Способ отбраковки резисторов

Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 310877 (21) 2522074/18-21 с присоединенйем заявки Ио Н 01 С 17/00 Государственный комитет СССР по дедам изобретений и открытийДата опубликования описания 1506,80(54) СПОСОБ ОТБРАКОВКИ РЕЗИСТОРОВ Изобретение относится к радиоэлектронике и может, в частности, быть использовано при производстве высоконелинейных резисторов для разрядников и ограничителей перенапряжений.Известен способ обработки резисторов, включающий определение их пропускной способности, заключающийся в том, что выборка иэ партии резисторов испытывается гарантированным или несколько большим током,понижающим или исчерпывающим ресурс пропускной способности 1 .Недостатком этого способа является то, что резисторы после испытаний не пригодны к использованию. Кроме того, вероятность появления бракованных резисторов в партии остается и зависит от величины выборки.Известен способ отбраковки резисторов, при котором пропускную способность резисторов определяют по изменению падения напряжения между концом электрода и краем резистора при приложении коротковолнового длительностью от 10 до 20 мкс импульса тоКа номинальной величины (5 кА и выше) и по)ученное значение сравнивают с предварительно определеннойпредельной для данного типа резисторов величиной 2,Недостатком данного способа является его трудоемкость и невозможность .обнаружения трещин в дискахрезисторов, которые могут образовываться в процессе прессования резисторов.Цель изобретения - обеспечениевоэможности нераэрушающего контроляи упрощение способа.Указанная цель достигается тем,что в способе отбраковки резистороввключаюшемопределение пропускнойспособности резисторов путем измеренйя электричвских параметров, определение пропускной способности производят путем измерения емкости и проводимости при напряжении 8-10 В ичастоте 0,9-1,1 кГц.Измерение емкости выявляет такиетехнологические дефекты оксидноцинковых нелинейных резисторов, кактрещинки, неплотности и слоистостьструктуры, не обнаруживаемые внешнимосмотром и не проявляющиеся в вольт,амперной характеристике, но резкоснижающие токовую пропускную способЗО ность. Эти дефекты сказываются на741327 Таблица 200 240 0,030 0,018 20 20 200 20 20 0,020 200 0,018 200 0,014 200 2943 20 20 2944 2945 20 240 20 2946 200 0,015 0,013 0,016 0,012 20 20 2947 200 20 20 2948 200 20 20 2949 200 2950 0,014 200 0,014 200 20 24020 29512952 20+ 20 0,014 200 20 240 величине емкости резисторов, потому что представляют собой воздушные емкости, включенные последовательно с емкостью тела резистора.Одновременно с измерением емкости на мосте переменного тока измеряется и проводимость резистора при малом напряжении, поскольку нелинейный резистор может быть представлен емкостью, шунтированной линейным резистором.Если резистор имеет участки повышенной электропроводности, т.е. дефекты, появившиеся при случайном попадании в резистор проводящих окислов или при местном нарушении окислительного характера газовой среды в процессе спекания, то происходит существенное ухудшение нелинейности егб вольт-амперной характеристики.Это ухудшение проявляется в увеличении на порядок проводимости, измеренной на мосте переменного тока.Таким образом, измерения емкости и проводимости на мосте переменного тока позволяют проводить отбраковку резисторов как по пропускной способности, так и по нелинейности.Для примера в табл. 1 приведены результаты измерения емкости и проводимости и итоги испытания пропускной способности . Резисторы Ф 34 мм нагружались токами 200 и 240 А на прямоугольной волне, длительностью 2 мкс. 2941 1463 0,010 2942 1484 0,011 1538 0,011564 0,0041474 0,0101601 0,0101517 0,0111512 0,010804 0,0051476 0,011924 . 0,0061559 0,011 В таблице указано число импульсов.:нагрузки, которые диски выдержали.Импульс, который вызвал пробой,помечен крестом. Коэффициент нелинейности вычислен для диапазона токов 0,1 и 1,0 мА.Резисторы РМ 2944, 2949 и 2951,обладавшие малой емкостью пробилисьна токе 200 л, в то время как остальные резисторы выдержали нагрузку током и 200 и 240 А. Таким образом,уровень гарантированных токов в партии может быть поднят до 240 Ь.В табл, 2 представлено влияниепроводимости на коэффициент нелинейности, Резисторы РР 3318-3326 имеют 15 проводимость более чем на порядокпревышающую проводимость резисторовММ 3167-3174. При этом у первыхкоэффициент нелинейности также почти в 6 раз больше, чем у резисторовММ 3167-3174.Таким образом, измеряя емкостьи проводимость резисторов на мостепеременного тока можно отбраковыватьдиски, обладающие как пониженной способностьюю, так и пониженной н елинейностью.Использование предложенного способа контроля резисторов позволяетпроводить 100-ный контроль производимых резисторов. Способ Прост, изме Ц рения по данному способу производятся с минимальной тратой времени ипри этом не расходуется ресурс резисторов.741327 Табли ца 2 Нелинейность,О, 1-1,0 мА ДискМ Емкость, пф Проиэводимость, 10Я 3318 2343 0,226 О, 186 О, 141 0,178 О, 196 О, 156 0,211 0,208 0,221 0,191 0,006 0,006 О, 006. 0,202 0,145 0,110 2297 3319 3320 1963 0,155 3321 2174 3322 2251 3323 2133 3324 2354 3325 2323 3326 2319 Среднее 3167 1631 3168 1654 3169 1726 3170 1665 3171 1709 0,006 3172 1733 3173 1640 3174 1569 0,005 0,006 Среднее Формула изобретения способа, определение пропускной способности производят путем измеренияемкости и проводимости при напряжении 8-10 В и частоте 0,9-1,1 кГц.Источники инФормации,принятые во внимание при экспертизе1, РТМ ОАА, 688.012,71, 1971.2. Патент ФРГ М 1541854,кл. 21 с 31/12, 1970 (прототип). Составитель В. СолодоваРедактор П. Макаревич Техред Н.Ковалева Корректор С. Шекмар Заказ 3331/8 Тираж 844 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д 4/5Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Способ отбраковки резисторов, включающий определение пропускной способности резисторов путем измерения электрических параметров, о т л и - 50 ч а ю щ и й с я тем, что, с целью обеспечения возможности неразрушающего контроля резисторов и упрощения 0; 169 О, 138 О, 178 0,180 О, 194 0,164 0,027 0,028 0,027 0,027 0,027 0,029 0,034 0,026 0,028