Устройство для анализа распределения микрочастиц

Номер патента: 343201

Авторы: Баум, Войтинский, Воронин, Всесоюзный, Вуцен, Мит

ZIP архив

Текст

343201 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союа свеетокик Социалиотичвокик РввпубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 03.1 Ч.1970 ( 1421275/26-25) М. Кл. 6 01 п 15/06 с присоединением заявкиПриоритет комитет по делам иаобрвтвний и открытий при Совете 1 йиниотров СССРЗаявитель УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА РАСПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРО 1 АСТИЦПредлагаемое изобретение относится к устройствам для анализа распределения микро- частиц, взвешенных в электролитах, по их объемам или размерам.В известных приборах ведется последовательный анализ частиц различных объемов, что значительно увеличивает время анализа и приводит к определенным потерям в статистике,Цель изобретения - создание устройства, позволяющего вести точный параллельный анализ распределения микрочастиц по объемам, линейным размерам и поверхностям,С этой целью на выходе усилителя включена схема привязки к нулю, выполненная в виде дополнительного усилителя и эмиттерного повторителя с электронным ключом, соединенным через формирователь стандартного импульса со схемой опредления начала плоской вершины импульса датчика, состоящей из аттенюатора и дифференциального усилителя, а выход схемы начала плоской вершины импульса датчика через время - импульсное вычислительное устройство соединен с анализатором.На фиг. 1 дана функциональная схема устройства в режиме анализа микрочастиц по объемам; на фиг. 2 - функциональная схема устройства в режиме анализа по линейным размерам или поверхностям, Выходной импульс конду кто метрического датчика 1,амплитуда которого пропорциональна обьемучастицы, усиливается малошумящим элек 5 тронным КС - усилителем 2 (фиг. 1), Длятого, чтобы выходной уровень напряжения неменялся в зависимости от загрузки усилителя,на выходе его применена схема жесткой привязки к нулю, состоящая из повторителя 3,10 дополнительного усилителя 4, и ключа 5.До тех пор, пока на выходе усилителя 2нет импульса, ключевая схема 5 открыта, ивыходное напряжение повторителя 3 равнонулю. Импульс напряжения на выходе усили 15 теля 2 усиливается дополнительным усилителем 4 и закрывает ключ 5. После прекращения действия импульса ключ 5 возвращаетсяв исходное состояние,Импульсы кондуктометрического датчика20 имеют значительную протяженность во времени (десятки микросекунд) и пологие фронты.Серийные анализаторы импульсов рассчитанына работу с датчиками излучения, импульсыкоторых имеют длительность порядка одной25 микросекунды, Для формирования такого импульса с сохранением амплитуды выходногоимпульса усилителя 2 применена специальная схема определения начала плоской вершины. Она состоит из аттенюатора 6, линии3задержки 7, дифференциального усилителя 8 и соединена через формирователь 9 с электронным ключом 10.Устройство работает следующим образом. Выходное напряжение схемы привязки к нулю подается через аттенюатор 6 и линию задержки 7 на два входа дифференциального усилителя 8. Разность напряжений /7 и /6 формируется в прямоугольный импульс, задний фронт которого всегда будет проходить несколько позднее начала плоской вершины импульса кондуктометрического датчика вне зависимости от длительности его переднего фронта. Задним фронтом выходного напряжения усилителя д запускается формирователь импульса стандартной длительности 9, который, в свою очередь, открывает электронный ключ 10, и 1 на вход анализатора 11 поступает короткий импульс с амплитудой, равной амплитуде длинного выходного импульса схемы привязки к нулю.В случае работы устройства в режиме анализа распределения микрочастиц по линейным размерам или поверхностям в его состав вводится вычислительное устройство время - импульсного типа реализующее степенную функц,ию.В этом случае устройство работает следую. щим образом. Задним фронтом импульса схема определения начала плоской вершины опрокидывает триггер 12. Триггер 12 своим единичным выходом запускает генераторы экспоненциального напряжения 18 и 14, выходные напряжения которых описываются формулами:О, =0114 - 14Напряжение 1/подается на один из входов схемы сравнения 15, а на второй вход подается усиленное напряжение датчика У. В момент равенства У, и 01 з, определяемого из соотношения1 = - 1 пзСУосхема сравнения 15 через формирователь стандартного импульса 9 открывает ключ 10, и на выходе устройства появляется импульс,р 1 з1 --где А=110 " коэффициент преобразования,Таким образом, подбирая постоянные време 15 ни т 1 з и тн, можно получить любой показатель степени. В частном случае, когда ведется анализ распределения микрочастиц по диаметрам,1314 3 20 Предмет изобретенияУстройство для анализа распределениймикрочастиц по объемам, взвешенных в электролитах, содержащее кондуктометрический датчик, усилитель и многоканальный анализатор, отличающееся тем, что, с целью повы шения точности анализа, на выходе усилителя включена схема привязки к нулю, выполненная в виде дополнительного усилителя и эмиттерного повторителя с электронным ключом, соединенным через формирователь стан дартного импульса со схемой определения начала плоской вершины импульса датчика, состоящей из аттенюатора и дифференциального усилителя, а выход схемы начала плоской вершины импульса датчика через время-им пульсное вычислительное устройство соединенс анализатором. Выходной импульс формирователя 9 возвращает в исходное состояние триггер 12, подготавливая схему к приходу следующего им пульса датчика.В обоих режимах выходные импульсы уст.ройства подаются на вход анализатора 11, который строит кривые распределения им.пульсов по амплитудам. Таким образом полу. ЗО чаются красивые распределения частиц пообъемам или по линейным размерам в зави.симости от режима работы.343201 н нулю Схема определения начала плоской аршины фиг. 1Функциональныйфиг 2 преооразобательСоставитель Е, Бабарина Редактор Л. ВасильковаКорректор Л. Царьков 1 Заказ 2593/11 Изд.1134 Тираж 406 Г 1 од 1 н 1 снос Ц 11 ИИПИ Комитета по делагя изобретений и открытий при Совете Министров ССС 1 Москва, Ж.35, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2

Смотреть

Заявка

1421275

Г. И. Воронин, Р. Ф. Баум, В. Г. Войтинский, В. А. Вуцен Ю. Е. Медведев, В. В. Мит, Всесоюзный научно исследовательский биотехнический институт

МПК / Метки

МПК: G01N 15/12

Метки: анализа, микрочастиц, распределения

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-343201-ustrojjstvo-dlya-analiza-raspredeleniya-mikrochastic.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для анализа распределения микрочастиц</a>

Похожие патенты