Способ измерения вторичного магнитного поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
15475583 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ СОюз СОеетских С оцкеннстицеских Реснубннк з ф(6 ) ДОтолителаписавт. сви;1;: Кл. 6 01 ч 3/ 22) Заявлено 02,12,72 21) 1852232/26-25с присоединением заявки ЛЪ23) Приоритет Опубликовано 30.06.75. Бюллетень М 24 Дата опубликоваиия оппсаиия 01.12.76,Я осударствен Совета Мини оо делам из ый комитет трое СССР оретений 03) УДК 530,837,08(088.8) и откротии 2) Авторы изобрете и Г В. Молчанов, М, В. Радионов и Г. А. Ленинградский ордена Ленина Трудового амеии Государственный университет им. Л. Жданова итель НОГО МАГНИТНОГО ПО На фиг. 1 иривслснд блок-схема системы коммутацией рамок, с помощью которой может быть реализован предлагаемый способ, гле 1 и 2 - взя:мио псрпеиликуляриые рамки, прелиазиачеииые лля излучения першчиого поля и приема вторичного поля; 3 в в геисрдтор, подающ 1 ш переменный ток в олпу из рдмок лля создания псрвичиого поля, 4приемная часть системы, 15 егистрируОщя 51 слабое вторичное поле ид фоне помех и от иескомпспси 1 зовдпио дасти первиПОГО пол 51, д - коммутатор, осуществляющий периодическое вздимиое переключение рамок с генератора пд приемную часть и обратно, 6 - блок амплитуднофазовой компенсации помехи в рамках от первичного поля, 7 - детектор, 8 - избирательиш усилитель, вьдел я ющий огибающую продетсктироваиного сигнала, 9 - регистрирующий прибор лля визуальной или документальной регистрации вторпчиого поля при измереиии по профилю.На фиг. 2 дян график ямплитулио молули.роваииого сигиаля.В момент времени, соответствующий первому полупериоду частоты коммутации зике, в частмагиитиого ей среде, возмкл с пере 5 15 иодическое взаимное псрек,иочеиие ряенератора иа приемник и обратно),дят ие мок с 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВТ Изобретение относится к геофиности, к регистрации вторичногополя вихревых токов в проводящбуждаемых первичным полем рамениым током.Известен способ измереиия вторичного магнитного поля, основанный на использовании двух жестко связанных взаимно перпеидикуляриых рамок, расположенных иа поверхиости изучаемой среды таким образом, что плоскость олиой рамки составляет некоторый угол с дневной поверхпостью, причем в рамках произведена электрическая компеисапия суммарного поля,Недостатком этого способа является сиижеиие производительности раоот из-за иеобходимости провсчеиия электр 1 П 1 еско коеисации и поворота рамок в каждой точке иаблОдеии 5 по профилю.Цель изобретения . Повышеиис производительности работ ири измерении вторичного магнитного поля.Эта цель достигается тем, что производят компенсацию в исходиои точке, а затем производят периолическос взаимное переключеиис рамок с генератора иа приемник и ооратио с частотой, меньшей рабочей частоты генератора, а в приемнике вылеля 1 от огибающуо амплитудио-,модултровяииого сигидля с плитудой, пропорциОиа,чьиой Вт 01 зи ПО.1 полю. тота, с которои произворамец 1 1; 2 ио./(/оч(/(.(ОГ/)стп)сц/н) е спсрЯторс с и е ир/сл/ПОЙ //ст// 1 Гс:/ еол 1 ГЯТОР 5. Б,10 К сМИЛИТ;ПО-фс/;ООИ КОЛ///с////- Ии 6 ПО/КЛ 10 ЕИ Т/К)1(с ЧСРСЗ ЕОЛМЛТс/О 5 е рялке 2 и Ос"ц(.1 тВляет комис/Г/ Ц 1 сл/л- мариого Гип/яла, 1/вод//мого 1/и )//л//(с 2 ог перви Пос поля, Гоз;яясмгчр,/ч кой 1 и вторичного воля с/Г ииу /яемой реды1 я детектор 7 с рамки 2 по ту/с г с/1//л,=- Г, - (,1 ОЛ С 1( И )1 О; СС 1 с 1 ) 5 С/(С 11/(.,10 ВГОЙ иог/л/(рц)-, Сеол- ЛЛс 1 ОР с) ПСРЕ,/Ос 1 СТ )сЛЕЛ 1 Ис ИИСЛ/1/Л 0 ЧаетЬ с. я р;/ЛКЛ 2 ця ГСИСртлр 3. О:ИО)ре- МСИЦО ОЛОК с/Л//Л/ГЛ10-с/./Ов 0/1 ЕОМ//С 1 с/1 В / 6 /Н)дЕЛЮЧЯЕТСя К рс/Л/кс 1. 11; дСТЕКТОр 7 ПОГТЛПс 1.Т ГИГИ 1ГС,-= (Г., (/.,)-; С = - . С// С.) СС+- , Г) = л(/)- .2( .ПОДООРЛ 1 Рс)МОК С Олц:И(ц Л Ц И( Р// ЛН.Т и Л И и коррекцией коэффи/и/сч/г исрсяяч/лопью рсзГсториогс) делителя мо ецо умс//, - Пить ел//чп/гс ЛГ=- Г - ( (ц до с)/(//д//сл/- го 1/Орс)гя с/увствцтсл//ос, т. с. л(/) - .С),) Л //ЛИТС, ИИ)О//КОД.Т ВЫ;С,Сц//С О.ОЯ/О//С/.с/с Ото 1 , ко Г)Рс 1 5 Яс тл (1)цкс/1)л сс 5 Р(Г//стР//Т/) 0 М 1р ( , лги / ( ) ( ) ,(.с :С,/0(ОО /З Л/Сре////5 ТС) р//с с)Г) 1/Г/с)/сЦО 1 Я ( //НГ/и;Ос////(.Л/,КЛ,; 5/(ССГЕ) Г 51;с/ц 1.1//М/0 /С)//С/,//Е Г/ЯРЦЬ/. Рс/МСТЕ, 1)И(ОГ/(- к( Е Ис/ 1/0 с.ркцс)с И / Л 1 с/(.Л 10 ( ПСДЬ ТИ ЕЦЛ О);)/;/ОМ, О И,ОСЕ)Г ОД 1/Ой Р/1 МК 1 ГО.Г/Я 15/с И(Е)ТОЫЦ Л/Н)Г/ ,ИСЦОЦ ИОВСРе.Д Фиг 2 Составитель Г. Петр екред Т. Мнронов Ыоррекго Коляда Редактор сцпова комиооретЖ-З 5,иодат ака; 5829 Иод, М 16 Ц 11 И 11 П И Государственного по делам и,13035, Москва,Оол. ти:. костромского уиравлсиия1 ираки 78 ета Совета финист ений ц открытий Р,"мшск,: и:.;., " 1льсти, июли "рафии11 од ни иров СССРкии;киои тор. овли
СмотретьЗаявка
1852232, 02.12.1972
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. А. А. ЖДАНОВА
МОЛОЧНОВ ГЕОРГИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, РАДИОНОВ МИХАИЛ ВИКТОРОВИЧ, АНТИПОВ ГЕННАДИЙ АНДРЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01V 3/06
Метки: вторичного, магнитного, поля
Опубликовано: 30.06.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-475583-sposob-izmereniya-vtorichnogo-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения вторичного магнитного поля</a>
Предыдущий патент: Сейсмическая коса для работы в водных бассейнах
Следующий патент: Вертикальный гравитационный градиентометр
Случайный патент: Счетчик атмосферных ионов