский и опытно-констравтоматизации черной металлу орскии институтии 54) ДЕфЕКТОСКОП ДЛЯ СЕЛЕКТИВНОГО КОНТРОЛ ПОВЕРХНОСТИ ПРОКАТА2 О Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества изделий и может быть использовано в металлургии и машиностроении для контроля длинномерных изделий, имеющих форму тел вращения.Известен дефектоскоп селективного контроля, предназначенный для контроля качества поверхности круглого проката,.содержащий механизм вращения сканирующих преобразователей, каналы задержки сигналов, в которые входят головки записи, воспроизведения и стирания, а также магнитоноситель, кинематически связанный с механизмом вращения, формирователь сигналов записи, соединенный с соответствующим преобразователем, и схему совпадений 1.Однако известный дефектоскоп не позволяет получить информацию о месторасположении дефекта в сечении контролируемого изделия.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката, содержащий и преооразователей, установленных с возможностью вращения относительно поверхности проката, механизм вращения, каналы задержки сигналов по числу преобразователей, каждый из которых включает соединенный с выходом преобразователя формирователь, подключенную к формирователю по крайней мере одну головку записи, головку воспроизведения, головку стирания, магнитоноситель, кинематически связанный с механизмом вращения, и блок автоматики 2,Однако при воспроизведении сигнала отсутствует информация о местоположении обнаруженного дефекта в сечении контролируемого изделия, что не позволяет производить его двухкоординатную отметку. Целью изобретения является повышение точности обнаружения места расположения дефекта.Это достигается тем, что дефектоскоп снабжен п(т - 1) идентичными головками воспроизведения по т - 1 в каждом канале и п идентичными схемами совпадения, головки воспроизведения каждого канала разнесены вдоль магнитоносителя относительно головок записи и между собой на расстояние, пропорциональное угловому расстоянию между преобразователями, а головки всех каналов образуют и - 1 ряд, перпендикулярный направлению перемещения магнитоносителя, на входы г-ой схемы совпадения подключены по одной головке воспроизведения каждого ряда и выход формирователя г - 1 канала, а выходы схем3совпадения подключены к блоку автоматики,где т - число необходимых подтвержденийдефектов;- порядковый номер канала задержки.На фиг, 1 показана схема описанногодефектоскопа; на фиг. 2, 3 и 4 - схемы записи магнитных меток при обнаружениидефекта первым преобразователем и подтверждении вторым и третьим; на фиг. 5,6 и 7 - схемы записи магнитных меток приобнаружении дефекта вторым преобразователем и подтверждении третьим и первым;на фиг. 8, 9 и 10 - схемы записи магнитных меток при обнаружении дефекта третьим преобразователем и подтверждении первым и вторым; на фиг. 11 и 12 показаныматрицы, поясняющие порядок включенияголовок воспроизведения и формирователейзаписи.Дефектоскоп для селективного контроляповерхности проката содержит сканирующие преобразователи 1, 2 и 3, планшайбу4, сквозь которую проходит контролируемоеизделие 5 с дефектом 6, механизм 7 вращения, каналы задержки сигналов, в каждыйиз которых входит одна головка 8, 9 и 10записи, и - 1 головки 11, 12 (13, 14, 15 и16) воспроизведения и одна головка - 17,18 и 19 стирания. Сигнал стирания на головки 17, 18 и 19 подается от генератора20. Сигнал записи на головки 8, 9 и 10 поступает от формирователей 21, 22 и 23.Каждый канал записи снабжен схемой 24(25 и 26) совпадения, на входы которойподключены головки 12, 13, 14, 15, 11, 16воспроизведения и выход формирователя23, 22, 21. Выходы схем 24, 25 и 26 совпадений подключены к блоку 27 автоматики.Магнитоноситель 28 через валик 29 кинематически связан с механизмом 7 вращения преобразователей 1, 2 и 3,Работает дефектоскоп следующим образом.В процессе контроля механизм 7 вращает планшайбу 7 с преобразователями 1, 2 и3 вокруг поступательного перемещающегося изделия 5, перемещая одновременно посредством валика 29 магнитоноситель 28,При пересечении дефекта 6 преобразователи 1, 2 и 3 вырабатывают сигнал, поступающий в формирователи 21, 22, 23, Записанный на магнитоносителе 28 сигнал считывается при помощи головок 11 - 16 воспроизведения.Расположение записанных меток на магнитоносителе 28 зависит от того, какой изпреобразователей 1, 2 или 3 первым пересечет дефект 6,При обнаружении дефекта первым преобразователем головка 8 запишет на магнитоносителе 28 метку (см, фиг. 2), После2 аповорота планшайбы 4 на угол - дефекти 4обнаружит второй преобразователь, и головка 9 запишет на магнитоносителе метку, при этом ранее записанная головкой 8метка переместится на расстояние 1, про 5 порциональное углу поворота планшайбы 42на угол - (см. фиг. 3). После поворотаи2 кпланшайбы 4 еще на угол - дефект обна 10 ружит преобразователь 3, и головка 10 запишет на магнитоносителе 28 метку, а ранее записанные метки смесятся соответственно на расстояние 21 и 1 (см, фиг. 4).Когда головка воспроизведения будет15 находиться над магнитными метками, насхему совпадений поступают сигналы и наее выходе также появится сигнал.При обнаружении дефекта вторым преобразователем последовательность записи и20 перемещения меток на магнитоносителе соответствует, показанным на фиг. 5 - 7. Длясчитывания этих меток требуются головкивоспроизведения, расположенные также,как магнитные метки, показанные на25 фиг. 7,Когда дефект обнаружен третьим преобразователем, последовательность записи иперемещения меток соответствует, показанным на фиг. 8 - 10, а расположение голо 30 вок воспроизведения должно соответствовать меткам на фиг. 10,Последовательность нанесения меток намагнитоноситель 28 соответствует последовательности обнаружения дефекта преобра 35 зователями, т. е., если дефект обнаруженпервым преобразователем, то затем он обнаруживается вторым и третьим. Если дефект обнаружен вторым преобразователем,то затем - третьим и первым. Если треть 40 им, то затем - первым и вторым.Для упрощения устройства целесообразно вместо последней метки использоватьсигнал, поступающий на головки записи.Это.позволит уменьшить число головок вос 45 произведения в каждом канале задержки иполучить информацию о протяженности де 2фекта с упреждением на уголРасположение головок записи и воспро 50 изведения показано на фиг, 1. При обнаружении дефекта преобразователем 1 к схеме 25 совпадения поступят сигналы с выходов головок воспроизведения 14, 15 и с выхода формирователя 21, При обнаружении55 дефекта преобразователем 2 к схеме 26совпадений поступят сигналы с выходов головок 11, 16 воспроизведения и выходаформирователя 22, При обнаружении дефекта преобразователем 3 к схеме 24 сов 60 падений поступят сигналы с выходов головок 12, 13 воспроизведения и с выходаформирователя 23,Работа устройства рассмотрена на примере дефектоскопа, имеющего три преобра 65 зователя, Однако преобразователей можетбыть любое количество. В случае, когдапреобразователей и и требуемое число подтверждений а, необходимо иметь и схемсовпадений по одной в каждом канале сп-входом, К каждой схеме совпадений данного (г-го) канала задержки должны бытьподключены головка воспроизведения первого ряда а-го канала задержки, головкавоспроизведения второго ряда (г+1) канала задержки, головка воспроизведениятретьего ряда (г+2) канала задержки ит. д головки воспроизведения а-го каналаследующего ряда до (г - 2) канала гг - 1ряда. Кроме этого к г-й схеме совпаденийподключен выход формирователя сигналазаписи (г - 1) канала. Описанное наглядновидно на фиг, 11, где показана матрица ипоследовательность выключения головоквоспроизведения и формирователя пригг=8, г - 4 и г= 1 (пунктиром), Двойнойлинией обозначен ряд формирователей сигналов записи (ряд 8).Итак, к каждой схеме совпадений подключены в порядке следования номеровканалов и рядов головки воспроизведенияот г до и плюс головки воспроизведения от1 до (г - 2) каналов, а также выход формирователя сигнала записи (г - 1) канала.При г=1 к схеме совпадения подключены выходы головок воспроизведения от 1до гг - 1 и выход г-го формирователя сигналов записи.Со схем совпадения сигналы поступают вблок 27 автоматики, в котором происходитопределение местоположения дефекта посечению изделия, перенос информации изплоскости контроля в плоскость дефектоотметки ц управление отметчиком дефектов(или системой сопровождения и рассортировкц),Перед поступлением в зону записи магцитоноситель освобождается от использованной ицформацтти посредством головок7. 18 и 19 стирания.В общем случае, когда преобразователейи, а необходимое число подтверждений т,то потребуется и - 1 головок воспроизведения в каждом канале задержки, которыеобразуют т - 1 ряд головок восппоизведения, и схем совпадения - по одной в каждом канале задержки, Каждая схема совпадений имеет т входов, к которым подключены выходы т - 1 головок воспроизведения в порядке следования номеров каналов задержки и рядов воспроизведения,начиная с г-ой, и выход т-го формирователя записи относительно г-го канала задержки.Каналы задержки сигналов могут быть выполнены на дискретных элементах, например регистрах сдвига,Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката повышает надежность и избирательность контроля, а также обеспечивает двухкоординатную отметку дефектных мест на изделиях,Формула изобретения 50 Источники интЬор м а ццц,принятые во внимание прц экспертизе1. Авторское свтт летельство ГСГР266324, кл. 0 0 И 27/84, 1968.2. Авторское свидетельство СГСР26751, кл, 0 01 У 27/84, 1968 (прототип),Дефектоскоп для селективцого контроляповерхности проката, содержатцттйт и преобразователей, установленных с возможно стью вращения относительно поверхностипроката, механизм вращения, каналы задержки сигналов по числу преобразоватедей, каждый из которых включает соединенный с выходом преобразователя формирователь, подключенную к формирователюпо крайней мере одну головку записи, головку воспроизведения, головку стирания,магнитоноситель, кинематически связанныйс механизмом вращения, и блок автоматики, отличающийся тем, что, с цельюповышения точности обнаружения местарасположения дефекта, оц снабжен гг(т - 1)идентичными головками воспроцзведеццяпо т - 1 в каждом канале тт и ттдентттчнымцсхемами совпадения, головки воспроизведения каждого канала р%знесеньт вдоль магнитоносителя относительно головотс запттсии между собой на расстояние, пропорпцональное угловому расстоянию между преобразователямтт, а головтсц всех каналовобразуют т - 1 ряд, перпендитсулярттьтйт ттаправлению перемептенття магтттттоттостттеля,40 на входы г-ой схемы совпадения подключены по одной головке восппоттзведенття каждого ряда и выход формирователя г - 1 канала, а выходы схем совпадения подтслтотеньт к блотсу автоматттки,45 где т - число необходимых подтвержденийдефектов;г - порядковый номер канала задержки.Подписнои открыгий ипография, пр, Сапунова,Заказ 2408/3 Изд НПО Поиск Государственн 113035, М Т557 Тираж 1033 комитета СССР по делам изобрет а, Ж, Раушская наб., д, 4/5

Смотреть

Заявка

2639467, 10.07.1978

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ОПЫТНОКОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ АВТОМАТИЗАЦИИ ЧЕРНОЙ МЕТАЛЛУРГИИ

БРОН ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскоп, поверхности, проката, селективного

Опубликовано: 07.11.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/5-777568-defektoskop-dlya-selektivnogo-kontrolya-poverkhnosti-prokata.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката</a>

Похожие патенты