Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 515 6 01 К 33/12 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 2(56) Авторское свидетельство СССРМ 479061, кл. 6 01 В 33/12, 1973.Авторское свидетельство СССРМ 1580299, кл. 6 01 К 33/12, 1988,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ПОСТОЯННЫХ.МАГНИТОВ(57) Использование: область магнитных измерений в средствах производственных испытаний постоянных магнитов, а также в лабораторных устройствах измерения магнитных свойств образцов магнитотвердых материалов, Цель изобретения - повышение точности измерений. Сущность изобретения: перед проведением измерений замыкают полюса магнитной системы, в которой проводят измерения, перемагничиваИзобретение относится к области магнитных измерений и предназначено для использования в средствах производственных испытаний постоянных магнитов, а также в лабораторных устройствах измерения магнитных свойств образцов магнитотвердых материалов.Известен способ испытания постоянных магнитов и образцов магнитотвердых материалов, заключающийся в том, что испытуемый постоянный магнит устанавливают в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают по предельному циклу ги.ЫХ, 1732306 А 1 ют ее по предельному циклу гистерезиса и в этом процессе регистрируют зависимость падения магнитного напряжения в магнитной системе от индукции магнитного потока в ее полюсах Ом(Ви). Устанавливают испытуемый образец в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают его по предельному циклу гистерезиса, измеряя при этом ток ь намагничивающих обмоток и индукцию Ви в полюсах магнитной системы, а значения напряженности приложенного к испытуемому образцу магнитного поля Н и намагниченность испытуемого образца М; для каждой точки петли гистерезиса определяют согласно выражениямН = (1 нЯ - Ом(Ви 1 оМ = (Ом(Ви) 3 нЯ) Ь + 3 с Ви /с 0 где уу - количество витков обмоток магнитной системы;о - длина испытуемого образца; М - коэффициент пропорциональности между измеренными значениями индукции и значениями индукции в объеме испытуемого образца;,йо - магнитная постоянная.1 ил. стерезиса. В этом процессе значения напряженности приложенного магнитного поля измеряют преобразователем Холла, установленным в плоскости нейтрального сечения испытуемого постоянного магнита, у его боковой поверхности, а индукцию магнитного поля измеряют преобразователем Холла, установленным в щели пластины из магнитотвердого текстурованного материала, являющейся продолжением испытуемого образца,Недостаток испытуемого способа заключается в невысокой точности измеренийустройств, принцип работы которых основывается на его применении, Это объясняется тем, что в известном способе не предусматривается учет влияния магнитной цепи испытуемых образцов(магнитной системы) на результаты измерений, Внешняя цепь испытуемых образцов магнитотвердых материалов и постоянных магнитов, по которой замыкается их поток, содержит магнитотвердый материал и массивную магнитную систему. В режиме измерений эта цепь намагничивается как намагничивающими обмотками, так и намагниченностью испытуемых образцов, на что испытуемые образцы должны создать определенное количество внешней энергии и, тем самым, уменьшаются значения магнитной индукции в их магнитном потоке.Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту, является способ измерения магнитных параметров постоянных магнитов, заключающийся в том, что испытуемый постоянный магнит помещают в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают его по предельной петле гистерезиса. В этом процессе измеряют напряженность приложенного магнитного поля в плоскости нейтрального сечения испытуемого постоянного магнита, у его боковой поверхности, и индукцию его магнитного потока в измерительном зазоре, а значения намагниченности испытуемого образца для каждой точки петли гистерезиса определяют согласно уравнениям, обеспечивающим устранение влияния немагнитных промежутков в магнитной системе на результаты измерений,Недостаток известного способа заключается в невысокой точности, которую он обеспечивает. Невысокая точность измерений объясняется тем, что способ не предусматривает устранение влияния магнитопровода магнитной системы на точность измерений, Магнитное сопротивление магнитопровода соизмеримо с магнитным сопротивлением измерительных зазоров и имеет нелинейную характеристику, что приводит к значительным погрешностям измерений, особенно при регистрации значений коэрцитивной силы и остаточной индукции.Цель изобретения - повышение точности измерений.Поставленная цель достигается тем, что в способе определения магнитных параметров постоянных магнитов, заключающемся в перемагничивании испытуемого постоянного магнита в рабочем объеме магнитной системы по предельной петле гистерезиса и в измерении, в этом процессе индукции магнитного потока испытуемого постоянногомагнита перед началом измерений замыкают полюса магнитной системы, перемагничивают ее по предельному циклу5 гистерезиса и измеряют в этом процессезависимость намагничивающей силы обмоток от значений магнитной индукции, а за. тем устанавливают испытуемыйпостоянный магнит в рабочий объем магнит 10 ной системы, перемагничивают его по предельному циклу гистерезиса и по значениямнамагничивающей силы магнитной системы, индукции магнитного потока испытуемого постоянного магнита, а также по его15 длине, для каждой точки петли гистерезисаопределяют значения напряженности приложенного магнитного поля и намагниченности с помощью соотношенийН=(Рм. - О м ) о20 М, .гд р ,.),-1+В,.,-1,где Н - напряженность приложенного к постоянному магниту магнитного поля;М - намагниченность постоянного маг 25нита;Ом - величина падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы;Ем - величина магнитодвижущей силы;Вм - измеренное значение магнитнойиндукции;1 о - длина испытуемого постоянногомагнита;до - магнитная постоянная,Яи35 1 = -- конструктивная постояннаяомагнитной системы;Яи - площадь магнитной цепи в местеустановки измерительного зазора;Яо - площадь сечения испытуемого образца.Повышение точности в способе определения магнитных параметров постоянныхмагнитов достигается тем, что параметры45 каждой точки петли гистерезиса определяются путем выполнения математическихопераций над значениями измеряемых впроцессе измерений величин индукции инамагничивающей силы, а также зависимостью падения магнитного напряжения вовнешней цепи испытуемого образца, которая определяется в дополнительной операции перед проведением измерений. Такимобразом устраняется влияние ненулевогомагнитного сопротивления магнитной системы на результаты измерений,На чертеже представлена структурнаясхема устройства для осуществления пред.лагаемого способа,Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов заключается в следующем. Замыкают полюса магнитной системы и перемагничивают ее по предельному циклу.гистерезиса В процессе перемагничивания измеряют ток обмоток магнитной системы и индукцию потока в полюсах магнитной системы По соответствующих значениях тока и индукции регистрируют функциональную зависимость падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы; в ее объеме, от индукции магнитного потока. Устанавливают испытуемый образец в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают по предельному циклу гистерезиса. В этом процессе измеряют намагничивающую силу по току обмоток магнитной системы и индукцию магнитного потока. По измеренным значениям намагничивающей силы, индукции, а также по значениям длины испытуемого образца и измеренной ранее зависимости падения магнитного напряжения от индукции для каждой точки петли гистерезиса значения приложенной напряженности и соответствующие им значения намагниченности испытуемых образцов определяют с помощью следующих выраженийН;=(Ем - Ов ) 1 оМ) =(Ом Ем ) 1 о + 3 с Вин,йогде Н - напряженность приложенного к постоянному магниту поля;М - намагниченность постоянного магнита;Ом - величина падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы;Ем; - величина магнитодвижущей силы; Ви - измеренное значение магнитнойиндукции;1 о - длина испытуемого постоянногомагнита;ро - магнитная постоянная;Яик = -- конструктивная постояннаяомагнитной системы;Яи - площадь магнитной цепи в местеустановки измерительного преобразователя индукции; Яо - площадь сечения испытуемого образца.Способ измерений основан на следующем. Магнитный поток, пересекающий испытуемый постоянный магнит и магнитную систему, создается м,д.с, обмоток магнитной системы и намагниченностью испытуемого постоянного магнита, Уравнение.для контура замыкания магнитного потока имеет вид+1 Нс б 1, (1)оТо - длина испытуемого постоянного маггде нита;М - намагниченность испытуемого по стоянного магнита;Ем= на - намагничивающая сила обмоток магнитной системы;1 н - значение тока в обмотках;И/ - количество витков обмоток;Нм - составляющая напряженности магнитного поля в испытуемом постоянном магните, созданная его намагниченностьюН - составляющая напряженности магнитного поля, созданная м.д.с. обмоток маг нитной системы;Кс - общая напряженность магнитногополя в объеме магнитной системы.Исходя из условий однородности магнитного поля в объеме испытуемого посто янного магнита, элементы уравнения (1)можно заменить выражениями)" (Н + Н)б=(Н + Н)о,1 Эгде ро - магнитная постоянная;Во - индукция.магнитного поля в объемеиспытуемого постоянного магнита.Интеграл от полной напряженности.магнитного поля в объеме магнитной системы по длине является падением магнитногонапряжения Ом между торцами полюсовмагнитной системы, зависящим от индукции Ви магнитного поля в ее полюсах, измеряемой преобразователемо+ -Нс б = Ом(Ви).1 оУчитывая рассеяние магнитного потока50 в измерительном зазоре и форму полюсовмагнитной системы, между значением индукции Во и измеренным значением Ви существует зависимостьВо=К Ви, (4)55 где 1 = в " - конструктивная постояннаяЗомагнитной системы;Яи - площадь измерения зазора;.Яо - площадь сечения испытуемого постоянного магнита.зом. Для каждой составляющей напряженности магнитного поля Нм и Н в объеме испытуемого магнита, созданной их источ, никами - намагниченностью М и м.д.с. Е = = Я, получают зависимости величин Н и М от измеряемых значений н и Ви в процессе перемагничивания магнита и измеренной ранее зависимости Ои(Ви)Нг=(Ем - Ом ) о (5) и М = (Ом - Ем ) о + ( Вию,ио, (6) По значениям величин Н и Мь согласно уравнениям (5) и (6), определяют значение индукции в объеме испытуемого постоянного магнитаВ. -ц(Н +М;). (7) Устройство состоит из магнитной системы 1 с намагничивающими обмотками 2, измерительным зазором 3 и технологическим зазором 4, а также из преобразователя 5 индукции, источника 6 тока, измерительного шунта 7, первого усилителя 8, первого аналого-цифрового преобразователя 9, второго усилителя 10, второго аналого-цифрового преобразователя 11, блока 12 цифрового вычислителя, блок 13 управления и ввода информации, блока 14 цифровой памяти и блока 15 вывода результатов измерений.Испытуемый постоянный магнит 16 установлен в рабочий объем магнитной системы 1, между ее полюсами, на которых расположены намагничивающие обмотки 2, В измерительный зазор 3 установлен преобразователь 5 индукции. К выводам обмоток 2 подключен источник 6 тока и измерительный шунт 7, соединенные последовательно между собой. Выход преобразователя индукции 5 подключен к входу первого усилителя 8, выход которого соединен с входом первого аналого-цифрового п реобразователя 9, а потенциальные выводы измерительного шунта 7 подключены к входу второго усилителя 10, выход которого соединен с входом второго аналого-цифрового преобразователя 11. Разрядные выходы аналогоцифровых преобразователей 9 и 11 подключены к блоку 12 цифрового вычислителя. С блоком 12 цифрового вычислителя сопряжены блок 13 управления и ввода информации, блок 14 цифровой памяти и блок 15 вывода результатов измерений, В качестве блока 12 используется типовой одноплатный микроконтроллер.Устройство работает следующим обраПеред началом измерений замыкают полюса магнитной системы 1 и перемагничивают ее по предельному циклу гистерези 10 15 20 25 30 35 40 са, изменяя ток обмоток 2 источником 6 тока. В этом процессе напряжение с потенциальных выводов шунта 7 усиливается усилителем 10 и преобразуется в цифровой код преобразователем 11. Выходной сигнал индукции преобразователя 5 усиливается усилителем 8 и преобразуется в цифровой код преобразователем 9. По команде блока 13 блок 12 цифрового вычислителя выходной код второго аналого-цифрового преобразователя 11 записывает в ячейки памяти блока 14, используя выходной код первого аналого-цифрового преобразователя 9 в качестве адресного.Таким образом, после перемагничивания магнитной системы 1 в ячейках блока 14 цифровой памяти записана зависимость намагничивающей силы обмоток 2 от индукции магнитного потока, пересекающего полюса магнитной системы 1, что является зависимостью падения магнитного напряжения в магнитной системе 1 от индукции в ее полюсах, Посредством блока 13 управления и ввода информации вводят в блок 12 цифрового вычислителя значения длины магнита 16. Испытуемый магнит 16 устанавливают между полюсами магнитной системы 1 и перемагничивают его по предельному циклу гистерезиса, измеряя при этом индукцию в полюсах магнитной системы преобразователем 5 и ток намагничивающих обмоток 2 шунтом 7. Сигналы с выходов преобразователя 5 и шунта 7 усиливаются усилителями 8 и 10 и преобразованные аналого-цифровыми преобразователями 9 и 11 в цифровые параллельные коды подаются на входы блока 12 цифрового вычислителя, который согласно заложенной в него программе вычислений по соотношениям(5)-(7) определяет значения приложенной напряженности поля, намагниченности испытуемого магнита 16 и его индукции,Использование изобретения позволит повысить точность измерений магнитных параметров постоянных магнитов и образцов магнитотвердых материалов за счет введения коррекции на ненулевое магнитное сопротивление магнитной системы, в которой проводятся измерения,ф ормул аи зоб рете н и я Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов, включающий перемагничивание магнитной системы с испытуемым постоянным магнитом по предельной петле гистерезиса, измерение магнитной индукции, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что с целью повышения точности способа, предварительно замыкают полюса магнитной системы, перемагничивают магнитную систему без испытуемого постоян1732306 10 Составитель В.МудрицкиТехред М.Моргентал едактор А.Козориз ектор Т.Пал аказ 1582 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 10 ного магнита по предельной петле гистерезиса, определяют зависимость падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы от магнитной индукции, а после перемагничивания магнитной системы с испытуемым постоянным магнитом по предельной петле гистерезиса определяют зависимость магнитодвижущей силы от магнитной индукции, затем для каждой точки предельной петли гистерезиса постоянного магнита определяют координаты из следующих соотношений: Н =(Рм - Ом ) 1 оМ=(Ом - Рм ) 1 о "+К Ви ро где Н; - напряженность приложенного к постоянному магниту магнитного поля; М 1 - намагниченность постоянного магнита;Ом - величина падения магнитногонапряжения между полюсами магнитной 5 системы;Ем - величина магнитодвижущей силы; Вы - измеренное значение магнитнойиндукции;1 о - длина испытуемого постоя нного 10 магнита;,и, - магнитная постоянная;Яи-- конструктивная постоянная Яомагнитной системы;15 Яо-площадь сечения испытуемого образца;Я, - площадь измерительного зазорамагнитной системы,