Способ контроля качества магнитных головок

Номер патента: 555128

Авторы: Лукьянов, Рау, Халецкий

ZIP архив

Текст

ОП ИСАН ИИЗОБРЕТЕН ИЯ ли на гм.д Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик(23) Приоритет 51) М. Кл.С 11 Ь 5/4 Государственный комитет Совета Министров СССР ие делам нзобретениЯ и открмтий(45) Дата опубликования опнсаннт 02.06.77 34 852 2088.8)(72) Авторы изобретения едкий, А. Е. Лукьянов и Э, И. Ра М 71) Заявитель 54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ ГОЛОВОК Известен итных голов ии микросконабора ряд мок и ие по товернов пр оля и о его качестве иИзобретение относится к приборостроению, в частности, к способу контроля ка чества магнитных головок, преимуществен 1 но головок записи,способ контроля качества маг- ок, основанный на использова па с мерной шкалой в окуляре а зеркал. Этот способ трудозволяет иметь достаточно до 1 О едставление о распределении.качестве, а, следоватеттьнв, Й спытуемей головки. Прототипом изобретения принято теЫй ческое решение, представляющее себбй способ контроля качества магнитных головок, основанный на анализе картин распределения полей рассеяния, Но лри использовании. этого способа на определение причин аномального распределения полей рассеяния конгролируемых головок уходит достаточно много времени, чтб не всегда, особенно в условиях массового производства, приемлв Целью изобретения является сокращениевремени определения причин аномальногораспределения полей рассеяния,Это достигается тем, что картину полярассеяния реальной магнитной головки сравнивают с набором трафаретов, полученныхв результате интерференции от наложенияупорядоченнойструкгуры линий на построенные эквипотенцкали головок с учетом априорно йредлолагвемык искажений формы ихрабоЧей побертитости, возникающих, например, вследствие замагннченности носика,наклепа, закругления кромок зазора и других причин.На фиг. 1 изображена искуственно выявленная картина поля рассеяния с эквипотент:циалами, построенными с помощью интегратора, а на фиг. 2 - картина реальното полч интегральной магнитной головки, получеьного с помощью электронного микроскопа,Для получения трафаретов найденный ходэквипотенциалей от поверхностей моделеймагнитных головок с априорно предполагаеными искажениями наносят на лист или калки, на которые накладывают любым образоьвыполненную (например, вырезанием) подобфранную упорядоченную структуру линий или клеток. В результате интерференции от упо. рядоченной системы параллельных линий и расходящихся эквипотенциалей возникает му аровый узор. Эта картина аналогична картине, возникающей в электронном микроскопе, т.к. обе они получены в результате интерференции от параллельных и радиально расходящихся линий, ЮНа фиг. 1 и 2 приведены конкретные ре- альные картины, первая иэ которых была получена при использовании заведомо бездефектной магнитной головки и с использо- б ванием трафаретов, а вторая - при использовании электронного микроскопа, Изготов,ленная головка близка к идеальной.Преимущество предлагаемого способа 20 также и в том, что его можно использовать для контроля полюсных наконечников головок, где оперативность контроля также необходима.формула изобретенияСпособ контроля качества магнитных головок, основанный на анализе картин распределения полей рассеяния, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью сокращения времени определения причин аномального распределения полей рассеяния, картину поля рассеяния реальной магнитной головки сравнивают с набором трафаретов, полученных в результате интерференции от наложен ния упорядоченной структуры линий на построенные эквипотенциали головок с учетоц априорно предполагаемых искажений формы их рабочей поверхности, возникающих, например, вследствие замагниченности носика, наклепа, закруглениякромок зазора и дру гих причин., ч ееф фффф Ьфеее ффффр,Уфч"зув 16 йфЬ;Мфй.ф, ф: , г 1ф с.4, е ГфЭ фсффф еЯу.Я,ЬЩщддщ Составитель В БровкинТехред 1 А. Богдан ктор 1 Н. Бугако Редактор 1, Нурнал Тираж 76 росударственного комит по делам изобретен113038, Москва, Жвта Совета Миий и открытий5, Раущская нв л с 1/1 лщиал Т 1 ПП Патент", г. Ужгород, ул, Проекта каз 416/12 Подписное 11111111111 1 нистров ОСР

Смотреть

Заявка

2313089, 15.01.1976

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8466

ХАЛЕЦКИЙ МИХАИЛ БОРИСОВИЧ, ЛУКЬЯНОВ АЛЬБЕРТ ЕВДОКИМОВИЧ, РАУ ЭДУАРД ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: C11B 5/46

Метки: головок, качества, магнитных

Опубликовано: 25.04.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-555128-sposob-kontrolya-kachestva-magnitnykh-golovok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества магнитных головок</a>

Похожие патенты