Прибор для определения микротвердости материалов при высоких температурахг. г«; и-1лнй-п: онаbhbjihote-ca

349928 Союз Советских Свцналистнчвскнх РеспубликОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИяК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства-Заявлено 13.Ч.1967 (Уе 1163531/25-28)с присоединением заявки-Приоритет -Опубликовано 04,Х,1972. Бюллетень26Дата опубликования описания 28.Х.1972 М. Кл. 6 01 п 3/54 Комнтет по делам кзобретеннй н открытий орн Совете Министров СССРАвторы изобретения Г, И. Погодин-Алексеев, В. С. Миротворский и А. Я. Никифоров Особое конструкторско-технологическое бюро Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Минигл,ров СССР" -СОЮЗНАЖ 11-1 .Дь т- ДПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ МАТЕРИАЛОВ ПРИ ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ Прибор относится к области механических испытаний материалов при высоких температурах и может найти применение в точном машиностроении.Известен прибор для определения микро- твердости материалов при высоких температурах, содержащий вакуумную камеру, стол, установленный внутри вакуумной камеры, рычажный механизм нагружения с индентором, привод перемещения индентора, микроскоп и нагревательное устройство,Предлагаемый прибор для повышения точности при измерении твердости в любой выбранной на образце точке снажен дополнительным микроскопом, установленным на камере с возможностью наблюдения за внедрением индентора, ползушкой с направляющими для стола, рейкой, закрепленной на столе, приводом перемещения стола, включающим два коаксиально установленных валика с лимбами, внутренний из которых жестко закреплен в ползушке и сопряжен с лимбом через резьбовое соединение, а внешний - жестко соединен с другим лимбом и через шестерню связан с рейкой стола.На фиг. 1, 2 дан предлагаемый прибор, продольный и поперечный разрезы; на фиг. 3 - механизм координатного перемещения образца; на фиг. 4 - механизм нанесения отпечатков. Прибор состоит из вакуумной камеры 1 скрышкой 2. В корпусе камеры размещены механизм координатного перемещения образца и механизм нанесения отпечатков. На крышке 5 камеры крепятся микроскоп 3, служащий длявыбора места испытания на поверхности образца и измерения отпечатков, и увеличивающее оптическое устройство 4, обеспечивающее контроль за работой механизма нанесения от печатков.Механизм перемещения образца во взаимноперпендикулярных направлениях состоит из стола б с рейкой б, ползушки 7 и основания 8.15 На столе установлена стойка 9, к которойгайкой 11 крепится испытываемый образец 10, Нагрев образца осуществляется нагревателем 12. Управление перемещением координатного столика расположено вне вакуумной ка меры и осуществляется лимбами 13 и 14. Навалике 15 жестко закреплены лимб 13 и шестерня 1 б, находящаяся в зацеплении с рейкой б. Валик 17 с одной стороны жестко закреплен в ползушке 7, а на другой его сторо не на резьбе установлен лимб 14.Механизм нанесения отпечатков состоит изиндентора 18, закрепленного в направляющей 19. Направляющая шарнирно соединена с рычагом 20, один конец которого опирается на з 0 нож 21, шарнирно соединенный с кронштей3ном 22, а на другом конце рычага подвешивается груз 28. Подъем и опускание индентора осуществляется штоком 24, опирающимся на кулачок 25 исполнительного механизма 2 б. .Микровыключатели 27 и 28 служат для включения и выключения исполнительного меха.низма,Прибор работает следующим образом, Под микроскопом с помощью лимбов 18 и 14 находят интересующую точку на образце, При повороте лимба 18 стол перемещается перпендикулярно к оси валика 15. При повороте лимба 4 валик 17 перемещает ползушку с установленным на ней столом вдоль своей оси. При повороте лимба 18 на 360 стол перемещается от микроскопа к индентору. Включением кнопки пуск (не показана) кулачок 25, сидящий на выходном валу исполнительного механизма ПР, поворачивается и опускает шток 24. При этом рычаг 20 опускается, и индентор 18 вдавливается в образец.Скорость опускания индентора может меняться в пределах от 0,01 до 0,15 ила/сек. Далее микровыключатель 27 включает реле времени РВЧ, и исполнительный механизм останавливается. Длительность вдавливания индентора может поддерживаться в пределах 8 - 240 сек. После заданной выдержки образца под нагрузкой срабатывает реле времени и включает исполнительный механизм, кото 4рый поднимает индентор в исходное положение, а микровыключатель 28 останавливает исполнительный механизм. Таким образом, процесс нанесения отпечатка индентора на Б образце автоматизирован.Далее при повороте лимба 18 на 360 отпечаток попадает в фокус микроскопа, с помощью которого измеряют твердость и микротвердость обр азца.Предмет изобретенияПрибор для определения микротвердостиматериалов при высоких температурах, содержащий вакуумную камеру, стол, установлен Б ный внутри вакуумной камеры, рычажныймеханизм нагружения с индентором, привод перемещения индентора, микроскоп и нагревательное устройство, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности при измерении 2 О твердости в любой выбранной на образце точке, он снабжен увеличивающим оптическим устройством, установленным на камере с возможностью наблюдения за внедрением индентора, ползушкой с направляющими для 2 Б стола, рейкой, закрепленной на столе, приводом перемещения стола, включающим два коаксиально установленных валика с лимбами, внутренний из которых жестко закреплен в ползушке и сопряжен с лимбом через резь- зО бовое соединение, а внешний жестко соединенс другим лимбам и через шестерню связан с рейкой стола.ипография24 вполиграфпрома, Москва, Г, ул, Маркса - Энгельса, 14 каз 6НИИП Изд, ЛЪ 1199 Тираж 406 итета по делам изобретений и открытий при Совете Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5