Система для автоматической регистрации дефектов

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик 1 и 926593(22) Заявлено 08, 08. 80 (21) 2972927/25-28с прнсоединениеи заявки,%(23) Приоритет(51)М. Кл. С 01 й 29/011 Гооударстееииый комитет по делаи изобретений и открытийОпубликовано 07. 05. 82, Б 1 оллетень Юе 17(53) УД 9620.179 .16(088.8) Дата опубликования описания 07.05,82 В.Э. Дрейзин, С.А. Якиревич, В.А. Кудинов, А П. Жмакий-, =-В.В. Горский, С,В. Веремеенко иА.С. Демче очКурский политехнический институт и Всесоюзныи научноисследовательский институт по разработке неразрушающих . методов и средств контроля качества материалаЯишиневдкогопроизводственного объединения "Волна"(54) СИСТЕМА ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОЙ РЕГИСТРАЦИИ ДЕФЕКТОВИзобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при автоматическом контроле изделий.Известно устройство для регистрации эхо-сигналов от, дефекта, содержащее блок формирования напряжения смещения пера, блок синхронизации и самопишущий прибор 1.Недостатком известного устройства является низкая производительность контроля, поскольку диаграмма на ленте расшифровывается "вручную".Наиболее близкая к предлагаемой по технической сущности и достигаемому результату система для автоматической регистрации дефектов содержит последовательно соединенные синхронизатор второй выход которого предназначен для подключения к входу дефектоскопа, и измерительный блок, второй вход которого предназначен для подключения к выходу дефектоскопа, датчик координат, вход которого предназначен для подключения к выходусканирующего устройства, и устрой"ство вывода 23.Недостатком известного устройстваявляется низкая производительностьконтроля, поскольку время контроляограничивается быстродействием печатающего устройства в устройстве выводаЦель изобретения - повышение про 1 Оизводительности контроля,Поставленная цель достигаетсятем, что система для автоматическойрегистрации дефектов, содержащая пос"ледовательно соединенные синхрони 15затор, второй выход которого предназначен для подключения к входудефектоскопа, и измерительный блок,второй вход которого предназначендля подключения к выходу дефектоскопа, датчик координат, вход которого предназначен для подключенияк выходу сканирующего устройства,и устройство вывода, снабжена пос 3ледовательно соединенными вторым, дат.чиком координат, входом соединенным1,с входом первого датчика координат,блоком интерфейса, микропроцессором и запоминающим устройством, выход которого соединен с вторым входом микропроцессора, второй выход которого подключен к второму входублока интерфейса, второй выход последнего соединен с входом устройствавывода, а третий и четвертый входыс выходами первого датчика координат и измерительного блока.На чертеже представлена блок-схема предлагаемой системы.Система для автоматической регистрации дефектов содержит последовательно соединенные синхронизатор 1,второй выход которого предназначендля подключения к входу дефектоскопа, и измерительный блок 2, второйвход которого предназначен для подключения к выходу дефектоскопа, дат:чик 3 координат, вход которого предназначен для подключения к выходусканирующего устройства, и устройство 4 вывода, а также последовательносоединенные второй датчик 5 координат, входом соединенный с входомпервого датчика 3 координат, блок бинтерфейса, микропроцессор 7 и запоминающее устройство 8, выход которогоподключен к второму входу блока 6интерфейса, второй выход последнегосоединен с входом устройства 4 вывода, а третий и четвертый входы - свыходами первого датчика 3 координати измерительного блока 2. Устройство4 вывода может быть выполнено в виде алфавитно"цифрового печатающего40устройства,Система работает следующим образом,На входы первого 3 и второго 5 датчиков координат поступают импульсыс выхода сканирующего устройства (непоказан), которые преобразуются пос 45ледними в, текущие координаты преобразователя при его движении по контролируемому изделию в цифровой форме сдискретностью ду по координате поперечного перемещения и с дискретностью.Ь х по координате продольного.синхронизатор 1 запускает генераторзондирующего импульса в дефектоскопе (не показан) и измерительныйблок 2.55При прохождении преобразователянад дефектом на вход измерительногоблока 2 с выхода дефектоскопа посфтупает информация об амплиъуде эхосигнала и глубине залегания дефекта.Эта информация в нем преобразуется,в циФровую форму и подвергаетсяпервичной обработке с целью получения координат начала максимальногозначения и конца пачки эхо-импульсов. Полученная информация сохраняется в памяти измерительного блокаи по запросу микропроцессора 7 черезблок 6 интерФейса поступает в запоминающее устройство 8. В запоминающем устройстве 8 весь объем памятираспределяется на несколько массивов, отводимых для принимаемых эхосигналов от нескольких дефектов. Приповторном появлении пачки зхо-сигналов микропроцессор 7 осуществляетвторичную обработку, отождествляяновую информацию с параметрами эхосигналов, записанных ранее в запоминающее устройство 8, Информация обэхо-сигнале, полученная на разныхсканированиях, отождествляется какхарактеристика одного дефекта, еслиона получена на. соседних шагах сканирования, а отрезки координат пересекаются,Таким образом, размеры дефекта вдвухмерном пространстве определяютсясовокупностью координат поверхности изделия, относящихся к данномудефекту, Например, для продольноориентированного дефекта размеры дефекта в относительных единицах определяются количеством относящихся кнему эхо-сигналов, обнаруживаемыхпри продольном движении, и разностьюкоординат у максимального значенияпервого и последнего сигналов, Вторичная обработка информации о дефекте оканчивается Формированием перечисленных выше данных, После этогомикропроцессор 7 через блок б интерФейса заносит информацию в устройство 4 вывода, которое осуществляетпечатание на бумаге размера по двумкоординатам дефекта, а также координаты начала дефекта, координаты,глубину и амплитуду первого, последнего и максимального эхо-сигналов,При приеме информации, котораяне отождествляется ни с одним изимеющихся дефектов, ей отводится свободный массив памяти, и последующаяобработка ведется с учетом вновь обнаруженного дефекта. Процесс вторичной обработки информации о каждомдефекте и вывода результатов являет5 92659ся асинхронным и позволяет, не снижая темпа обработки, по мере ее завершения производить регистрацию результатов. При одновременном завершении обработки информации о двухдефектах микропроцессор 7 осуществляет поочередную регистрацию результатов обработки,Таким вбраэом, в предлагаемойсистеме регистрация результатов не " 1 овлияет на скорость сканирования,которая в сочетании с наглядностьюпредставления результатов обработкиобеспечивает высокую производитель"ность ультразвукового контроля иэ" 15делий. Формула изобретения Система для автоматической регистрации дефектов, содержащая последовательно соединенные синхронизатор, второй выход которого предназначен для подключения к входу дефектоскопа, М и измерительный блок, второй вход которого предназначен для подключения к выходу дефектоскопа, датчик координат, вход которого предназначен дляподключения к выходу сканирующегоустройства, и устройство вывода,о т л и ч а ю щ а я с я тем, что,с целью повышения производительностиконтроля, она снабжена последовательно соединенными вторым датчиком ко"ординат, входом соединенным с входомпервого датчика координат, блокоминтерфейса, микропроцессором,и запоминающим устройством, выход которого соединен с вторым входом микропроцессора, второй выход которого подключен к второму входу блока интерфейса, второй выход последнего соединен с входом устройства вывода, атретий и четвертый входы - с выходами первого датчика координат и измерительного блока.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРИ 697918, кл, 6 01 М 29/ОЙ 1978.2. Залесский В,В. и др. Системацифровой регистрации результатовультразвуковой дефектоскопии.-ндв"фектоскопия", 1977, У 3, с. 125 ь(прототип).926593 ицрующего Я Жщ ай афюу Составитель О. Базилевиктор А. Лежнина Техред Е. Харитончик,ктор О. Би Подписно,д / л. Проектная,лиал ППП "Пате г. Ужг 297 б/38 ВНИИПИ Го по дел 113035, МосТираж 883ударственного комитета СССм изобретений и открытийва, Ж, Раушская наб