Устройство для измерения магнитных параметров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
1525642 Выбор конкретного расположениякатушек 1 и 2 относительно плоскостиА-А, их размеров, формы, а также местоположения изделий 4 и 5 внутри ка- .тушек 1 и 2 производят исходя из ти 5поразмера и формы изделий, предназначенных для контроля. Конструкциянамагничивающей системы, включающейдержатель 3 и катушки 1 и 2 выполняется, как правило, неизменной для изделий близкой формы и типоразмера .Гнезда под изделия 4 и 5 в держателе3 в этом случае выполняются подстраиваемыми либо изготавливают несколько 15сменных держателей 3. Размеры, формаи намоточные данные катушек 1 и 2 также определяются, исходя из необходимости создания намагничивающего магнитного поля определенной величины. Две 20катушки 1 и 2 могут быть выполненыв виде одной, расположенной симметрично относительно плоскости А-А исоздающей одинаковые условия намагничивания для изделий 4 и 5 25Для мелких изделий 4 и 5 несложнойформы катушки 1 и 2 располагают подуглом 90 к плоскости А-А. Выполнение,измерителя б магнитного поля в видеполуэлементов 7 и 8, соединенных гра- Зодиентометрически и расположенных симметрично относительно оси катушек,позволяет исключить влияние нестабильности положения изделия при установкев гнездо дердателя 3, поскольку из-занеизменности условий намагничиваниявеличина градиента, измеренная измерителем б магнитного поля, не изменяется.Для дифференциального магнитного 40устройства, нечувствительного к положению изделий 4 и 5, измерителями би 9 магнитного поля регистрируютсяортогональные проекции вектора градиента разностного поля рассеяния отизделий 4 и 5. В аппаратной частипроизводится вычисление корня квадратного из суммы квадратов величин сигналов с измерителей 6 и 9 магнитногополя, что соответствует величине раз Оностного поля рассеяния от изделий 4и 5 в плоскости А-А,6Использование предлагаемого устройства позволяет для широкого ряда типоразмеров изделий различной формы с высокой разрешающей способностью производить контроль Физико-механических свойств, коррелирующих с магнитными параметрами изделий. Например, по величине разностного магнитного поля рассеяния при максимальном намагничивающем поле можно судить о пористости (плотности), а по величине поля рассеяния, измеренной после снятия намагничивающего поля, - о содержании углерода для изделий порошковой металлургии. Кроме того, по сравнению с устройством-прототипом конструкция предлагаемого устройства значительно упрощена, что позволяет исключить операции настройки плеч дифференциального преобразователя. Формула и зобретения 1. Устройство для измерения магнитных параметров, содержащее намагничивающие катушки, включенные последовательно и согласно, и измеритель магнитного поля, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью повышения достоверности и расширения номенклатуры контролируемых изделий, в него введендержатель, расположенный внутри катушек, расположенных в одной плоскости,в плоскости взаимной симметрии катушек расположен измеритель магнитногополя, а в держателе выполнены симметричные гнезда.2. Устройство по п.1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что катушкирасположены соосно, а измеритель магнитного поля выполнен из двух полуэлементов, включенных градиентометри"чески, расположенных симметрично относительно оси катушек,3. Устройство по пп, 1 и 2, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что оноснабжено дополнительно вторым измерителем магнитного поля, расположенныхсимметрично относительно оси катушекперпендикулярно оси первого измерителя магнитного поля.Составитель А.СазоновРедактор А.Ревин Техред А.Кравчук Корректор Н,Короле иЗаказ 7221/12 Тираж 711 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва Ж, Раушская наб., д. М/54Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина,
СмотретьЗаявка
4291961, 21.07.1987
ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ СО СПЕЦИАЛЬНЫМ КОНСТРУКТОРСКИМ БЮРО И ОПЫТНЫМ ПРОИЗВОДСТВОМ УРАЛЬСКОГО ОТДЕЛЕНИЯ АН СССР
ФИЛИППОВ АНДРЕЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, ГОРКУНОВ ЭДУАРД СТЕПАНОВИЧ, КУЗЬМИНЫХ ВЯЧЕСЛАВ ПАВЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, параметров
Опубликовано: 30.11.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1525642-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-magnitnykh-parametrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения магнитных параметров</a>
Предыдущий патент: Способ неразрушающего контроля качества анизотропной холоднокатаной электротехнической стали
Следующий патент: Устройство для измерения коэрцитивной силы движущихся ферромагнитных материалов
Случайный патент: Устройство для измерения искажений плоской вершины периодических импульсов