Способ измерения профиля поверхности

(9) (3)5)5 0 01 В 5/2 37253 А 1 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(57) Изобретение отно ОИЯ ПР сится к области изм Наибол технической мерения па с помощью матрицы ис контактного ность матри вердителя путем запол бираются с ее близким к предлагсущности являетсяраметров профиля ислепка, Для контролпользуют слепок, сосслоя, наносимогоцы, смеси на основеЧасти слепка, понения углублений мпомощью клеящего в аемому по способ из-. оверхности я профиля тоящий из на поверх- смолы, отлученного атрицы, соещества. Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к способам измерения профиля поверхности, например, крупногабаритных сферических изделий, и измерения радиуса их кривизны,Известен способ измерения профиля поверхности, например радиуса кривизны сферических изделий; с помощью сферометра.Недостатком способа является невозможность измерения и контроля поверхности крупногабаритных изделий. рительной техники. Целью изобретения является расширение области применения путем измерения радиусов как внутренних, так и наружных сферических поверхностей крупногабаритных иэделий, Сущность изобретения заключается в том, что для измерения формируют "слепок" поверхности с помощью свернутой вокруг эластичной пленки, например магнитофонной. "Слепок" используют в качестве образца измерения параметров профиля поверхности и радиуса кривизны. Изобретение обеспечивает возможность измерения радиусов кривизны крупногабиритных сферических изделий. 3 ил,Недостатки способа: необходимость использования дефицитных материалов (гипс, цемент, смола, отвердитель, наполнитель и т.д.); большая трудоемкость изготовления слепка, значительная себестоимость, необходимость тщательной подготовки измеряемой поверхности.Кроме того, способ не может быть использован для измерения профиля поверхности сферической формы, так как для этого необходимо получить слепок в виде правильного шарового сегмента, измерить его параметры (хорду и стрелу прогиба) и рассчитать радиус, Формирование слепка в виде правильного шарового сегмента по этому способу практически невозможно, Это сужает возможности способа и область его применения,Цель изобретения - расширение области применения путем измерения радиусов как внутренних, так и наружных сферических поверхностей крупногабаритных изделий, а также упрощение способа, 1737253Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения профиля поверхности, включающему формирование слепка на поверхности изделия, фиксацию его клеящим веществом, снятие с поверхности изделия и измерение параметров профиля, формирование слепка выполняют из свернутой в круг эластичной пленки, ребра слоев которой перемещают относительно друг друга до совмещения с профилем измеряемой поверхности.На фиг. 1 изображена схема снятия слепка; на фиг. 2 - круг эластичной пленки; на фиг. 3 - то же, поперечный разрез.Способ осуществляют следующим образом,Сначала подготавливают круг эластичной пленки. Диаметр круга может быть любым, желательно 50 - 200 мм, Ширина пленки 5.-25 мм. Наиболее целесообразно использовать магнитофонную пленку шириной 6 мм и пленку от ЭВМ шириной 10-25 мм. Кроме того, в качестве пленки могут быть использованы бумажная телеграфная лента, индикаторная, диаграммная лента, перфолента, полиэтиленовая лента, тканая лента. Конец пленки склеен с кругом, Плотность скручивания пленки должна быть достаточной для свободного формирования слепка и одновременной самофиксации слоев.Затем кладут круг на внешнюю или внутреннюю поверхность сферического изделия, прижимают его к поверхности и формируют слепок поверхности изделия путем перемещения ребер слоев относительно другдруга до совмещения с профилем измеряемой поверхности. Далее внешнюю поверхность круга смазывают любым клеем (БФ, "Момент", ацетон и т.д,) и фиксируют слои пленки с целью сохранения первоначальной формы слепка. В случае достаточной плотности слоев клей можно не использовать, Полученный слепок используют в качестве образца для измерения параметров профиля поверхности и радиуса кривизны, например, с цомощью сферометра.П р и м е р, Измеряли радиус сферического днища химического аппарата обье 10 15 позволяет расширить область применения.ипроизводить измерения сферических изде 20 25 30 35 40 45 мом 3 мз, диаметром 2,0 м. Для измерения использовали круг магнитофонной пленки шириной 6 мм, диаметром круга 80 мм, Снимали слепок с поверхности днища, фиксировали его внешнюю сторону клеем "Момент", затем измеряли с помощью сферометра параметры слепка и определяли радиус сферического днища - 1502,8 мм. Результаты проверяли по чертежу, радиус сферического днища - 1500 мм. Ошибка измерения - около 0,2 (очень низкая для таких габаритовизделия),По сравнению с известным, предлагаемый способ имеет следующие преимущества: лий любого диаметра, любых габаритов как с внешней, так и с внутренней стороны; позволяет измерять радиусы изделий, которые находятся в эксплуатации и не могут быть двмонтированы для производства измерений; позволяет расширить возможности приборов, применяемых для измерения параметров профиля, например сферометров.Кроме того, способ имеет точность, не уступающую точности измерения натуральных образцов, прост и эффективен.Способ может быть использован в измерительной технике для измерения параметров профиля поверхности, например радиусов сферических изделий любых размеров, в различных областях народного хозяйства.Формула изобретения Способ измерения профиля поверхности, включающий формирование слепка на поверхности изделия, фиксацию его клеющим веществом, снятие с поверхности изделия и измерение параметров профиля, о тлича ющи йс я тем,чтос целью расширения области применения путем измерения радиусов как внутренних, так и наружных сферических поверхностей крупногабаритных изделий, формирование слепка выполняют из свернутой в круг эластичной пленки, ребра слоев которой перемещают относительно друг друга до совмещения с профилем измеряемой поверхности.1737253 Составитель Е.ВакумоваТехред М,Моргентал Корректор С.йевкун Веселовск едакт оизводственно-издательский. комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 Заказ 1882 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5