Способ двухпараметрового контроля сферических изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 731369
Автор: Денискин
Текст
(28) Приоритет Опубликовано 30.04.80, Бктллетень % 16Дата опубликования описания 30.04,80 по делам изооретеиий и открытий(54) СПОСОБ ДВУХПАРАМЕТРОВОГО КОНТРОЛЯ СФЕРИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к области неразрушаюшего контроля и может найти применение в различных областях машиностроения.Известен способ контроля сферических деталей методом вихревых токов, эаключаюши.йся в том, что контролируемую деталь пере 5 мешают в однородном электромагнитном поле, измеряют напряжение индикаторной катушки, через ось которой, параллельную вектору магнитной напряженности поля, перемещают деталь и по напряжению индикаторной катушки, амплитуде или приращениям активной и реактивной составляющих судят опараметрах контролируемой детали (1).Недостатком способа является зависимость результатов контроля как от радиуса изделия, так и от удельного электросопротивления материала изделия; амплитудно-фазовое определение этих парамтеров возможно лишь в небольших пределах их изменений от номинальныхИзвестен также способ контроля удельного сопротивления электропроводяших изделий, заключаюптийся в том, что контролируемое изделие помещают в проходной вихретоковый преобразователь, вьщеляют активную и реактивную составляющие вносимого напряжения, преобразовывают активную составляющую с помощью функционального преобразователя, коэффициент передачи которого линейно зависитот входного напряжения, делят полученноенапряжение на реактивную составляющую вносимого напряжения, измеряют результирующеенапряжение и по его величине судят об удельном сопротивлении материала изделия (2. Недостаток способа состоит в том, что он предназначен для контроля цилиндрических изделий и не позволяет с достаточной точ ностью измерить объем и удельное сопротивление изделия.Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ двухпараметрового контроля сферических изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие помещают в однородное электромагнитное поле, вьщеляют квадрат активной составляющей и реактивную составляющую вносимой в измерительную катуцгку ЭД( и делят с по731369 20 25 Составитель Н. ДолговаТехред Э,чужик Корректор М.Виупз Редактор И. Михеева Заааэ 1 497/22 Тираж 1019 ПодписноеЦИИИПИ Государственного комитета СССРпо ленам изобретений и,открытий13035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 модуля ипи составляющих, что позволяет от.страниться от влияния взаимного расположения индикаторной катушки и контролируемого иэделия,Предлагаемый способ двухпарамстрового контроля обладает по сравнению с известными способами повышенной точностью раздельного контроля геометрии и удельного электросопротивления сферических изделий в большом диапазоне измерений контролируемых парамет О ров и позволяет при высококй стабильности измерительной аппаратуры исключить использование эталонов. 15Формула изобретения Способ двухпараметрового контроля сферических изделий, заключающийся в том, что контролируемое иэделие помещают в однородное электромагнитное поле, выделяют квадрат активной составляющей и реактивную составляющую вносимой в измерительную катушку ЭДС и делят с помощью делителя напряжений квадрат активной составляющей ЭДС на реак 6тивную, о т л и ч а ю щ и й с и тем, что,с целью повышения точности измерения, квалрат активной составляющей и реактивную со.ставляющую вносимой ЭДС выделяют в моментдостижения максимума амплитуды вносимойЭДС, преобразовывают напряжение, полученноеот деления квацрата активной составляющейна реактивную с помощью функциональногопреобразователя типа у = ЬхВ, делят полученное напряжение с помощью делителя напряжений на активную составляющую вносимогонапряжения и по полученному результату судят о величине удельногосопротивления, а повеличине напряжения, полученного от деленияквадрата активной составляющей на реактивную, - об объеме сферического изделия,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Дорофеев А, Л. Электроиндуктивнаядефектоскопия, М., "Машиностроение", 1967,с. 197.2. Авторское свидетельство СССР У 298880,кл. 6 01 й 27/04, 1969.3. Авторское свидетельство СССР Иф 274377кл, 6 01 В 7/28, 19 б 9 1 поототип).
СмотретьЗаявка
2568877, 10.01.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1857
ДЕНИСКИН ВАЛЕНТИН ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/86
Метки: двухпараметрового, сферических
Опубликовано: 30.04.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-731369-sposob-dvukhparametrovogo-kontrolya-sfericheskikh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ двухпараметрового контроля сферических изделий</a>
Предыдущий патент: Устройство для магнитошумовой структуроскопии
Следующий патент: Фазовый способ определения скорости ультразвуковых колебаний
Случайный патент: Механизм вращения гребкового устройства