Способ определения систематической погрешности измерителей времени распростпранения ультразвуковых колебаний

Союз Советских Социалистических Республик(451 Дата опубликования описания 30.06.8 о делам изобретений и открытийй институтсредств контро ыи научно-исследовательсеразрушающих методов икачества материалов(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СИСТЕМАТИЧЕСКОЙ ПОГРЕ 111 НОСТИ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ ВРЕМЕНИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ КОЛЕБАНИЙ5 0 близким по технической сущетению является способ опреематической погрешности иземени распространечия ультИзобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано, например, для определения систематической погрешности и калибровки приборов, измеряющих время распространения ультразвуковых колебаний, в случае, когда приемные и излучающие преобразователи устанавливаются с одной стороны контролируемого изделия.Йзвестен способ калибровки измерите лей времени распространения ультразвуковых колебаний, заключающийся в том, что возбуждают колебания в двух разных по длине образцах одного материала, измеряют:времена распространения колебаний в нпх и по ним калибруют измеритель времени 11,Недостатком этого способа является необходимость строгой идечтснчности материалов образцов и знание их геометрических размеров.Кроме того, такой способ не может гарантировать точную калибровку (определение погрешности) приборав при одностороннем доступе к контролируемом изделию.Наиболеености к изобрделения систмерителей вр раззуковых колебаний, заключи;ошпйсч втом, что в контролируемом материале возбуждают с помо 1 цью искателей колеоан;1 я,измеряют время их распространения натрех разных базах измерения (в двух образцах разной длины и в третьем, длинакоторого равна сумме длин двух первыхобразцов), а о погрешности судят по разности времен распространения колебаниймежду временем на большей базе и суммойвремен распространения на меньших,21.Недостатком такого способа являетсянизкая точность и то, что он не х;ожет бытьприменен для одностороннего доступаконтролируемому изделию.Целью изобретения язляется расширение области применения и гловышенпя точности определения погрешности.Цель достигается за счет тото. что разные базы измерения выбирают нг одном образце путем перестановки пскгт;лей на однои поверхности материала. - . ех згфиксированных точках.На фиг, 1 представлена схе,:г реализации способа; на фиг. 2, 3 и 4 вгрпанты размещения искателей В держгте,-.е прп выборе различных баз измерения способа.Схема содержит держатель 7 дл установки искателей с гнсздамп , , - контролируемое изделие 5, 744320Способ закгпочается в слецукщем.Излучающий И и приемный П пьезопреобазователп устанавливают в соответствующие г.езда (фиг. 2) и производят измерение вр цени 1,=1 о,+Л (здесь-- истинное восмя, а Л, - - систематическая погрешность прибора), Затем переставляют, например, излучающий преобразователь в другое .нездо (фиг. 3) и производят измерение зр-мени - - -,+Л, Л в этом случае равна Л предыдущего измерения. Не сдвигая держателя приамный,преобразователь устанавливают в другое гнезд(фиг.4) и пронзводят,измерение з=-з +Л 1,В.данном случае + - 1=-М, т. е, оазно систематической составляющей погреш. ности поверяемого прибора и если любым методически приемом (схемным решением):компенсировать полученный рсз льтат Л, то систематическая составляящая прибора будет стремиться к нулю. Все вышеприведенные рассуждения пригодны только для линейных преобразований при непосредственном измерении времени, например з импульсных приборах, где Л 1 включает задержки в защитных доньидках преобразователей, В кабелях, задержки, обусловленные наклоном фронтов импуль. сов . тп;., т. е. там, где систематическая 1 О 15 гв составляющая погрешности не измея;тсяс изменением измеряемой величины. Формула изобретения Способ определения систематической погрешности измерителей времени распространения ультразвуковых колебаний, заключающийся в том, что в контролируемом материале возбуждают с помощью искателей ультразвуковые колебания, нзмсряюг время их распространения на трех разных базах измерения, а о погрешности судят по разности времен распространения колебаний меклу,временем на большей базе и суммой времен распространения на меньших, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения и повыше ния точности, разные базы измерсия выбирают на одном образце путсм перестановки искателей на одной поверхности материала в трех заиксированных точках. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. Авторское свидетельство СССР396622, кл. 6 01 М 29/04, 1971.2. Авторское свидетельство СССР М 531077, кл.01 М 29/04. 1972 (прототип).рьг г Циг Ф Составитель Т. Головкина Техред А. Камышникова Редактор Г, Улыбина ь о С фаи Заказ 683/951 11 зд. ЛЪ 328 Тивагк 19 г 3 По;с"згНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 45 Тип. Харьк. фид. пред. Патент