Способ определения осредненной погрешности прозрачного лимба углоизмерительного прибора

СОЮЗ СОВЕТСКИХсОцИАлистическихРЕСПУБЛИК 1 С 1/06 ИЗОБРЕТЕН В углоизмерительном приборе, в котором используется данный тип лимба, стопорится его лимб и между считывающей маской одной оптопары и лимбом помещают технологическую маску с одним прозрачным штрихом, так чтобы световой поток, попадающий на первый штрих группы штрихов одной оптопары считывающей маски, полностью проходил через него, а остальные штрихи считывающей маски были бы закрыты. Снимают показания напряжения с фотоприемника оптопары, Эту операцию повторяют со всеми штрихами лимба. Полученные данные нормируются по максимальному значению. Затем измеряют погрешность лимба этой серии по границам тень - свет д л 1 и свет - теньн в каждом штрихе лимба, и полученный массив погрешностей лимба обрабатывают с учетом предварительно полученных нормированных данных конкретного углоизмерительного.прибора. 4 ил,осится к иэмерительбыть использовано в приборах для оценки ти с учетом принципа ительного прибора, овышение точности за ния ошибок, обусловтью рисунка штрихов. 6 На фиг. 1 приведена профильная проекция сопряжения оптопары, считывающей маски одной группы штрихов, лимба и технологической маски; на фиг. 2 - график зависимости выходного напряжения О усилителя от номера штриха в группе штрихов оптопары считывающей маски; на фиг. 3 - считывающая маска углоиэмерительного прибора и лимб, вид со стороны излучателя; на фиг. 4 - график зависимости коэффициентов аот номера штриха в группе штрихов одной оптопары считывающей маски. углоизмерительного прибора. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское свидетельство СССРВ 1326886, кл. 6 01 С 1/06, 22.07.85;Авторское свидетельство СССРВ 1049736, кл. 6 01 С 1/06, 17,12.81,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСРЕДНЕННОЙ ПОГРЕШНОСТИ ПРОЗРАЧНОГОЛИМБА УГЛОИЗМЕРИТЕЛЬНОГО ПРИБО(57) Изобретение отн ной технике и может оптико-электронных суммарной погрешнос действия углоизмер Цель изобретения - и счет уменьшения влия ленных неидентичнос Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптико-электронных приборах для оценки суммарной погрешности, вносимой неточностью углового расположения границ штрихов лимба по делительной окружности оптопарами с учетом принципа действия углоиэмерительного прибора. Целью изобретения является повышеие точности за счет уменьшения влияни шибок, обусловленных неидентичностью исунка штрихов. 1659702 А 1На фиг. 1 приняты следующие обозначения, 1 - считывающая маска; 2 - лимб углоизмерительного прибора; 3 - технологическая маска с одним прозрачным штрихом; 4-усилитель фотоприемника;5 - фотоприемник; 6 - осветитель.Способ реализуется следующим образом.Для каждого типа (серии) углоизмерительных приборов определяют коэффициенты а 1, а 2 а з,аследующим образом, В собранном опытном углоизмерительном приборе стопорят его лимб таким образом, чтобы проэкция группы штрихов одной оптопары считывающей маски совпадала со штрихами лимба. Между считывающей маской 1 одной оптопары и лимбам 2 помещают тонкую технологическую маску 3 с одним прозрачным штрихом по размеру большему, чем один штрих оптопары считывающей маски (фиг, 1). Технологическую маску 3 ориентируют таким образом, чтобы световой поток, попадающий на первый штрих группы штрихов одной оптопары считывающей маски, полностью проходил через него, а остальные штрихи считывающей маски 1 были бы закрыты непрозрачной ее частью,После этого снимахэт показания напря. жения О на выходе усилителя 4 фотоприемника 5. Затем сдвиганэт технологическую маску 3 таким образом, чтобы световой поток, попадающий на второй штрих группы штрихов этой же оптопары считывающей маски полностью проходил через его второй штрих, а остальные штрихи считывающей маски 1 были бы закрыты непрозрачной частью технологической маски 3, После этого снимают показания напряжения О на выходе усилителя 6 фотоприемника 5. Аналогичные операции повторяют со всемив штрихами в группе штрихов одной оптопары считывающей маски 1. Используя полученные экспериментальные данные напряжений О на выходе усилителя 6 в зависимости от номера штриха в группе штрихов оптопары считывающей маски, строят график зависимости Оп от номера штриха (фиг. 2), Затем полученный график нормируют по формулеОв)и принимают а(в) = апЭти нормированные значения напряэкений являются коэффициентами а 1,а 2,а з ависпользуемыми для определения коэффициентов веса. Затем измеряют погрешность лимба в каждом штрихе по границам тень - светд 1,д 2,д здни свет-теньф 1. В, з ч анализатором с одним штрихом, проекция которого на проверяемый лимб равна проекции каждого штриха в группах штрихов оптопар считывающей маски угло измерительного прибора. 5Полученный массив погрешностей лимба в каждом штрихе по границам тень - свет д 1,д 2, д з,.д ыи границ штрихов свет-тень 1 Д 2,ъ, м обрабатывают по формуле: 1 О-1) Ь =: Д, Кп(дг + г), (1)р=о и - 1 где д г-погрешность лимба в каждом штрихе на границе тень - свет;г - погрешность лимба в каждом штрихе на границе свет - тень,- независимая переменная, характеризующая угол, на который измеряется погрешность лимба углоизмерительного 2 О прибора, 1 а 1М;К - количество штрихов на лимбе углоизмерительного прибора;о - количество групп штрихов на считывающей маске углоизмерительного прибора;лэ - количество штрихов в группе штрихов одной оптопары считывающей маски углоизмерительного прибора;г - независимая переменная 30 1 + и + - - 1,М - и - + 1Я Я +и+- - 1 - И,И - и - - +1й й 35 Я Яр - независимая переменная Ор(ц)С - коэффициенты веса погрешности 4 О границ штриха лимба в суммарном сигнале погрешности лимба углоизмерительного прибора(2) 2 Ява ее =1Предлагаемый способ позволяет посредством полунатурного макетирования получить более высокую точность оценки погрешности вносимой лимбом в углоизмерит льный прибор Формула изобретен ия Способ определения осредненной погрешности прозрачного лимба углоизмерительного прибора, заключающийся в последовательном измерении частной погрешности каждого иэ штрихов и обработке результатов измерений, о т л и ч а ю щ и й1559702 6 7 2 3Составитель В,Попов фиЕ. ФТехред М.Моргентал Корректор О.Кундри Редакто арфен 1832 Тираж 314 ПодписноеНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская нэб 4/5 проиааодстаенно-иадательскид коиоииат "патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 10 с я тем, что, с целью повышения точности за счет уменьшения влияния ошибок, обусловленных неидентичностью рисунка штрихов, при измерении для каждого из штрихов6 производят определения частных погрешностей по границам свет - тень и тень - свет,а при обработке результатов используютданные дополнительных определений.Цт3