Способ определения и ориентациикристаллографических осей вкубическом ферромагнетике
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 794572
Авторы: Имшенецкий, Семен, Шевчук
Текст
Своз Советскнк Соцнвлнстнческнк РесвублнкОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 3103,78 (21) 2597922/18-09с присоединением заявки Йф(51)М, КП, 6 01 В 33/12 Гфсударетаема фмятет ССС Р яф делам зфбретеннй я фтрмтмй(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ И ОРИЕНТАЦИИ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ОСЕЙ В КУБИЧЕСКОИ ФЕРРОМАГНЕТИКЕИзобретение относится к технике СВЧ и может использоваться при изготовлении Ферритовых устройств.Известен способ определения и ориентации кристаллографических осей в кубическом ферромагнетике, основанный на нахождении одной из легких осей намагничивания путем размещения, зависания и самоориентации сферы в поле постоянного магнита 11,Однако известный способ не обеспечивает высокую точность определения.Цель изобретения - повышение точ:ности.Для этого в способе определения и 15 ориентации кристаллографических осей в кубическом ферромагнетике, преимущественно сферической Формы, с отрицательной анизотропией, основанном на нахождении одной из легких осей 20 намагничивания путем размещения, зависания и самоориентации сферы в поле постоянного магнита, сферу временно закрепляют вдоль легкой оси намагничивания, помещают в электромагнитное поле под углом 60 О к полю постоянного магнита и, фиксируя угол поворота вокруг легкой оси намагничивания при минимальном значении частоты ферромагнитного резонанса, бп ределяют плоскость 110, а угол между плоскостью 110 и вектором напряженности рабочего магнитного поля Н отрабатывают при угле между Ни осью 111, равном 60Сущность способа заключается в следующем,Во время самоориентации на сферу воздействия, например, потоком воздуха до ее зависания, временно закрепляют ее вдоль легкой оси, потом помещают ферритовую сферу в СВЧ электромагнитФ ное поле под углом легкой оси 60 к внешнему постоянному магнитному полю Н и измеРяют значение угла поворота при минимальном значении резонансной частоты. Таким образом определяют плоскость 110, которая параллельна Йо несущей сферу оси, начало отсчета угла совпадает с указанной плоскостью, Полученная информация при известной кристаллической структуре позволяет полностью определить все остальные оси и изотропные области монокристалла. При установке сферы в рабочее устройство отрабатывают угол между плоскостью 110 и предполагаемым вектором напряженности магнитного поля Нт, когда угол между К и осью 111 равен 60 ф.На фиг. 1 приведена конструкция устройстна для крепления ферритоной сферы, нафиг. 2 - конструкция устройства, реализующего способ.Устройство (см. Фиг. 1) содержит Ферритовую сферу 1, размещенную в поле постоянного магнита 2, диэлектрический держатель 3, камеру 4, канал 5 и кран б.Устройство работает следующим образом.ферритовая сфера 1 самоориентиру. ется в поле постоянного магнита 2 вдоль лЕгкой оси и крепится легкорастворимым клеем к диэлектрическому держателю 3. При этом ось симметрии диэлектрического держателя 3 и одна из легких осей монокристалла с отрицательной анизотропией параллельны. Достаточная точность определения легкой оси достигается большим значением .напряженности магнитного поля Н в 20 области 7 и зависанием ферритовой сферы 1 на некоторое время в потоке воздуха, подаваемого через кран 6 по каналу 5 из камеры 4.Устройство на Фиг, 2 содержит ферри-Я тоную сферу 1, закрепленную на диэлектрическом держателе 3 и помещенную в отверстии 8 между двумя скрещенными эакороченными волнонодами 9. Диэлектрический держатель 3 закреплен в цанге 10 гайкой 11 до корпуса 12 лимба 13 измерения углов, который Фиксируется на кронштейне 14 фиксаторами 15. Кроме того, устройство включает постоянный магнит 16, ручку 17, нониус 18 лимба 13,Устройство работает следующимобразом.Два закороченных волнонода 9 с установленной в отверстии 8 между ними ферритовой сферой 1 представляют 40 собой однорезонаторный фильтр., перестройка которого осуществляется вращением ручки 17. Зависимость резонансной частоты такого однорезонаторного фильтра от угла поворота Р ручки 17 описывается формулой=М фН 0,58 й-Ю(оозЧ 15-4 соьЧ 3)0 А50 т.е. когда угол между плоскостью 110 и осью симметрии полюсов поетоянного магнита 16 равен О, тоирфщр при Н = сопьс (при этом кристаллографиОческая ось 100 составляет угол 5016 с осью симметрии полюсов постоянного магнита 16). Таким образом, Фиксируя значение угла на лимбе 13 по нониусу 18, определяют одну из плоскостей 110. Практически теперь Ферритовую бО сферу 1 можно устанавливать в рабочее устройство по изотропной оси в плоскости 110, при этом угол между осью диэлектрического держателя 3 и вектором напряженности магнитного поля должен составлять 84 О 4, Ориентацию ферритовой сферы 1 производят в соответствующих "рабочих" устройствах при перенесении ее туда совместно с диэлектрическим держателем 3 и лимбом 13. При этом держатель 3 с ферритовой сферой 1 помещается в предполагаемое постоянное магнитное поле Йдпод углом 60 .и углом +сФ между йлоскостями 110 (диэлектрический держатель 3, Нп) и закрепляется соответственно йа несущую ось, подложку или диафрагму, Так, если ферритовая сфера 1 ориентируется по изотропному направлению (раздельная термостабилизация) к магнитному полю, то= 34 ф 51. Если ориентация предусматривает совместную температурную стабилизацию ферритовых резонаторов и схемы управления, то из графика и выражения находят отрабатываемый угол Ч . Поскольку процесс нахождения кристаллографических осей и ориентации ферритовой сферы 1 производится с относительной ошибкой бх 10 строго последовательно и общее время на порядок меньше по сравнению с методом геометрического построения при нахождении плоскости 110 по легким осям н постоянном магнитном поле и последующей коррекцией положения сферы н рабочем устройстве,а необходимая аппаратура почти та же самая,то экономическая эффективность предлагаемого способа на порядок выше,Формула изобретенияСпособ определения и ориентациикристаллографических осей в кубическом ферромагнетике,преимущественносферической формы с отрицательнойанизотропией, основанный на нахождении одной из легких осей намагничивания путем размещения, зависания исамоориентации сферы н поле постоянного магнита, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности, сферу временно закрепляют вдольлегкой оси намагничивания, помещаютв электромагнитное поле под углом60 к полю постоянного магнита и,фиксируя угол поворота вокруг легкойоси намагничивания при минимальномзначении частоты ферромагнитного резонанса, определяют плоскость 110,а угол между плоскостью 110 и вектором напряженности рабочего магнитного поля Н 1 отрабатывают при углемежду Н и осью 111, разном 600.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское снидетельство СССРМ 533895, кл. С 01 В 33/12, 1974.794572 Тираж 741арственного комизобретений и откЖ, Раушская,ненто, г, Ужгород Заказ, 9469/ВН ПодписиСССР ИИПИ Госуд по делам и 035,.Москва,тета рытий аб.,П
СмотретьЗаявка
2597922, 31.03.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8751
ШЕВЧУК НИКОЛАЙ АНТОНОВИЧ, СЕМЕН БОГДАН ТЕОДОРОВИЧ, ИМШЕНЕЦКИЙ ВЛАДИСЛАВ ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/12
Метки: вкубическом, ориентациикристаллографических, осей, ферромагнетике
Опубликовано: 07.01.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-794572-sposob-opredeleniya-i-orientaciikristallograficheskikh-osejj-vkubicheskom-ferromagnetike.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения и ориентациикристаллографических осей вкубическом ферромагнетике</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерениянапряженности магнитного поля
Следующий патент: Геодезическая фазовая радиодально-мерная система
Случайный патент: Устройство для погрузки плоских изделий на поддон с многорядной укладкой