Способ определения размера дефекта в направлении просвечивания

(46) Дата опубликования описания 62.11.77Гаоударотавнный квинтетСоаата Инннотроа СССРао долам нзоорвтвннйн открытнй(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ= саттон.ср Изобретение относится к неразрущвющим методам контроля качества материалов и может использоваться для определения размера дефекта в направлении просвечивания,Известны способы определения размере дефектов в материале или изделиях, основанные на сравнении почернения рвдиографической пленки в участке, соответствующем месту расположения дефекта, с почернением на снимке. канавок дефектометра путем визуальной оценки или фотометрирования 11, 123, Г 33Наиболее близким техническим решением является способ определения, размера, дефекта в направлении просвечивания, заключающийся в сравнении изображений дефекта и канавок дефектометра при просмотре рент. генограмм в проходящем свете 4.Недостатком известного способа является трудоемкость рвдиографирования и недостаточная производительность, так квк для получения желаемого результата необходимо сделать 4-5 просвечиваний.Бель изобретения - повышение экспрес си ости. Достигается это тем, что создается дополнительный световой поток переменноймощности в направлении наблюдателя и,плавно повышая его интенсивность до ис чезновения изображения дефекта и соответствующей канавки дефектометра, устанавливают размер дефекта по размеру наиболее глубокой канавки дефектометра, иэображение которой пропадает при техже условияхнаблюдения,При постоянной глубине дефекта контрастность рвдиогрвфического снимка при обычном рассматривании на просвет можно определить как отношение интенсивности све 1 з та, прошедщего через изображение дефекта( ЗА), к интенсивности света, прошедшегочерез пленку вблизи дефекта (2,). Этавеличина для данного снимка постоянна,т, е. Если добавить к прошедшему через пленку световому потоку совпадающий с ним поф направлению равномерный световой поток 3, 577442го отнощение суммарных интенсивностей света будет стремиться к единице при 3-аф и изображение дефекта сольется с фоном.Аналогичным образом уменьшается конч растность изображения канавок дефектомеч ра. Это позволяет заменить многократное радиографирование с последовательно умень шающимися экспозициями рассматриванием одного первоначального снимка. При атом точность определения глубины дефектов 1 р возрастает, а трудоемкость снижаетсяОпределение глубины дефекта производит.я путем радиографирования дефектного участка изделия и дефектометра таким образом, чтобы просвечиваемая толщина материала в 1 к месте расположения дефекта и в месте расположения дефектометра была одинаковой, После отообработки готовый снимок изделия и дефектометра (или поочередно) помещают перед основным источником света при выкпо- гО ченном дополнительном источнике и находят иэображение дефекта. Включив дополнительный источник света, постепенно увелинивают его яркость, добиваясь исчезновения иэображения дефекта. Отсчитывая номер наиболее 5 глубокой канавки дефектометра, которая также на видна, находят размер дефекта, равного известной глубине атой канавки.Введение дополнительного светового потока между пленкой и наблюдателем (см. 30 чертеж) осуществляют, например, с помощью прозрачного стекла 1, отражающего световой поток 2 от бокового источника света в сторону наблюдателя 3 и пропускающего основной световой поток 4, прошедший че рез пленку 5. Угол наклона и расположение стекла выбирают такими, чтобы изображения источников в точке наблюдения совпадали. Это позволяег уменьшить влияние неравномерности световых потоков на точность определения размера дефектов.Яркость дополнительного и основного источников света регулируют, например, с помощью реостата.формула изобретенияСпособ определения размера дефекта внаправлении просвечивания, заключающийсяв сравнении изображений дефекта и канавокдефектометра при просмотре рентгенограмми проходящем свете, о т л и ч а ю ш и йс я тем, что, с целью повышении акспрессности, создаюь дополнительный световойпоток. переменной мощности в направлениинаблюдателя и, плавно повышая его интенсивность до исчезновения иэображения дефекта и соответствующей канавки дефектометра, устанавливают размер дефекта поразмеру наиболее глубокой канавки дефектометра, изображение которой пропадает притех же условиях наблюдения,Источники информации, принятые во вниманиепри экспертизе.о1. Румянцев С. В. Применение радиоактивных изотопов в дефектоскопии, М. Госатомиэдат, 1960,2. Румянцев С. В., Радиационная дефектбскопия, Атомиздаг, 1968, с. 263.3, Токмаков В. С.,Мойщ Ю, В, Рентгенсьскопия в металлургии, М., Металлургия,1976, с. 53,4, Авторское свяидетельство СССРМ 458744, М. кл. С 01 К 23/О 4, 1974.5774422Составитель Е. Сидохин Редактор Е. Гончар Техред , 3, Фанта Корректор С. Патрушева Заказ 3674/33 Тираж 1101 Подписное БНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и открытий113036, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5филиал ППП: Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4