Способ оценки индекса паразитной фазовой модуляции в амплитудных модуляторах

лОП ИСА-НИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик(51)М, Кл.2 6 01 Н 29/Об с присоединением заявки йо Государственный комитет С.СС Р ио делам изобретеняй н открытий(53) УДК 621.317. ,73 (088.8) Дата опубликования описания . 080280 В.Н. Григоренко, С.И. Нятин, Ю.-А,А. Свейкатар В.И, Юкнис и Е.-К.М. Янкунас(72) Авторы иаобретения каунасский политехнический институт имени Антанаса Снечкуса(54) СПОСОБ ОЦЕНКИ ИНДЕКСА ПАРАЗИТНОЙ ФАЗОВОЙ МОДУЛЯЦИИ В АМПЛИТУДНЫХ МОДУЛЯТОРАХ 1 .: 2Изобретение касается электроиэме ка и при наличии Фаэовой модуляции рителъной техники и может быть приме- .определенных величин, измеряют при вено при измерении индекса параэит- помощи иэмеригеля группового времени ной Фазовой модуляции в амплитудных а запаздывания и вычерчивают самописмодуляторах с применением отраженно-. цем амплитудно-, частотные характерисго сигнала. тики и частотные характеристики групИзвестен способ, заключающийся в пового времени запаздывания амплитудтсм, что анализируемый сигнал подают ного модулятора, сравнивают их с рас. на вход осциллографа, Фотографируют 10 четными -и йо совмещенным характерисизображение сигнала с экрана осрил- тикам группового времени запаэдывалографа через маску, вырезающую толь ния определяют величину индекса фаэоко центральную часть осциллограммы вой модуляции (2). вдоль горизонтальной оси, получеийое . Общим нецостаткси укаэанных спосов виде дифракционной решетки изобра бов является низкое быстродействие. жение облучают когерентньм источникбм Цель изобретения - повышение быстсвета и при псмощи оптического спект- родействия. / рометра определяют интенсивность диф- Для этого на рабочей частоте устаракционных максимумов, по которой вы- навливают минимальное значение коэфчисляют индекс паразитной угловой моО Фициента отражения одной из двух отдуляции 11, ражающнх секций модулятора, измеряютНаиболее близким по технической его и по полученному результату оцени- сущности к предложенному является вают индекс Фазовой модуляции. способ, заключающийся в тсм, что вы- На фиг, 1 изображена функциональбирают Фильтр в качестве эталонного 25 ная схема амплитудного модулятора с четырехполюсника, рассчитывают на ЭВМ использованием отраженного сигнала; семьи амплитудно-частотных характерис- на Фиг. 2 - вид изменения модуля тнк и частотных характеристик. группо- коэффициента отражения от управляемового времени запаздывания при разных го модулирующнм напряжением активно- параметрах эталонного четырехполюсми- го сопротивления диода и частоты.)" ф салмин где фориула изобретения 50 Амплитудные модуляторы с примененйбм отраженногосигйала содержатмост 1, разделяющий падакщие и отраженные волны. К двум выходам его подключены идентичные отражающие секции2 и 3. Эквивалентная схема отражающей секции (ОС), с применением в ка" "честве управляющих элементов коммутирующих диодов, состоит из подстроеч-.ной емкости С, конструктивной емкости диода С, индуктивности вводов идержателя диода Ь и результирующихемкостей и сопротивлений переходовдиода, соответственно С и К. В коммутирующих диодах величина К зависит -от приложенного модулирующегонапряжения, то есть К, = Г(П 1) . Работу амплитудного модулятора характеризует модуль комплексного коэффици.ента отражения ОС д, Ь - соответственно, активнаяи реактивная составляющие ксиплексной проводи- у 5мости ОС; Ео 1Р (йр)р- +30("14 Р()+(1 - волновое сопротивление 35линии передачи;=ж 4 о - обобщенная угловая частоота;рЬ,р,; ш,=фа, аГлубину амплитудной модуляции в определяет величина изменения модуля комплексноо коэффициента отражения . ОС ЬГ по отношению его начального значения Го при управлении модулирую щим напряжением активного-сойротивле-, ния К (рис, 2) то есть При осуществлений амплитудной модуляции измерение фазового угла ксмплексного коэффициента отражения ОС , ащ агсВд (-26)/(1 - д - Ь), вызывает фазовую модуляцию. При этом индекс фазовой модуляции ф равен/1 фг сг3 где Ч Чг - фазовые углы коэффициента отраженияпри модулируемых сопротивлениях, соответствующих модулям Г и Г," соответственно.Предлагаемый способ опирается на экспериментально рассчитанную зави- симость Гм- минимальное значение модуля комплексйого коэффициента отражения ОС модулятора на рабочей частоте взависимости от модулируемого сопротивления управляющего элемента (фиг. 2точка А),К- коэффициент пропорциональности, зависящий от глубины амплитудной модуляции,Способ оценки индекса паразитнойфазовой модуляции в амплитудных модуляторах, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения быстродействия, устанавливают на рабочейчастоте минимальное значение модулякоэффициента отражения одной из двухотражающих секций модулятора, измеряют его и по полученнсму результатуоценивают индекс фазовой модуляции.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРР 342140, М., кл. О 01 К 29/06,СССР.2. Радиоэлектроника, Тезисы,Каунас, 1974, с. 168.714310 Составитель А. БеляевРедактор В, Сапирштейн Техред О.Айдрейко Корректор Е, Папп акаэ 9279/42ЦН 113035,илиал ППП ПатенТ, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Тираж 1019ИПЙ Государственногоо делам изобретений иМосква, Ж, Раушска Подпис нееитета СССРк рытийаб. р д. 4,/5