Способ исследования параметров роста колонии микроорганизмов

5 сиом ь,.патеч н,;1ОПИСАНИ Союз Советскик Социалистических Ресттублик(5)М. Кл. 6 01 Н 33/48С 12 К 1/00 осудврствеииый комитет СССР во делам изобретеиид и открытий(72) Авторы изобретения Г.Г.Жарикова, Г.В,Сумаруков и Р,Р Асланян. Московский ордена Ленина, ордена Октябрьской Революциии ордена Трудового Красного Знамени государственныйуниверситет им. М.В. Ломоносова.(,54)СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИИ ПАРАМЕТРОВ РОСТА КОЛОНИЙ МИКРООРГАНИЗМОВИзобретение отяосится к микробиологии,Известен способ исследования параметров роста колоний микроорганизмов в установке, содержащей фоторе гистратор, сопряженную с ним оптичес- кую систему, включающую объектив и фотоумнОжитель, предметный столик для размещения на нем колоний микроорганизмов, предусматривающий осве щение колоний световым потоком в видимом диапазоне длин волн. При осуществленииизвестного способа исследуется изображение микроорганизмов на фотопленке с помощью денситомерта с короткофокусным объективом без щелевой диафрагмы, ре-. гистрирующего оптическую плотность фотографического иэображения колоний. 3),Колонии микроорганизмов являются гетерогенными системами.:Гетерогенность проявляется в неровностях края колец, неодинаковой ширины колец и разной высоте их в одной и той же 25 колонки (в разных ее участках) ),1)Однако в связи с этим неизбежны значительные ошибки в процессе измерения величин оптической плотности, кроме того, введение денситометрии, Щ.,как промежуточного процесса, снижает кочность измерения.Цель изобретения - повышение точности.Поставленная цель достигается тем, что в способе исследования параметры роста определяют по коэффициенту отражения светового потока от коло.- нии, при этом в оптическую схему вводят диафрагму с отверстием в виде изогнутой щели, помещенную между г объективом и Фотоумножителем оптической системы, а колонию равномерно перемещают в плоскости, перпендикулярной оси оптической системы.На чертеже изображена оптическая схема установки для осуществления способа исследования параметров роста колоний микроорганизмов.Способ осуществляется следующим образом.Перед началом фотометрирования подбирается оптимальная скорость движения предметного столика 1 с иссле" дуемым объектом, интенсивность ссвещения объекта, ширина и длина щелк диафрагмы, что позволяет получить максимальную разрвшающую способность устройства. После этого на предметный столик 1 помещают чашку 2 Петри с .исследуемой колонией актиномицета, включают осветитель 3 и приводят в движение с помощью привода 4 . столик 1 микроскопа. Отраженный от колонии свет, проходя через объектив 5, диафрагму о, призму 7, попадает на Фотоумножитель 8 и фоторегистратор 9. На диаграмме Фоторегистратора 9 отображается характер роста колоний микроорганизмов, наприм.р зоноооразующего актиномицета, где каждый пик соответствует отдельному кольцу коло- О нии.Обрабатывая полученную диаграмму, можно определитьф"акие параметры колонии зонообразующих микроорганизмов, как диаметр колонии, диаметр и пло щадь ее центра, ширину и площадь спо роносных колец, а также расстояние между их вершинами.Перечисленные параметры колонии выявляются на диаграмме регистрато- щ ра и измеряются циркулем-измерителем и линейкой (при линейных измерениях) или планиметром (при измерении площадей). Для перевода в реальные раз.меры колонии измеренные на ленте линейные параметры (при объективе 8") умножаются на коэФФициент пересчета, -равный 0,0247, где К в ИИ, где М, расстояние между двумя точками на объекте, а И - между двумя соответствующими точками на ленте самописца, 3 ОДиаметр колонии определяют измерением расстояния между двумя противоположными точками иа внешних краях наружного кольца.Диаметр центра колонии определяют 35 измерением расстояния между двумя ,противоположными точками на первых от центра глубоких минимумах диаграммы.Ширину спороносных крец определяют измерением расстояния между р точкой начала подъема кривой и соответствующей точкой после прохождения кривой через максимум.Расстояние между вершинами колец определяют измерением расстоянии между точками максимумов двух соседних колец.Площадь центра колонии определяют измерением площади, ограниченной сверху крйвой диаграющ, а снизу нулевой линией, соответствующей величине сиг- И нала от участка культуральной среды без колонии и ограниченной с боков перпендикулярами, восстановленными с нулевой линии к точкамиспользуемым при определении диаметра центра колониивПлощадь спороносных колец определяют измерением площади под кривой днаграм, ограниченной снизу нулевой линней, соответотвующей величине сигнала от участка культуральной среды беэ колонии, а с боков ограниченной перпендикулярами, восстановленными с нулевой линии к точкам, используемым . при определении ширины колец.Таким образом, способ обеспечивает прямые измерения колоний микроорганизмов по интенсивности отраженного, света с повышенной точностью, благодаря введению в оптическую систему диафрагмы, обеспечивающей получение интегрированной информации с большей площади кольца колоний и длиннофокусного объектива, обеспечивающего достаточную глубину резкости при равномерном перемещении колоний в радиальном направлении в плоскости, перпендикулярной оси оптической системы.Формула изобретенияГпособ исследования параметровроста колоний микроорганизмов в установке, содержащей Фоторегистратор, сопряженную с ним оптическуюсистему, включающую объектив и фотоумножитель, предметный столик дляразмещения на нем колоний микроорганизмов, предусматривающий освещение колоний световым потоком ввидимом диапазоне длин волн, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности, параметры ростаопределяют по коэФфициенту отражениясветового потока от колонии, при этомь. оптическую схемУ вводят диафрагмус отверстием в виде изогнутой щелй,помещенную между объективоми фотоумножителем оптической системы, аколонию равномерно перемещают вплоскости, перпендикулярной осиоптической системы.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Панаян Г.В. Разработка аппаратуры и методов микроспектрофотометрии в гроходящем н отраженном свете.йвтореф. на сснск. учен. степениканд. техн. наук. Л., 1974.787993 РедакторМ. Дылы оставитель Л.Соловьевехред Я.фрвалева Корректор О. Билак о сУ к жгород,ул.Проектная,4 ППП"Патент Заказ 8343/51 ВНИИПИ по 113035, 1019 рственного зобретенийЖ" 35, Ра Подпи омнтета ССС открытий окая наб.,д