Способ определения глубины осветленного слоя в сгустительном аппарате

СОК)3 СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК ИСАНИЕ ИЗОБРЕ ИЯ ВТОРС(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕ ОСВЕТЛЕННОГО СЛОЯ НОМ АППАРАТЕ (57).Изобретение относит. измерительной технике и менение в угольной и Сущность изобретения; из ляет повысить точность из. осветленного слоя в сгуст те путемизмерения концефазы на двух различных тельно поверхности слива НИЯ ГЛУБИН В СГУСТИТЕЯ ся к контрольно- может найти приромышленности, обретение позвомерения глубины ительном аппарантрации твердой глубинах относи 1 ил 1 табл,тель- светленного слоя невысока, Затем следует эона, для которой угол наклона касательной к кривым велик, Этотдиапазон называется "зоной высокой чувствительности", Он постепенно переходит в зону с низким углом наклона касательной и низкой чувствительностью измерения глубины осветленного слоя, которая называется "зоной низкой чувствительности".,Для обеспечения высокой точности измерения глубины осветленного слоя необходимо, чтобы измерительный диапазон .совпадал с "зоной высокой чувствительности" на графике, а задайное значение глубины осветленного слоя располагалось , приблизительно посередине измерйтельного диапазона, Кроме этого, необходимо сде:латьмаксимально узкой "мертвую зону" при измерении малых значений глубины осветленного слоя;Как можно видеть, между зоной высокой чувствительнОсти и зоной низкой чувствительности нет резкой границы, Естественно ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР(71) Луганский филиал Государственного проектно-конструкторского и научно-исследовательского института Гипроуглеавтоматиэация(56) Хан Г, А. Автоматизация процессов обогащения. М.: Недра, 1964, с, 354,Авторское свидетельство СССР Ь 297585, кл. С 02 С 1/06, 1962; Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может найти применение в угольной промышленности.Целью изобретения является повышение точности измерений.На чертеже представлен график функции О = О(Но) для разных значений и (йследовательно Ь 2),При определении высоты осветленного.слоя предлагаемым способом мы вначаледолжны измерить концентрации твердойфазы на разных уровнях С 1 и С 2, затем найтиих отношение О, а потом по известному Орассчитать величину глубины осветленногослоя. Погрешность определения глубиныосветленного слоя зависит от погрешностиопределения параметра О и угла наклонакасательной к кривой функции О = О(Но).Чем круче угол .наклона касательной, темчувствительнее и точнееизмерение высотыосветленного слоя.На графике видно, что в диапазоне 0Но0,25 угол наклона касательной ко всемпредставленным на графике кривым мал,Следовательно, в этом диапазоне, который 5 Ц1798665 05 6 01 й 21/47, 6 05 О 27/00 называется"мертвой зоной", чувс ность и точность измерения глубинПолученная числе висимость достаточно ется выражением Но "2,612 1- ех.Измерительный д тленного слоя, в кот ксимальная чувстви мерений, равениными методами заточно аппроксимирур(-0,ЗЗЗпЯ.йапаэон глубины осором обеспечивается тельность и точность ве ма из го из в Н 1 х Ь 1Заданное значение высотслоя должно располагатьсмерительного диапаэонэНо-Н/2,Иэ вышеописанных формыражеиие, определяющее, влубииа Ьг должна быть большАбсолютная величина диаой зоны" определяется выражН = 0,25 Ь 1 Нс,ы осветленно.- я посередине ул вытекает сколько раэ е глубины п 1. аэона "ме рт- ением предложить в качестве границы значение , Но, для которого угол наклона касательной к соответствующей кривой принимает одно и то же значение для разных п, В этом случае зона высокой чувствительности для разных значений и будет различной, В качестве граничного значения мы задали угол наклона касательной, тангенс которого равен 0,1,В таблице представлены рассчитанные численным методом значения Но,.являющиеся граничными между зоной высокой чувствитЪльности и зоной йизкой чувствительности взависимости от величины и.Формула изобретения1. Способ определения глубин45 ленного слоя в сгустительиом авключающий измерение концетвердой фазы иа глубине Ь 1 атноповерхности слива, о т л.и ч в ютем, что, с целью повышения точнос50 рений, дополнительно измеряют. рацию твердой фазы на глубинглубину Н осветленного слоя опредформулеЬ ц осветппарате, итрации сительно щийс я ти измекои центепг, а еляютпо 5 и (17 хния О х" + ореиь ураЬгй 1;С 1/Сг; где х и. Однако при атом уменьшается сам измерительный диапазон. В результате исследова 5 ний технологического процесса осаждения.твердой фазы в сгустительных аппаратахустановлено, что оптимальным являетсясоотношение, когда заданное значение глубины осветленного слоя приблизительно в10 четыре раза превышает величину "мертвойзоны".Таким образом, дополнительное измерение концентрации твердой фазы на глубине п 2 с определением глубины осветленного15 слоя позволяет повысить точность измерения глубины осветленного слоя за счет исключения погрешности, обусловленнойколебаниями концентрации в слое осадка,Кроме этого, определение концентраций20 твердой фазы на глубинах, установленных всоответствии с формулами, позволяет дополнительно повысить точность измеренийза счет проведения измерений в зоне наибольшей чувствительности.25 В данном случае погрешность определения глубины осветленного слоя в сгустительном аппарате будет определяться, восновном, погрешностью определения концентрации твердой фазы в пульпе, Учитывая,З 0 что современные средства определения концентрации твердой фазы способны производить измерения с погрешностью не более2,5 фто в самом неблагоприятном случае,когда концентрация на глубине п 1 определя 35 ется с погрешностью+2,5 , а на глубине Ькопределяется с погрешностью -2,8 , притипичных значениях параметров; й 1-0,25 м; и - 4; О - 0,7 - погрешность определения глубины осветленного слоя ие пре 40 высит 10 отн. ,