Способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоцетснитСоцидлистическииРеспублик и 868545(72) Авторы изобретения Новочеркасский ордена Трудового Красного Знамейи политехнический институт им, Серго т )рджоникщ".е"-. .,(7) Заявитель(54) СПССОБ МАГНИТОШУМОВОЙ СТРУКТУРОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к неразрушаюшему контролю и может быть использовано для структуроскопии ферромагнитных изделий тИзвестен способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий, за 5 ключающийся в том, что контролируемое изделие перемагничивают низкочастотным магнитным полем, регистрируют с помощью измерительного преобразователя шумы Баркгаузена и по ним судят о качестветОконтролируемого изделия 11Недостаток известного способа состоит в ограниченной возможности контроля подповерхностного слоя изделия.)5Наиболее близок к предлагаемому по технической сущности способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие перемагничивают низкочастотным магнитным полем, замыкаютцимся через иэделие вокруг измерительного преобразователя, регистрируют с помощью последнего шумы Баркгаузена и по ним судят о качестве структуры контролируемого изделия2.Однако и этот способ не позволяет эффективно контролировать качество структуры поаповерхностных слоев изаелия. Бель изобретения - контроль поверхностных слоев изделия.Поставленная цель достигается тем, что используют магнитное попе, вращающееся относительно оси измерительного преобразователя, нормальной к поверхности изделия. Кроме того, регулирование глубины залегания контролируемого подповерхностного слоя возможно путем изменения величины напряженности магнитного поля.На фиг. 1 представлено устройство для осуществления способа; на фиг. 2 - то же, вид сверху.Устройство содержит намагничиваюшую систему 1, включающую четырехполюсный магнитопровод 2 с двухсекционными катушками 3 и 4, каждая из секций коюрых86854 размещена на диаметрально противоположных полюсах магнитопроводв 2, а секциикаждой катушки включены между собой/последовательно-сот л асио, низкочастотныйгенератор 5 двух квадратурных относительно друг друга напряжений, соединенныйпервым выходом с катушкой 3 и вторымвыходом с катушкой 4, и последовательносоединенные измерительный преобразователь 6, установленный симметрично от оносительно полюсов мвгнитопроводв 2,электронный блок 7 и регистратор 8.Способ мвгнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий реализуетсяследующим образом.Генератор 5 запитывает катушку 3 и 4,соответствующие секции которых сдвинутыв пространстве друг относительно другана 90 и питаются сдвинутым на 90 най опряжением, В результате создается низко 2 оистотное магнитное поле, вращающеесявокруг оси измерительного преобразователя6 и замыкающееся вокруг последнего через контролируемое изделие 9, Напряженность магнитного поля максимальна наповерхности изделия 9 и уменьшается помере увеличения глубины залегания подповерхностных слоев.Вращающееся мвгнитное поле, напряженность которого выше некоторой критической величины, изменяет направлениенамагниченности доменов без скачковБаркгаузена. Поэтому в поверхностныхслоях образца, где возбуждается сильноемагнитное поле, происходит лишь постепенное изменение направления магнитной 35индукции и намагниченности без скачков,Следовательно, процессы в поверхностныхслоях образца преобразователем 6 нерегистрируются. В более глубиитых слояхисследуемого изделия 9, где напряженность 40вращающегося поля слабее, возникают скачкообразные повороты доменов, благодарячему и изменяется магнитное поле. Этонаводит ЭДС в измерительном преобразователе 6. Чем больше нвмагничивающий 45ток катушек 3 и 4, тем глубже проыкает сильное вращающееся магнитное полев материал, и он, начиная от поверхностидо этих слоев, не создает ЭДС в измерительном преобразователе 6,50Таким образом, возможно контролировать качество подповерхностных слоев из 5 4делия 9, исключая влияние его поверхностных слаев.Регулирование глубины залегания контролируемого слоя осуществляется изменекием величины тока генератора 5, что изменяет напряженность магнитного поля, Возможна также дополнительная регулировка путем вариации частоты генератора 5,Целесообразно нвмагничивакюие силы катушек 3 и 4 выбирать с некоторым отличным от единицы соотношением, при этом вращающееся поле эллипсоидвльно, а величина магнитного шума несколько увеличивается.Регистрируемый преобразователем 6 сигнал преобразуется в электронном блоке 7 и регистрируется регистратором 8.Описанный способ позволяет непосредственно контролировать качество струк туры подповерхностных слоев, регулируя глубину залегания контролируемого слоя ферромагнитного изделия.,Формула изобретения 1. Способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделиеперемагнинивают низкочастотным магнитным полем замыкающимся через изделиевокруг измерительного преобразователя,регистрируют с помощью последнего шумыБаркгаузена и по ним судят о качествеструктуры контролируемого изделия, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюконтроля подповерхностных слоев изделия,используют магнитное поле, вращающеесяотносительно оси измерительного преобразователя, нормальной к поверхности иэделия.2. Способ по и. 1, о т л и ч в ю щ и йс я тем, что, с целью регулирования глубины залегания контролируемого подповерхностного слоя, изменяют величину напряженности магнитного поля,Источники информациипринятые во внимание при экспертизе1, Патент США % 3783370,кл. Я 01 Р 33/12, 1974,2. Авторское свидетельство СССРИе 461346, кл. (Ь 01 М 27/86, 1975прототип .868 Г 45 тавитель П, Шк 8311/60 Тираж 910 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская иаб., д. Ю