Способ измерения послеимпульсов фотоэлектронного умножителя

ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик2) Авторы изобретен и М. Ронкин и Ю. В. Андреев 7 Т) Заявител 4) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСЛЕИМПУЛЬСОВ ФОТОЭЛЕКТРОННОГО УМНОЖИТЕЛЯ2 Изобретение относится к способам измерения параметров фотоэлектронных умножителей.Известен способ измерения послеимпульсов фотоэлектронного умножителя при помощи чувствительных широкополосных осциллографов 11.Однако в линейном режиме работы фотоэлектронного умножителя измерение после- импульсов затруднительно, так как их амплитуда может лежать на пределе чувствительности современной измерительной аппаратуры.Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является способ измерения послеимпульсов фотоэлектронного умножителя, включающий измерение амплитуды основного сигнала при напряжениях на фотоэлектронном умножителе, соответствующих заданной анодной чувствительности 21.Недостаток известного способа состоит в том, что измерения не несут количественной информации об амплитуде послеимпульсов, так как отсутствует энергетическая калибровка, привязанная к анодной чувствительности или динамическому диапазону, объективно характеризующая эту амплитуду.Цель изобретения - количественное измерение послеимпульсов фотоэлектронного умножителя путем устранения перегрузки измерительного канала основным сигналом.Следует также отметить, что амплитудаосновного сигнала может значительно отличаться от амплитуды послеимпульсов.Цель достигается тем, что согласно способу измерения послеимпульсов фотоэлектронного умножителя, включающему измерение амплитуды основного сигнала при напряжениях на фотоэлектронном умножителе, соответствующих заданной анодной чувствительности, послеимпульсы фотоэлектронного умножителя измеряют в режиме линейности амплитудной характеристики и сравнивают с амплитудой основного сигнала, ослабляя световой импульс нейтральными поглотителями и по кратности ослабления ко 2 в торых оценивают амплитуду послеимпульсов,На чертеже приведена принципиальнаясхема установки измерения послеимпульсов фотоэлектронного умножителя предлагаемым способом.3 11 15 го Формула изобретения Установка содержит фотоэлектронный умножитель 1, импульсный источник 2 света пикосекундной длительности, набор нейтральных поглотителей 3, нагрузочное сопротивление 4 и широкополосный осциллограф 5.Измерения послеимпульсов фотоэлектронного умножителя предлагаемым способом проводятся следующим образом,На измеряемый ФЭУ подается питающее напряжение, соответствующее заданной анодной чувствительности. Фотокатод измеряемого фотоэлектронного умножителя 1 облучается импульсами мощного источника света пикосекундной длительности, каким может быть, например квантовый генератор 2.Мощность падающего на фотокатод светового импульса подбирается нейтральными поглотителями света 3 такой, чтобы на нагрузке ФЭУ с помощью широкополосного осциллографа 5 можно было отчетливо наблюдать послеимпульсы ФЭУ, отделенные от основного сигнала некоторым интервалом, Амплитуда послеимпульсов при этом должна находиться в режиме близком к линейному, т. е. изменяться пропорционально кратности вводимого для контроля линейности нейтрального поглотителя света, при этом амплитуда основного сигнала 11 может находиться в режиме насыщения или режиме близком к насыщению объемным зарядом (если амплитуда послеимпульса находится в нелинейной области, то ее изменение может отличаться от кратности вводимого для проверки нейтрального поглотителя света в К раз). Таким образом, создается режим работы ФЭУ, когда амплитуда послеимпульсовдостаточна для надежной регистрации современными измерительными средствами, например широкополосным осциллографом, а перегрузка измерительной аппаратуры импульсов сигнала устраняется вследствие незначительной разницы между амплитудой основного сигнала, находящейся в режиме насыщения, и послеимпульсами, которые еще не достигли режима насыщения. Затем нейтральными поглотителями света начинают ослаблять амплитуду основного сигнала 1)аюадо значения 1.1 = 1.1 п Полученное значение оптического ослабления сигнала, исчисленное из известной кратности использованных нейтральных поглотителей света, и является численным значением хаИ зо зз ао аз рактеризующим кратность превышения амплитудой сигнала амплитуды послеимпульса.Так как ФЭУ может иметь несколько послеимпульсов, отстоящие от основного сигнала на различные интервалы времени, характеристика каждого послеимпульса может выражаться дробным числом, где в числителе указывается относительное значение характеристики послеимпульса измерения предлагаемым методом, а в знаменателе расстоя. ние максимума послеимпульса от фронта основного сигнала в пикосекундах или нанасекундах.Предлагаемый способ оценки послеимпульсов ФЭУ позволяет организовать контроль этого параметра у серийных ФЭУ исключив, таким образом, необходимость поставки серийных изделий с последующим отбором изделий.Методика позволяет вести новые разработки ФЭУ с контролем этого параметра и проводить объективные сравнения разных ФЭУ между собой. Способ измерения послеимпульсов фотоэлектронного умножителя-, включающий измерение амплитуды основного сигнала принапряжениях на фотоэлектронном умножителе, соответствующих заданной аноднойчувствительности, отличающийся тем, что,с целью количественных измерений послеимпульсов фотоэлектронного умножителя путем устранения перегрузки измерительногоканала основным сигналом, послеимпульсыфотоэлектронного умножителя измеряют врежиме линейности амплитудной характеристики и сравнивают с. амплитудой основногосигнала, ослабляя световой импульс нейтральными поглотителями и по кратности ослабления которых оценивают амплитуду послеимпульсов.Источники информации,принятые во внимание при экслертизе1. Ронкин Ж. М. и др. Исследование режима перегрузки ФЭУ мощными световыми импульсами. Сб. Импульсная фотометрия,1975, вып. 4, с. 185 - 211.2. Ронкин Ж. М. и др. О возникновении послеимпульсов в ФЭУ. Сб. Импульсная фотометрия, 1978, вып. 5, с. 207 - 211 (прототип).Составитель Е. Пчелов Редактор В. Иванова Техред А. Бойкас Корректор О. Билак Заказ 12192/69 Тираж 757 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушсная наб., д. 4/5 Филиал ППП Патентэ, г. Ужгород, ул. Проектная, 4