Способ моделирования полос поглощения с заданными параметрами для поверки фотометрических анализаторов

(22) Заявлено 10.08.77 (21) 2515780/18-2 с присоединением заявки М 2518416/18-25 1)М ЯО 1/4 осудерстееииый комете СССР ио делам изооретеиий и открытий(54) СПОСОБ МОДЕЛИРОВАНИЯ ПОЛОС ПОГЛО 1 ЦЕНИЯ С ЗАДАННБ(МИ ПАРАМЕТРАМИ ДЛЯ ПОВЕРКИ ФОТОМЕТРИЧЕСКИХ АНАЛИЗАТОРОВ Изобретение относится ксорбционного спектральноготочнее к метрологическомупромышленных фотометрич есИзвестен способ моделирования по поглоецения для поверкианализаторов, заключаюизлучение пропускают чразпы 1. облас ти аб анализа, аобеспечениюкиханализа фо том етрич ескихшийся в том,чтоерез эталонные об-,дание ано с и, Кроех случаях со Однако в некоторь и хранение подобных большими технически ме того они рассчит лизаторов в одной то реп ий. Н аиболобретения - обе полос поглошени ение мо широком эталонов связ ми трудностям ны на поверкучке диапазона ана 1измеформируют екото ры еи прошедричем филь ти спектра ескойяет-олосЮ по своей техничизобретению явлмоделированияеыми параметрам:ких анализаторочто излучение ит через узкопол ее близким анном сти поверки полни тельно ный опткчес с зйдаеее тометричес;я в том, 11 ропуск аю то сущности к ся известнь поглощения поверки фо ключ евший ника света Г. Ш. Батыршин и Л, А, Кирюхин ный оптический фильтр с заданной полосой поглощения2,Однако реализация этого способа связана с подбором веществ, имеющих полосы поглощения аналогичные полосам анализируемого вещества в рабочей области спектра.Кроме того реализация способов для поверки анализатора по всему диапазону требует создания большого числа специальных фильтров. спектральном диапазоне.,Пля достижения этой цел световой поток, содержащий части отраженного от фильт щего через него излучения, не поглошает в рабочей облС целью повышения точи сформированное излучение до пропускают через нерезонанз 6931На фиг. 1 представлен вид коэффициента пропускания узкополосного фильтра, афиг. 2 - вид коэффициента отражения отнего; на фиг. 3 изображена зависимостьэффективного коэффициента отражения, соответсвующего распределению по спектруинтенсивности света в сформированномсветовом потоке. Интенсивность света,прошедщего через дополнительный фильтр,представлена на фиг, 4 ( Т ), На фиг, 5 10представлено поворотное устройство, в котором реализован предложенный способ моделирования полос поглощения,Поверочное устройство содержит непо-глошаюший узкополосный фильтр 1, переменный ослабитель 2 и отражаюцую поверхность 3, источник света 4, поворотное зеркало 5, собирающее зеркало 6 ифотоприемник 7.В качестве примера рассмотрим реалиОзацию способа для поверки отражательного анализатора влажности типа фЛоакоп".Моделирование заданной полось поглощения происходит следующим образом. Из 25лучение от источника света 4 отражаетсязеркалом 5 и попадает на фильтр 1.Частьего ( Т ) (фиг. 1), пройдя черезфильтр 1, ослабляется ослабителем 2 скоэффициентом пропускания К до величины К Т (А) и попадает на фотоприемникзо7. Отраженное от фильтра 1 излучение1 - Т (А)1 (фиг. 2), отразившись отзеркала 6 с коэффициентом отражения К,тоже собирается на фотоприемнике 7, при35этом его интенсивность будетК 1 - Т(ЛЦ,Результирующее излучение на фотоприем 22 4нике будет пропорционально Тэцхв- К Ч(Л) + К 1 -Т (Л)1 1 фиг ),Для учета зависимости фона от длиныволны излучение пропускают дополнительно через .нерезонансный опТический фильтр(на фиг. 5 не показан).Предложенный способ позволяет просто и эффективно осушествить поверку фотометрических анализаторов по всему диапазону измерений, Особенный интерес онпредставляет для поверки трехволновыхфотометров, для которых в настоящее время не разработано способов поверки заисключением использования первичных ивторичных эталонов.Формула изобретенияСпособ моделирования полос поглоц 1 ения с заданными параметрами для поверки фотометрических анализаторов, заключающийся в том, что излучение источникасвета пропускают через узкополосный оптический фильтр, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью обеспечения моделирования полос поглощения в широкомспектральном диапазоне, формируют световой поток, содержаций части отраженногоот непоглошаюшего в рабочей части спектра фильтра и прошедщего через него излучения, затем пропускают через дополнительный нерезонансный оптический фильтр,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Прикладная ИК-спектроскопия, Подред. Кендалля, М"Мир", 1970, с. 226.2, Патент США3922095,кл. 356-225, опублик. 1973, (прототип).Составитель Л. ТитоваВеселовская Техред,с, Мигай Корректор Н. Сте6 ед 6 коми и открьРаушска д. 1/5 аказ 6063/10 Тираж 7 1 Б ИИПИ Государственно по делам изобретений 113035, Москва, Ж-З 5, Подписноеа СССРй