Электромагнитный дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 705324
Авторы: Кашицын, Покровский, Рубцов, Хориков
Текст
Оп ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик(61) Дополнительное к авт. свид-ву 22) Заявлено 21.09.77 (21) 2525741/25-28с присоединением заявки Рй(2 1)М. Кд. С 1 01 т 1 27/86 Государствевнык комитет СССР до делам изобретения3)приоритет Опубликовано 25.12.79, Бюллетень Рй 4 53) У,К 621 179088,8) открыт Дат ликования описания М. 12. 79 72) Авторы изобретения цов, В. И, Кашицьи Г. А. Хориков В. В(71) Заявител Первый Государственный ордена Ленина и орденаОктябрьской революции подшипниковый завод ЭЛЕКТРОМАГЙИТНЫЙ ДЕфЕКТОСКО 2 дающей и сигнальной обмоток и блок пробразования и индикации 23 .Но такой дефектоскоп имеет невысоне- кую точность измерения, Это объясняется условиями работы электромагнитных ля высокочастотных модуляционных дефектаскопов, Работа дефектоскопа при малыхуровнях относительной модуляции, порядка десятых долей процента, вызываетзатруднение в градуировке с высокойточностью. Кроме того, само измерениепроизводят при отключенном или обесто- еченпом вихретоковом преобразователе,что не дает возможности определить чувствительность в рабочем режиме.ение точи машиностроевано, наприхностных ден осивки чувс электромаг- высокочасшун том, с сигнальи парол Изобретение относится книю и .может быть испольэомер, для обнаружения поверфектов деталей подшипников методами разрушающего контроля.Известен магнитный дефектоскоп д контроля поверхностных дефектов, рабо ющий по модуляционному методу. Его действие основано а использовании в ревых. токов. В электрическую схему го дефектоскопа входит вихретоковый преобразователь, высокочастотный ген ратор, пороговый блок, исполнительный элемент и блок индикации 11 .Недостатком этого дефектоскопа ется сложность настройки и контроля его работой и невысокая точность.Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является электромагнитный дефектоскоп, который содержит последоьательно включенные генератор высокой частоты, преобразователь в виде возбужЦель изобретения - повышти измерений путем калибрательности дефектоскопа.Это достигается тем, чтонитный дефектоскоп снабжентотным генератором тока ивключенным последовательноной обмоткой преобраэовател705324 лельно вь 1 ходу высокочастотного генератора тока.На чертеже изображена схема предлагаемого устройства,Электромагнитный дефектоскоп содержит и оследовательно включенные генератор 1 высокой частоты, преобразователь 2 в виде возбуждающей и сигнальной обмоток 3 и 4, блок 5 преобразования и индикации в виде усилителя 6 вы 30сокой частоты, детектора 7, усилителя 8низкой частоты, порогового блока 9, исполнительного блока 10 и измерителя 11амплитуды и частоты, высокочастотного,генератора 12 с измерителем 13 напряжения на выходе и низкоомного шунта14, Шунт включен последовательно с об- .моткой 4 преобразователя и параллельновыходу генератора 12. 20Устройство работает следующим образом.Генератор 1 питает обмотку 3 преобразователя 2. Напряжение с обмотки 4йреобразователя 2 поступает на вход усилителя 6 блока 5. При подаче тока отгенератора 12 на низкоомный шунт 14,на вход усилителя 6 будет поступать напряжение, представляющее собой результатлинейного сложения напряжения преобра 30зователя 2 и шунта 14, имеющих различные, но близкие частоты, За счет возникающих при этом биений на вход усилителя 6 будет поступать модулированное35напряжение, причем, амплитуда модуляцииравна амплитуде падения напряжения нашунте 14, измеренного измерителем 13,а частота модуляции равна разности частот генератора 1, питающего,преобразователь 2 и генератора 12. Сигнал, усиленный усилителем 6, продетектированныйдетектором 7 и усиленный усилителем8, поступает на блок 9. Измеритель 11амплитуды и частоты, например электронный осциллограф, поЗволяет определи гьпри этом выходной сигнал после усилителя 8 по амплитуде и частоте, а амплитуда падения напряжения на шунте 14, измеренная в момент срабатывания порого 50. вого блока 9, будет чувствительностьюдефектоскопа по модуляции. Генератор 12и низкоомный шунт 14 образуют блок калибровки, который с помощью измерителя5513 позволяет осуществлять следующиеизмерения.Определять сквозной коэффициент усиления по модуляции канала усиления, как 4отношение напряжений, показываемых измерителями 11 и 13.ФОпределять максимум частотной характеристики или снятие амплитудно-частотной характеристики.по модуляции каналаусиления. Для этого частоту генератора12 регулируют так, чтобы измеритель 11показал максимум сигнала, при этом частота выходного сигнала и сквозной коэффициент усиления характеризуют максимум частотной характеристики каналаусиления. Измерение сквозного коэффициента усиления при различных частотахдает амплитудно-частотную характеристику канала усиления.Определять и калибровать чувствительность дефектоскопа по модуляции. Дляэтого на максимуме частотной характеристики определяют падение напряженияна шунте 14, при котором срабатываетблок 10 дефектоскопа.Определять характеристику эталонныхобразцов дефектов по уровню создаваемойимй модуляции для последующей калибровки дефектоскопов. Для этого включаютблок калибровки и по произвольно установленному напряжению на шунте 14 устанавлииваюг масштаб осциллограммы осциллографа 11 (измерителя). После этогоблок калибровки отключается и включаетмеханизм развертки дефектоскопа, на измерительной позиции которого установленэталонный образец дефекта, обеспечиваютпросмотр сигнала дефекта на экране осциллографа, и по масштабу определяютуровень модуляции, создаваемый даннымдефектом, являющийся исходной характеристикой для калибровки дефектоскопа.Уровень модуляции, создаваемый дефектоми определенный по осписанной методике,зависит от таких характеристик режимаработы преобразователя, как частота, ток,фазовая отстройка, скорость движенияотносительйо детали. Все эти показателирежима работы преобразователя легкоподдаются контролю и стабилизации и независят от типа и размера деталей, отконструкчи дефектоскопа. Поэтому присохранении этих режимов можно калибро-вочные характеристики, полученные наодних типах деталей и дефектоскопах, распространять на другие типы деталей идругие дефектоскопы,В процессе калибровки преобразовательдолжен находиться в рабочем режиме, нобез развертки контролируемой детали.705324 Составитель А. Матвеев кова Техред Л, Алферова Кор П. Сгец 0 19/46 Тираж 1073ИПИ Государственного комитепо делам изобретений и открыт, Москва, Ж-.35, Раушская на одписноеа СССРий;, д. 4/5 130 илиал ППП Патент, г.Ужгород, ул. Проектная, 4 Низкоомный шунт 14 должен иметь сопротивления на один-два порядка меньше полного сопротивления обмотки 4 преобразователя 2 тогда его включение не оказывает практического влияния на работу дефектоскопа, в связи с чем он может оставаться включенным во время работы дефектоскопа./Определение чувствительности дефектоскопа по модуляции производится в рабочем режиме, что позволяет повысить точность измерения. Фо рмул аизо бр ет ения Электромагнитный дефектоскоп, содеркаший последовательно включенные гене ратор высокой частоты, преобразователь 6в виде возбуждакщей и сигнальной,обмоток и блок преобразования и индикации, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точностл измерений йутем 5 калибровки чувствительности дефектоскопа, он снабжен высокочастотным генератором тока и шунтомвключенным последовательно с сигнальной обмоткой пре Ообразователя и параллельно выходу высокочастотного генератора тока. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР159327, кл, О 01 Ц 27/86, 1961. 2. Авторское свидетельство СССР413413, кл. б 01 й 27/86, 1971
СмотретьЗаявка
2525741, 21.09.1977
ПЕРВЫЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ ПОДШИПНИКОВЫЙ ЗАВОД
РУБЦОВ ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ, КАШИЦЫН ВАЛЕНТИН ИЛЬИЧ, ПОКРОВСКИЙ ВЛАДИМИР ФАУСТОВИЧ, ХОРИКОВ ГЕОРГИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/86
Метки: дефектоскоп, электромагнитный
Опубликовано: 25.12.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-705324-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>
Предыдущий патент: Устройство для наблюдения реакций импульсного фотолиза
Следующий патент: Демпфирующая масса для ультразвуковых искательных головок
Случайный патент: Устройство для обработки отверстий