Устройство для температурных испытаний изделий электронной техники
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 9) (И ГОСУДАРСТ 8 ЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ЕТЕЛЬСТВУ Н АВТОРСКОМУ(57) Изобре водству изд и может быт дения темпе моциклирова ние относится к произий электронной техники использовано для проветурных испытаний на тер е, термоудар или другое 17 1 Ц ие.1(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕМПЕРАТУРИСПЫТАНИЙ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙНИКИ(50 4 Н 05 К 3/00 С 01 М 1 периодическое воздействие тепла ихолода. Цель изобретения - расширениеэксплуатационных возможностей и повьппение производительности испытаний.Устройство содержит рабочие камеры(РК) 2, 5 и 6, соединенные каналами,в которых установлены заслонки 25-28,В РК 5 и 6 установлены вентиляторы7 и 8, источники 9 и 1 О тепла, источники 11 и 12 холода и перегородки 17и 18, которые образуют нагнетательныеканалы 19 и 20 и всасывающие каналы21 и 22. В зависимости от положениязаслонок испытания могут проводитьсяв РК 2 и одной из РК 5 или 6, или одновременно в РК 5 и 6. 4 ил.Изобретение относится к производству иэделий электронной техники и может быть использовано для проведе ния температурных испытаний полупроводниковых приборов, а также других изделий на термоциклирование, териоудар или другое периодическое воздействие тепла и холода.Цель изобретения - расширение эксплуатационных возможностей и повышение производительности испытаний.На фиг. 1 изображена схема устройства; на фиг. 2 н 3 - примеры использования. устройства; на фиг. 4 -разрез А-А на фиг. 2,Устройство содержит термоизолированный корпус 1 с рабочей камерой 2, в которой размещен каркас 3 для испытуемых изделий 4, и с двумя дополнительными рабочими камерами 5 и 6, в которых установлены диаметральные вентиляторы 7 и 8, источники 9 и 10 тепла (нагреватели)(, источники 11 и 12 холода (аэотопроводы). Датчики 13-18 температуры установлены в камерах 2, 5 и 6, В рабочих камерах 5 и 6 установлены перегородки 17 и 18, которые образуют нагнетательные 19 и 20 и всасывающие 21 и 22 каналы вентиляторов 7 и 8, В камерах 5 и 6 могут быть установлены съемные элементы 23 и 24 в виде бруса из термостойкого пенопласта или коробчатой листовой конструкции. Камеры 5 и 6 соединены с камерой 2, каналами, в которых установлены поворотные заслонки 25-28. Между каркасом 3 и стенками камеры 2 имеются каналы 29 и 30. В каналах 39 и 20 камер 5 и 6 установлены жалюзи 31 и 32.Камеры 5 и 6 имеют крышки 33 и 34 и держатели 35 изделий 4.Устройство используется следующим образом. При проведении испытаний в камере2 изделия 4 размещают в каркасе 3,открывают заслонки 25 и 26 и эакрывают заслонки 27 и 28, а в камеру 5помещают элемент 23, При работе вен-.тилятора 7 создается циркулирующийвоздушный поток, воздействующий наиспытуемые иэделия. При этом в камере 6 могут быть размещены иэделия 4для проведения другого вида испытаний (фиг. 2). Возможно также использование одновременно двух камер 5 и6 для проведения различных видов испытаний. При этом заслонки 25-28 закрыты и камера 2 не используется(фиг. 3).Возможность использования рабочихкамер в различных сочетаниях позволяет повысить производительность испытаний и расширяет эксплуатационныевозможности устройства. Формула изобретения25Устройство для температурных испытаний изделий электронной техники,содержащее термоизолированный корпусс рабочей камерой, в котором размещены два вентилятора, соединенные каналами с рабочей камерой, источниктепла, холода и поворотные заслонки,установленные в каналах корпуса,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, 35с целью расширения эксплуатационныхвозможностей и повышения производительности испытаний, оно снабженодвумя дополнительными рабочими камерами с перегородками и дополнительными источником холода и,источникомтепла, причем вентилятор, источникхолода, источник тепла установлены вкаждой из дополнительных рабочих камер, а перегородки дополнительных 45 рабочих камер установлены с образованием нагнетательного и всасывающегоканалов вентиляторов.1517151 ставитель Г, Падучхред Л, Сердюкова н Редактор И. Шмакова рректор О. Кравцо Тираж 7 роиэводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, О Заказ б 403/ВНИИПИ Госу рственного комитета 113035, Москва,Подписноео изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР35, Раушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
4328606, 06.10.1987
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1298
РУМШЕВИЧ ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ, МИРОНОВ НИКОЛАЙ ПАВЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01M 19/00, H05K 13/00
Метки: испытаний, температурных, техники, электронной
Опубликовано: 23.10.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1517151-ustrojjstvo-dlya-temperaturnykh-ispytanijj-izdelijj-ehlektronnojj-tekhniki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для температурных испытаний изделий электронной техники</a>
Предыдущий патент: Радиоэлектронный блок
Следующий патент: Линия сборки преимущественно больших интегральных схем
Случайный патент: Устройство для ограничения перенапряжений на высоковольтном запираемом тиристорном вентиле