Установка для исследования термостойкости хрупких материалов

Номер патента: 706745

Опубликовано: 30.12.1979

Авторы: Баланкин, Башлыков, Скоров, Ярцев

МПК: G01N 3/60

Метки: изменяющейся, исследования, образцов, температуры, условиях, электропроводящих

...стакан 3 выполнен заодно с камерой 1и является одним из электродов, а стакан 4является вторым электродом и изолирован откамеры 1 нижней крышкой 6, выполненной.5нэ изоляционного материала), средство 7 нагрева образца прямым пропусканием тока. На ста.канах 3 н 4 закреплены нагреватели 8 и 9 ввиде спирали, Для измерения температуры образца предназначена термопара 10. Камера 1 26выполнена из злектропроводящего материала.Установка работает следующим образом.При исследовании образца через него про.пускают импульс тока, например, от батареи 71) Заявитель Московский ордена Трудового Красного Знаминженерно. физический институтФ.ЦЙИИПИ Заказ 8209/37 Тираж 1073 Подписное ПП, Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 ил 3"70674...

Номер патента: 744119

Опубликовано: 30.06.1980

Авторы: Вдовин, Вдовина

МПК: E21B 47/00, E21B 47/14, G01V 1/00

Метки: вдовина, горных, исследования, образцов, пород

...и поперечной упругих волн по 5 1 О 5 26 35 30 35 твердой фазе образца горной породы из выраженияРЬ, РЗ1 т =;ж Ь Фк ,где ( - время распространения упругой волны в инертной жидкости;( - критические углы образования продольной и поперечной волн.Физическая основа способа исследованияобразцов горных пород заключается в том,что критический угол образования упругойволны, падающей из твердой среды на ееграницу с жидкостью, не зависит от скорости волны по объему образца, который включает в себя как твердую фазу породы, таки поровое пространство, а определяется скоростью этой волны в бесконечно тонком слоепороды на ее границе с жидкостью, т.е. втвердой фазе (скелете) горной породы. Припадении упругой волны из жидкости с плотностью , и скоростью...

Номер патента: 1119840

Опубликовано: 23.10.1984

Авторы: Ермаков, Медведев, Подолич

МПК: B25J 11/00

Метки: вставка, исследования, криостата, образцов, оптического

...с дополнительными внутренней и наружной трубкой, подпружиненный упор и тол 50 катель, закрепленные на наружной трубке параллельно, линии визирования с диаметрально противоположных по отношению к корпусу сторон, при этом кювета расположена вдоль вертикальной оси вставки. На чертеже изображена предлагаемая вставка криостата для оптического исследования образцов, общий вид. из упругого материала, вставка дополнительВставка содержит корпус 1, на котором закреплены микропроектор 2, рейка 3 и резьбовая втулка 4. В корпусе 1 установлена с возможностью вертикального перемещения трубка 5, соединенная с корпусом 1 посредством сильфона 6. В трубке 5 расположены и жестко связаны с ней трубкии 8. На трубке 7 закреплено зубчатое колесо 9 и рукоятка...

Номер патента: 1238173

Опубликовано: 15.06.1986

Авторы: Басенок, Мокеев

МПК: H01J 37/20

Метки: воздействии, исследования, образцов, ультразвука, электронно-микроскопического

...в окне 8 и дает его микроскопическое изображение или дифракционную картину.Согласно фиг. 1 13 - эпюра колебаний стойки 1 и продольных колебаний образца 7;14 - эпюра продольных колебаний стойки 2 и изгибных колебаний образца 7.Работа устройства осуществляется следующим образом.На конце внешней боковой поверхности вертикальной стойки 1 Н-образной пластины закрепляют источник 4 ультразвуковых колебаний, а между противоположными торцами вертикальных стоек 1 и 2 закрепляют объектодержатель с образцом 7 тонкойфольги. К свободному торцу вертикальной стойки 2 Н-образной пластины прикрепляют дополнительный источник 10 ультразвуковых колебаний. При включении источника 4 ультраз вуковых колебаний в вертикальной стойке 1 Н-образной пластины...

Номер патента: 1746261

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Ватулев, Виноградов, Сомсиков, Толстой

МПК: G01N 21/01

Метки: исследования, образцов, спектрофотометр, спектрофотометрического

...и его введению и выведе 101006-ному диафрагмированию высокотем- нию в этом канале в процессе спектрофото- .пературного фонового излучения и сопряже- метрирования в направлении стрелки А,ниювуказанном положении центра кривизны измерению разностных сигналов Омв, Ол иэтого сферического зеркала с входной спек- вычислений спектральных коэффициентовОЙПоказанному на фиг,1 сопряжению вы 6 О Ясокотемпературного фонового излучателя 1с входной спектральной щелью 7 через оп- Полученные результаты спектрофототический коммутатор 3 и линзу 2 соответст- метрирования являются окончательнымивует размещение этого образующего для спектров поглощения с оптимальными20. низкотемпературный фоновый излучатель . интенсивностями полос поглощения, со 10...