Устройство для измерения дифференциального коэффициента передачи тока транзисторов

О П И С А Н И Еи 938220ИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сфез Советски кСфцнапнстнчвскнкРвсиубпнк(23) Прнорнтет(5)М. Кл, С 01 К 31/26 9 вударспаллы 11 кемвтет СССР ле делам взеаретевий и, еткрытн 1(53) УДК 621.317,79(088,8) Дата опубликования описания 23.06.82.(4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗИЕРЕНИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО КОЭффИЦИЕНТА ПЕРЕДАЧИ ТОКА ТРАНЗИСТОРОВ 1Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в автоматизированных измери" телях малосигнальных параметров ма.- ломощных транзисторов.Известно устройство для измерения дифференциального коэффициента передачи тока транзисторов в схеме с .общим эмиттером Ь,1 д, содержащее ген нератор НЧ, источники напряжения,то. козадающие резисторы и два операционных усилителя 13Недостатком известного устройства является "обратная" нелинейная шкала измерителя, что уменьшает точность измерения,Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является устройство для измерения дифференциального коэффициента передачи тока транзисторов, содержащее источникпостоянного тока базы, разделительный конденсатор и токозадающий резистор базовой цепи, испытуемый 2транзистор, блок контроля постоянно-.го тока коллектора, источник коллекторного напряжения, токосьемный резистор цепи коллектора, разделительный конденсатор цепи коллектора,генератор НЧ, и индикатор 123.Недостатком известного устройства является изменение амплитуды низкочастотной составляющей тока коллектора в пределахдиапазона измерения, что вызываетдополнительные погрешности из-занелинейности усилительных и детектирующих устройств, входящих в составиндикатора.Цель изобретения - повышение точности измерения и расширение динамического диапазона,Указанная цель достигается тем,2 о что в устройство для измерения дифференциального коэффициента передачитока транзисторов, содержащее источник постоянного тока, выход которого соединен с клеммой для подклюце20 аказ 4455/70 Тираж 717 Подписно ВНИИ иал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектн 5 9382 чения и при соответствующей калибровке определяется путем. измерения данного периода.Для обеспечения высокой точности измерения необходимо, чтобы изменение з периода следования импульсов низкочастотной составляющей от периода к периоду была незначительной.Предлагаемое устройство позволяет повысить точность измеренияпо грешность измерения составляет +154) и расширить динамический диапазон измерения, так как обеспечивает прямую шкалу измерения при постоянной амплитуде низкочастотной 15 составляющей тока коллектора, а также повысить производительность труда за счет возможности автоматизации процесса измерения. формула изобретения Устройство для измерения дифференциального коэффициента передачи 25 тока транзисторов содержащее источник постоянного тока, выход которого соединен с клеммой для подключения базы испытуемого транзистора и с первым выходом токозадающего резис- Зо тора, второй выход которого соединен с первой обкладкой первого разделительного конденсатора клемму для подключения эмиттера, соединенного с общей шинойклемму для подключения коллектора, соединенную с входом блока контроля постоянного тока 20 6коллектораодной обкладкой второгоразделительного конденсатора и первым выводом токосъемного резистора,второй вывод которого подключен кисточнику коллекторного напряженияотличающееся тем чтос целью повышения точности измерения и расширения динамического диапазона, в него введены триггер, интегратор, модулятор, преобразователь напряжения в частоту, формирователь импульсов, компаратор и измеритель временного интервала, причемвыход триггера через последовательносоединенные интегратор и модуляторсоединен с второй обкладкой первогоразделительного. конденсатора, другойвыход интегратора через преобразователь напряжения - в частоту и Фор"мирователь импульсов соединен с,управляющим входом модулятора и первым входом измерителя временного ин-.тервала, второй вход которого соединен с входом триггера и выходом компаратора, вход которого подключен кдругой обкладке второго разделительного конденсатора,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1.Грэм , Измерение параметровтранзисторов с помощью схем на операционных усилителях.-"Электроника",1972, й 5, т, 45.2. Аронов В.Л. Федотов Я,А, Испы"тание и исследование полупроводни"ковых приборов. И. "Высшая школа",1975