Устройство для дефектоскопии плоских изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
877420 Рукояткой 20 отводят подвижную траверсу 8 и на платформу 18 устанавливают контролируемый образец 17. Пружинами 15 и 16 преобразователи 9 и 10 прижимаются к образцу 17 даже при отклонениях формы образца на углы О., и о во взаимно перпендикулярных направлениях. Пружины 15 и 16 обеспечивают поворот держателей 9 и 10 на угол о а угол с компенсируется благодаря поднижности платформы 18 и равенству усилий прижатия пружин 11 - 14, отрегулированных с учетом ширины 0 иэделия.Затем осущестнляют измерение времени прохождения ультразвукового им- пульса через образец, снимают образец и устанавливают следующий. С помощью диаметрально установленных на торцах держателей 9 и 10 пружин 15 и 16 преобразователи имеют возможность качания, центр которого благодаря такому креплению, имеет свободу перемещения в направлении осей качания, Между траверсами 7 и 8 расположен стол для образца 17, выполненный в виде платформы 18 с шариковой опорой. Траверса 8 симметрично размещенными гибкими элементами 19 связана с рукояткой 20.Устройство работает следующим образом. Использование предлагаемого устройства позволяет повысить надежностьконтроля эа счет самоустановки преобразователей на непараллельных поверхностях образцов строительных материалов,Формула изобретенияУстройство для дефектоскопии плоских изделий, содержащее основание,закрепленные на нем параллельные10 направляющие, установленные на нихтраверсы, размещенные на траверсахпреобразователи дефектоскопа и столдля иэделия, расположенный между траверсами, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что,с целью повышения надежности контроля образцов строительныхматериалов, оно снабжено держателя-ми преобразователей, установленнымис возможностью качания, центр кото-рого имеет свободу перемещения в направлении осей качания, траверсывстречно подпружинены вдоль направляющих, а стол для образца выполненв виде платформы с шариковой опорой.Источники инФормации,25 принятые но внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРР 42934 1, кл . С 0 1 И 29/О 4, 1972 .2, Авторское свидетельство СССРР 566176, кл. С 01 И 29/04, 197530 (прототип),877420 Сост ави тел ь Н . Дол го в аРедактор Е. Цичинская Техред А.Вабинец Корректорт екм Заказ 960 4/6 7ВНИИ 4/ Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная,Тираж 910ПИ Государственного комитетпо делам изобретений и откры3035, Москва, Ж, Раушская ПодписСССРийб., д.
СмотретьЗаявка
2584558, 16.02.1978
УРАЛЬСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНЫЙ ИНСТИТУТ СТРОИТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ
ДМИТРИЕВ ВЛАДИМИР ПАВЛОВИЧ, ПАШНИНА ЛЮБОВЬ ТИМОФЕЕВНА, КАПИТОНОВ ИВАН ГРИГОРЬЕВИЧ, МАРТЫНОВ СЕМЕН ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопии, плоских
Опубликовано: 30.10.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-877420-ustrojjstvo-dlya-defektoskopii-ploskikh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для дефектоскопии плоских изделий</a>
Предыдущий патент: Способ контроля неровностей поверхности
Следующий патент: Способ ультразвукового контроля крупнозернистых материалов и устройство для его осуществления
Случайный патент: Устройство для прогнозирования состояния дискретного канала связи