Спектрофлуориметр

Союз СоееикмвСфцмвнистичв осикРвемубюе АВЯИеСКОМХ СВИДЕТЕЛЬСТВУ авт, свна-ву(6)П,ояоли (22)Заявлен 6.06,80 Р 1) 29(53 та опубликования описания 25.01.8,Г. Жбанков, Г.С. Бычковаи ИГ. Спицын 72) Авторы изобретения е дена Трудового Красного Знамени ин АН Белорусской ССР) СПЕКТРОФДУОРИМЕТ спектроможность. (флуоресх участко непрозрачигурации, гла между буждения у измеряет от образн Изобретение относится к спектральному приборостроению и может быть использовано в приборах для люминесцентного анализа.Известны спектрофлуориметры, содержащие источник излучения, оптические тракты для выделения длины волны излучения возбуждения и излучения флуоресценции при помощи дифракционной решетки и приемно-ре" гистрирующее устройствоНаиболее близким к предлагаемому по технической сущности является спектрофлуориметр, содержащий источик излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционной решетки, держатель исследуемого образца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения длины волны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки,. имеющей общую ось вращения с первой дифракционной решеткой 21. Недостатком указанного флуориметра является нево проведения люминесцентных центных) исследований мылы люминесцирующих пленок на ных подложках сложной кон что обусловлено наличием направлением излучения во и направлением, по которо ся излучение флуоресценци Цель изобретения - расширение области применения спектрофлуориметра.Поставленная цель достигается тем, что в спектрофлуориметре, содержащем расположенные по ходу луча источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционной решетки, держатель исследуемогообразца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения длины вол" ны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки,3 92252 имеющей общую ось вращения с первойдифракционной решеткой, оптические оси тракта для выделения длины волны излучения возбуждения и тракта для выделения длины волны излучения флуоресценции расположены таким образом, что угол дифракции для длины волны излучения возбуждения является одновременно углом падения излучения флуоресценции на первой дифрак ционной решетке.На чертеже представлена схема предлагаемого спектрофлуориметра.Спектрофлуориметр содержит источник 1 излучения, фокусирующую систе И му 2 тракта возбуждения, щель 3 вход ную тракта воздужцения, коллиматор-, ный объектив 4 тракта возбуждения, дифракционную решетку 5 (показан частный случай положения дифракцион- рв ных решеток при нулевом угле разворота друг относительно друга), камерный объектив 6 тракта возбуждения и коллиматорный объектив 6 тракта флуоресценции, выходную щель 7 трак з та возбуждения и входную щель 7 тракта флуоресценции, Фокусирующую систему тракта возбуждения и тракта флуоресценции 8,. исследуемую люминесцирующую пленку 9, непрозрачную подлож ф ку (образец) в держателе .10, отражающие грани углового зеркала 11 и 12, камерный объектив 13 тракта флуоресценции, выходную щель 14 тракта флуоресценции, приемнорегистрирующее устройство 15. Предлагаемый спектрофлуориметр работает следующим. образом.Излучение источника 1 через фокусирующую систему 2, входную щель 34 и коллиматорный объектив 4 направляется на дифракционную решетку 5 под углом падения ув, где дифрагируется. Излучение длины волны возбуждения под углом дифракции 9 з проходит.4 объектив 6, щель 7 и фокусируется системой на люминесцирующей пленке 9, которая находится в углублении непрозрачной подложки, закрепленной в держателе 10. Так как оптические оси фф тракта возбуждения и Флуоресценции совмещены, то излучение флуоресценции от пленки 9 через фокусирующую систему 8, щель 7 и объектив 6 направляется на дифракционную решетку 5 фф под углом падения 9 = т где дифрагируется. Дифрагированное излучение регистрируемой длины волны флуоресцен 9 4ции под углом дифракции 9 направляется на угловое зеркало 11-12. Приэтом на угловое зеркало направляет-,ся также излучение с длиной волны,отличной от регистрируемой длины вол,ны, которое дифрагировалось на дифракционной решетке под тем углом, что иизлучение регистрируемой длины волныФлуоресценции, т,е. Ч = ч Излучение с этими двумя длинами волны направляются гранями углового зеркала11 и 12 на дифракционную решетку подуглом падения, Здесь излучение, отличное от регистрируемой ддиыы волны, определяется под углом дифракции 9 в,,а излучение регистрируемой длины волны флуоресценции под углом дирфакцииС 2, через объектив 13 и щель 14 попадает на приемно-регистрирующее устройство 15,Использование предлагаемого спектрофлуориметра позволяет осуществлятьлюминесцентные (флуоресцентные) исследования малых участков люминесцирующих пленок на непрозрачных подложках сложной конфигурации, например,имеющих бугристую или пористую структуру, вмятины, глубокие щели и т.д. Формула изобретенияСпектрофлуориметр, содержащий рас-положенные по ходу луча источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционнойрешетки, держатель исследуемого образца, поворотное зеркало, оптическийтракт для выделения длины волны из"лучения Флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки, имеющейобщую ось вращения с первой дифракционной решеткой, о т л и ч. а ющ и й с я тем, что, с целью расширения области применения, оптическиеоси тракта для выделения длины волныизлучения возбуждения и тракта длявыделения длины волны излучения флуоресценции расположены таким образом,что угол дифракции для длины волныизлучения возбуждения является одновременно углом падения излученияФлуоресценции на первой дифракционной решетке.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Патент США й 4022529,кл, С 01 1 3/42, опублик, 1977.2. Патент Франции Ю 2314483,кл, С 01 1 3/00, опублик. 1977., 922529 Составитель А. Смирнов.Редактор Л. Гратилло, Техред . А. Ач .Корректор .Л. Бокшанеиеееиииии ю и и е и тее итие Заказ 2562/53 Тира ВНИИПИтвенного к ретений и 35, Раущск лиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, ю юееж 883Государспо делам изоб35 Москва ЖПодписноемитета СССРткрытийя наб, д Ч 5