Устройство для измерения отношенияинтенсивновти импульсных потоков

Номер патента: 1327776

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Минаев, Пьянков, Федотов, Шумаков

МПК: G01T 1/17, H05H 7/00

Метки: излучения, интенсивности, ионизирующего, канале, линейного, распределения, ускорителя

...А 2 определяется шириной по 2 кривой 1,(2) на полувысоте и равна График 1,(2) приведен на фиг.3, кривая 15. В случае двух протяженных сцинтилляторов длиной 1, находящихся один от другого ца расстоянии 2 о,,на фиг. 3 дает значение 1 (Е) длязначения 2(с 1+1)=а. Здесь величина6 Е, уже больше Ь Е, на 123. Перелом вувеличении 6 2 и соответственно нухудшении точности измерения наступает в районе значения 2(+1)=2 а/3,поэтому. увеличивать длину каждого иэсцинтилляторов больше а/ 3-ц неэффективно.Отношение диаметра торца сцинтиллятора к величине фокусного расстояния отражателя достигает значения- О, 1 и определяется расчетным путемиз выбираемой допустимой нерднародности показания измерителя от про- З 0дольной координаты сцинтиллятора,...

Номер патента: 646774

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Иванченко, Шепеленко

МПК: G01J 1/04

Метки: излучения, интенсивности, распределения

...фотоматериала. используется в качестве приемникаНаиболее близким по технической излучения, Сигнал с фоторезистора сущности к предложенному устройству . 8 через усилитель 9 подается на является известное устройство, содер вход осциллографа 1 О, на который жащее сканирующий элемент, собираю подается также сигнал синхронизации щую лийзу, приемник излученйя сс работой двигателя 4. Так .как на коллимирующей щелью связанный че- фоторезистор попадает излучение рез усилитель с осциллографом. Одна- лишь с узкой полоски, то ширина ко такие устройства имеют существен- этой полоски и определяет простра- ные недостатки. Сканирующий элемент, ственное разрешение. Ширина полоски в среднем по времени, поглощает определяется диаметром цилиндра и (или...

Номер патента: 1681658

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Минашкин, Селемир, Степанов

МПК: G01T 1/29

Метки: импульсного, потока, спектра, электронного

...что позволяетослабить (цлц исключить) расхождениепучка под действием кулоцовскцх снл.расталкивания в направлении, перпендикулярном направлению разделенияэлектронного пучка по энергиям. Этопозволяет увеличить ток пучка, достигающего регистратора,Таки) образом, сццмается жесткоеограничение ца величину тока пучка,достигающего регистратора: фокусирование потока перед коллцмироваццемобеспечивает возможность введения вдиспергцрующее магнитное иоле пучкас большим током, а Фокусцрующце своПства используемого в качестве дцспергирующего тороцдальцого магнитного поля обеспечивают достиженце этимпучком регистратора. В результатевозрастает (по сравнению с прототипом)мощность полезного сигнала, снимаемого с регистратора, ц за счет этогоувеличивается...

Номер патента: 857778

Опубликовано: 23.08.1981

Авторы: Жогин, Протодьяконов, Романков, Юленец

МПК: G01N 1/20

Метки: влажности, отбора, проб, сыпучих

...например в аппаратах спсевдосжиженным слоем,гЦель изобретения - повышение точности измерения влажности сыпучего материала и удобства устройства в эксплуатации.857778 3Указанная цель достигается тем, что корпусрасположен вертикально, вершиной конуса вниз,загрузочный патрубок соединен с нижней частьюкорпуса, а разгрузочный - с верхней, приэтом шнек установлен в нижней части корпуса, а диэлектрический датчик влажности, укреп.лен на корпусе выше шнека.На чертеже схематично изображена конст.рукция устройства, разрез.Устройство отбора проб для измерения влажности сыпучих материалов состоит из пологоконического корпуса 1, расположенного верти.кально, вершиной конуса вниз, загрузочного 2и разгрузочного 3 патрубков, соединенных соответственно с...

Номер патента: 439738

Опубликовано: 15.08.1974

Авторы: Бельская, Савушкин, Шокин

МПК: G01N 21/26

Метки: излучения, интенсивности, материалах, однородных, потерь

...установеньшего отклоннаправлении,ой преломляющ ение выходного Изобретение относится к области оптических измерений, в частности, к способам изучения оптических свойств материалов,Известен способ измерения потерь интенсивности излучения при его прохождении через оптически однородную среду. Известный способ заключается в модуляции проходящего излучения посредством изменения его пути в исследуемой среде, т, е. модуляции измеряемого параметра. Модуляция измеряемого параметра производится перемещением клинообразного образца относительно оптической оси зондирующего потока излучения,Недостатком известного способа является зависимость результата измерения от однородности фотоприемника по площади фотокатода, так как при перемещении образца...