Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок

Союз Советски кСоциапистическикРеспубпии 1744283 Ф /(51)М. Кл. Н 01 7 31/60 с присоединением заявкиГосударственный комитет СССР(53) УДК 621,385,Опубликовано 30.06,80, Бюллетень24Дата опубликования описания 02.07.80 но делам нэооретеннй н открытий(54) УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ ПЕРЕХОДНЫХ ПРОЦЕССОВ В СИСТЕМАХУПРАВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫМИ ПУЧКАМИ ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБОК1Изобретение относится к .области измерительной техники и может быть использовано при исследовании процессовотклонения и фокусировки электронныхпучков,Известна установка рля исследованиясистем фокусировки и отклонения электронных пучков электроннолучевых трубок(ЭЛТ), работа которых основана на иоследовании характеристик изображения,формируемого на экранах электроннолучевых трубок, связа 1 тных с исследуемымисистемами фокусировки и отклонения 1.Установка позволяет оценить качествофокусировки электронного пучка ЭЛТ поразрешающей способности изображенияформируемого на экранах ЭЛТ, определяемой методом штрихового растра. Установка содержит ЭЛТ с исследуемой фокусирующей и отклоняющей системами, маскирующий экран, установленный перед экраном ЭЛТ, объектив, установленный эа мао;кирующим экраном, теневую маску, установленную эа объективом, фотоумножитель,2установленный за теневой маской и связанный оптически через теневую масхуи объектив с экраном ЭЛТ, схему питанияфотоумножителя, генератор развертки, связанный с отклоняющей системой и осцил5 лограф, связанный с фотоумножителем.Генератор развертки обеспечивает периодическое вычерчивание лучом ЭЛТ отърезка прямой линии, Изображение перемещающегося светового пятна при помощиобъектива проецируется на теневую маску.Теневая маска модулирует световой поток, который затем попадает на фотоум-,ножитель. Электрический сигнал, формируемый на выходе фотоумножителя, обеспечивает формирование на экране осциллографа модулированных импульсов, Качествофокусировки оценивается по глубине мо-.дуляции,ЮУстайовка имеет недостатки, заключающиеся, во-первых, в невозможности одределения времени переходных процессов висследуемых фокусирующих системах и,44783 фУстановка содержит генератор 1 управляющих импульсов, регулируемые источники 2, 3, 4, 5 и 6 напряжения, ключи 7, 8, 9, 10 и 11, усилители 12, 13, 14, 15 и 16, переключатели 17, 18, 19, 20 и 21, источник 22 тока статической фокусировки, регулируемый элемент 23 задержки, формирователь 24 импульсов под света 24, шину 25 запирающего потенцйала, шину 26 отпирающего потенциала, мик роскоп 27 с механизмом 28 перемещения, электроннолучевую трубку 29, а также иоследуемую фокусирующе-отклоняющую систему, состоящую из блока 30 отклонения, блока 31 статической фокусировки, катуш ки 32 динамической фокусировки, катуш-ки 33 и 34 коррекции астигматизма оч клоненна 7 во-Вч ".алых, в невозможности исследования цепей отклонения.Известна установка для измерений длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок, содержащая электроннолучевую трубку, исследуемую фокусирующе-отклоняющую систему, состоящую из блоков отклонения и статическойфокусировки, а также блока коррекции ио,кажений размеров и формы пятна, возникающих при отклонении электронного пучка, включающего блок динамической фокусировки, содержащая также источникэлектропитания блока статической фокусировки, связанный с блоком статическойфокусировки, усилители, связанные с выводами блоха отклонения и блока коррекции искажений размеров формы пятна, фор. мирователь импульсов подсвета, связанныйс электроннолучевой трубкой, и микроскоп,установленные перед экраном электроннолучевой трубки и генератор управляющихщмпульсов 23;Недостатком установки является низкаяточность измерений. Это вызвано необходимостью поиска нолем зрения микроскопа точки пересечения линий прямого и обратного хода луча, а также подсчета числа меток времени на отображаемой линии,часть из которых закрыта корпусом микроскопа, Кроме того, эта установка не позволяет выполнить измерения длительностипереходных процессов в цепях динамической фокусировки и коррекции астигматиэма отклонения,Цель. изобретения - повышение точности измерений и расширение функциональных воэможностей.Цель достигается тем, что установкасодержит реГулируемый элемент задержки,установленный между выходом генераторауправляющих импульсов и входом формирователя импульсов подсвета, шины отпирающего и запирающего потенциалов и регулируемый источник напряжения, ключ и переключатель, установленные в исследуемыхцепях, причем входные контакты каждогопереключателя соединены с выходом генератора управляющщ импульсов и шинамизапирающего и отпирающего потенциалов,а выходная клемма каждого переключателя соединеиа с управляющим входом соот,.ветствующего ключа, другой вход которогосоединен с регулируемым источником на,пряжения, а выходом - со входом соответствующего усилителя;:На чертеже представлена структурнаясхема установки,Подготовка установки к измерениям про-,изводится следующим образом.Переключателями 17 и 18 подсоединяют входы ключей 7-11 к шине 25 запирающего потенциала. Ключи 7-11 при этомзакрываются и в блоке отклонения 30,катушках 32 динамической фокусировкии коррекции астигматизма отклонения 33и 34 ток не протекает, Регулировкой источника 22 тока статической фокусировкифокусируют луч Отпирание электроннолучевой трубки производится импульсамиподсвета, формируемыми формирователем24, синхронизированным генератором 1импульсов напряжения прямоугольной формы, Затем производят регулировку установки в статическом режиме, Для этогопереключателямй 17-21 производят подключениее входов ключей 7-11 к шине 26отпирающего потенциала, Ключи открыва ются и входы усилителей 12-16 подвцочаются к выходам регулируемых источников 2-6 напряжения, Ток на выходе усилителей определяется уровнем напряженияна их входах. Регулировкой напряженииисточников 12 и 13 устанавливают требуемое положение светового пятна на экране электроннолучевой трубки, а регулировкой напряжения источников 14-16 обеопечивают фокусировку луча и коррекциюастигматизма отклонения, Наблюдение заформой и положением пятна осуществляеъ.ся при помощи микроскопа 27, устанавливаемого в требуемое положение механизмом 28 перемещении. Дальнейшие опе РЗЦИЙ ЭаВИСЯт От тОГО Кахаи ЦЕПЬ ИССЛЕфедуется. При определении длительности пржодных процессов отклонении переключателями 17 и 18 подвпочают входы впо744783 6намической фокусировки и коррекции аотигматиэма отклонения. 5атом усилители 12 и 13 начинают формировать в катушках отклоняющей системы 30 импульсы тока, амплитуда которых определена предварительной регулировкой источников 2 и 3 напряжения, Луч5 при этом периодически отклоняется. Как указывалось выше, отпирание электронно,лучевой трубки осуществляется импульсами прямоугольной формы. Длительностьэтих импульсов устанавливается приблизительно в 50 100 раэ меньшей ожидаемой длительности переходного процесса. При отсутствии задержки положение. светового пятна соответствует началу переходного Процесса отклонения. При увеличении задержки пятно перемещается по направлению к положению, установленному регулировкой источников напряжения 2 и 3 в статичеоком режиме. Увеличивая задержку элемента 23, находят ее значение, при котором пятно с заданной точностью занимает в поле зрения микроскопа положение, установленное регулировкой в статическом режиме, Увеличивают задержку далее, проверяя, не увеличивается ли отклонение пятна от заданного положения. В том случае, если отклонение не увеличивается, уменьшают задержку до значения, при котором пятно еще остается в заданном положении и считывают показания указателя величины задержки, вносимой элементом 23 задержки, Длительность переходного процесса отклонения принимают равной величине задержки. При определении длительности переход 35 ного процесса в цепи динамической фокусировки к генератору 1 подключают не ключи 7 и 8, а ключ 9 и; увеличивая за держку, добиваются того, что размеры пяъ на достигают значения, установленного регулировкой в статическом режиме и не увеличиваются при дальнейшем увеличении задержки, Аналогичным образом устанавливают длительность переходных процессов45 в цепях коррекции астигматизма отялонения, При комплексных проверках длитель-, ности переходных процессов производят подключение к генератору 1 ключей 9, 10 и 11 или всех ключей в зависимости от целей, преследуемых той или иной нроверкой. Применение изобретения позволяет со кратить время проверок в 3-5 раз при высокой точности измерений, Установка обес- печивает возможность измерения длительности переходных процессов не только в отклоняющей системе, но и в системах диформ ула изобретения Установка для измерения длительностипереходных процессов в системах управления электронными пучками алектроннлучевых трубок, содержащая элекчэоннолучевую трубку, исследуемую фокусирующеотклоняющую систему, состоящую иэ блоков отклонения и статической фокусировки, а также блока коррекции иекаженийразмеров и формы пятна, возникающих приотклонении электронного пучка, включающего блок динамической фокусировки, содержащая также источник алектропитанияблока статической фокусировки, связанныйс блоком статической фокусировки, усилители, связанные с выводами блока отклонения и блока коррекции искажений размеров формы пятна, формирователь импульсов подсвета, связанный с электроннолучевой трубкой, и микроскоп, установленныеперед экраном электроннолучевой трубкии генератор управляющих импульсов,о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с це.лью повышения точности измерения и расширения функциональных возможностей,содержит регулируемый алемент задержки,установленный между выходом генераторауправляющих импульсов и входом формирователя импульсов подсвета, шивы запирающего и отпирающего потенциалов, переключатель, регулируемый источник напряжения,и ключ, установленные в исследуемых цепях, причем входные клеммы каждого переключателя соединены с выходом генератора управляющих импульсов и шинами очпирающего и запирающего потенциалов, выходная клемма каждого переключателя соединена с управляющим входом соответствующего ключа, соединенного вторым входом с регулируемым источником напряжения, а выходом - со входом соответствующего усилителя,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Миллер В, А Куракин Л. А. 1 риемные алектроннолучевые чрубки, М.,Энергии, 1971, с, 121-123.2. Горелов А, АОвчинников Е, К,О переходных процессах дискретного отклонення светового пятна высокоточного телевизионного датчика. Вопросы радиоэлектроники", серия "Техника телевидения,1970, вып. 3, с, 53-58 (прототип),Составител Техред О дактор И, Нанкин М Выгула Тираж 84 боетений и 35, Раушс 4 , Подписноеомитета СССРткрытийкак наб., д, 4/5 илиап ППП фПатентф, г. Ужгорор, ул. Проектн ю 3827119 ЦНИИПИ Государс по делам изо 113035, Москва, Ж