Способ определения физических параметров материалов

Номер патента: 1265565

Автор: Наливаев

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНЕРЕСПУБЛИН ж (111 1 01 Н 27/00 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ческихразова 983,ССР 198 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕП(56) Левшина Е.С., НовицкийЭлектрические измерения физвеличин. Измерительные преотели. Л.: Энергоатомиздатс 7-18.Авторское свидетельствоУ 853513, кл. С 01 Х 27/60,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ(57) Изобретение относится к област измерительной техники и может быть использовано для определения дизлек трической и магнитной проницаемостей и коэффициентов электро- и теплопроводности. Цель изобретения -Ю увеличение числа измеряемых парамет ров. У поверхности исследуемого материала размещают источник злектрического поля ИЭП) и измерительный зонд ИЗ), поддерживая постоянный потенциал. Совместно перемещая ИЭП и н ИЗ по нормали к поверхности материала, определяют экстремальный сиг." нал в цепи зонда, по величине которо. го определяют искомые параметры. В качестве задающего используют источ ник потенциального поля или поля, имеющего потенциальные области. Постоянную величину потенциала поддерживают в локальной точке области воз. деиствия поля, помещая в эту точку дополнительный задающий зонд, выполненный с возможностью перемещения совместно с ИЭП и ИЗ. Можно поддерФживатьпостоянными и измерять,соответствующими зондами составляющие градиентов или напряженностей полей вдоль выбранных направлений. ИЭП изонды могут перемещаться поступатель- Б но или по дугам окружностей относивюй тельно участка измеряемого материала.3 з.п. ф-лы. 3 ил. ЬРИзобретение относится к измерительной технике, предназначено для определения функциональных свойств материалов и может быть использовано в различных отраслях промьппленности.Целью изобретения является повышение информативности способа за счет расширения числа определяемых физических параметров и повьппение оперативности измерения.На фиг, 1 приведена функциональная схема устройства для реализации способа; на фиг. 2 - графики составляющей напряженности магнитного поля лИнейного тока как функции расстояния до исследуемого материала прн раэличИых значениях его магнитной проницаеости; на фиг. 3 - зависимости сигна- Ь измерительного зонда при перемещении первичного преобразователя от угла отклонения от нормали центральной оси преобразователя.Устройство для реализации способа содержит источник 1 поля, измерительный зонд 2, задающий зонд 3, поддерживающий с помощью генератора 4 постоянной характеристику используемого поля. Источник 1 поля и зонды 2 и 3 объединены в первичный преобразователь и располагаются у поверхности исследуемой среды 5. Б цепи,измерительного зонда 2 находятся усилитель 6 и измерительный прибор 7, Наличие задающего зонда 3 и усилителя 6 необязательно, если генератор 4 в состоянии сам поддерживать постоянный потенциал источника поля или вынесение точки постоянного потенциала эа пределы источника не повышает чувствительность к измеряемому парамет,ру, а прибор 7 достаточно чувствителен или сам имеет усилитель.1.П р и м е р. При определении магнитных свойств среды магнитной про, ницаемости) в качестве источника поля выбирают соленоид, внешнее поле полюса которого в его окресности близко к полю точечного полюса, или рамку с током, поле одной иэ сторон которой в ее окресности ,близко к полю линейного источника, а в качестве зондов рерут датчики Холла или миниатюрные катушки в случае периодических полей. Регулировкой генератора 4 задают величину сигнала, наводимого.источником 1 поля в цепи задающего ,зонда 3, имеющего отрицательную связь с генератором 4. При перемещении первичного преобразователя относительноисследуемого магнетика указанная величина сигнала. начинает изменятьсяпод воэдействиеминдуцируемого магнитного поля этого магнетика, Приращения этого сигнала воздействуют черезгенератор 4 на. величину тока в источнике поля, изменяя его в соответ 10 ствующую сторону до восстановлениязаданной величины сигнала в цепи зонда 3. Первичный преобразователь, содержащий источник 1 и зонды 2 и 3,подводится к поверхности исследуемой15 среды одинаковым для сравниваемыхсред образом, например по нормали илидуге окружности,В процессе перемещетЧния в цепи зонда 2 приборомизмеряется экстремальное значение сигнала.20 Измеряя значение, например, верти-кальной составляющей напряженностимагнитного поля Ни определяя ееэкстремальное значение при перемещении поступательного относительно по 25 верхности образца, определяют (послепредварительной градуировки) величину магнитной проницаемости ц исследуемого материала (фиг.2).1Для упрощения реализации возможноперемещение первичного преобразователя по дуге относительно поверхности,Ф о р м у л а и э о б р е т е н и я351. Способ определения физическихпараметров материалов, заключающийся в том, что у поверхности исследуемого материала помещают задающийисточник электрического поля, взаимодействующего с материалом, на котором поддерживается постоянный потенциал, 4 и измерительный зонд, регистрирующий результирующий потенциал,совместно перемещают источник и зондпо нормали к поверхности и определяют значение сигнала зонда, по величине которого судят о диэлектрической проницаемости материала, о т -л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения информативности способа за счет обеспечения возможности определения магнитной проницаемости, теплопроводности и электро проводности, в качестве задающегоиспользуют источник потенциальногополя или поля, имеющего потенциальные области, и измеряют экстремаль 1265565 4ное значение сигнала зонда, по величине которого судят об искомых параметрах. 2Способ по п.1, .о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью упроще-, ния измерения, постоянную величину потенциала поддерживают в локальной точке области воздействия поля, помещая в эту точку дополнительный задающий зонд, выполненный с возможностью перемещения совместно с источником поля и измерительным зон:дом е3, Способ по пп.1 и 2, о т л ич а ю щ и й с я тем, что поддержи вают постоянным и измеряют соответствующими зондами составляющие градиентов или напряженностей полей.4. Способ по пп.1-3, о т л и ч аю щ и й с я тем, что источник и зон О ды перемещают поступательно или подугам окружностей относительно участка исследуемого материала.1265565 Составитель Д, ГромовТехред И.Попович Корректор Л. Пилипенко Редактор В. Иванова Заказ 5652/36 Тираж 778 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий1 1 3035 р Москва у Ж 35 у Раушская набу д 4 /5 Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4

Смотреть

Заявка

3749122, 31.05.1984

НАЛИВАЕВ ВИКТОР ГРИГОРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/00

Метки: параметров, физических

Опубликовано: 23.10.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1265565-sposob-opredeleniya-fizicheskikh-parametrov-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения физических параметров материалов</a>

Похожие патенты