Устройство для определения формы поверхности теневой маски цветного кинескопа
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
)5 Н 01,3 29/07 БРЕТ аког певепеег,ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Маге А. Соп 1 гоцгес-пз зегепзи пе соог рсдвиге 1 иЬоз, - ЯСА Еп07.1979, р, 45 - 49,Патент СССР М 452113,кл. Н 01 .3 31/20, 1971.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ТЕНЕВОЙ МАСКИ ЦВЕТНОГО КИНЕСКОПА (57) Изобретение относится к электронной промышленности и может быть использовано при разработке конструкций элементов и узлов цветных кинескопов. Цель изобретения - повышение точности и снижение трудоемкости. Теневая маса 4 с эталонной рабочей поверхностью помещается в экра// номасочный узел с панелью 1, имеющий сплошное люминофорное покрытие одного цвета свечения, которое засвечивают в контрольных участках через части маски 4, Измеряют расстояние между электронными следами внутри каждой триады и расстояние между электронными следами соседних триад. При неравенстве величин указанных расстояний корректируют расстояние между маской 4 и панелью 1 путем линейных перемещений соответствующих частей маски 4 на определенную величину, Повторяют процесс засветки и измерение расстояний. Далее процесс повторяют до получения равенства указанных величин, После получения требуемого результата аппроксимируют поверхность маски 4 с требуемым рельефом. По определенной таким образом поверхности маски 4 производят корректировку стеклоформующего инструмента, 1 з.п. ф-лы, 2 ил,Изобретение относится к электроннойпромышленности, а именно к устройствамдля разработки элементов и узлов цветныхкинескопов,Целью изобретения является повышение точности и снижение трудоемкости,что достигается за счет выполнения на поверхности теневой маски участков, которые содержат не менее трех апертурныхотверстий, равномерно распределены наее поверхности, отделены от маски иснабжены механизмами возвратно-поступательного перемещения в радиальномнаправлении.На фиг,1 показано предлагаемое устройство, осевое сечение; на фиг.2 - теневаямаска с отверстиями,Устройство состоит из стеклянной панели 1 с бортами 2, соединенными с основанием конуса 3, в горловине не показана)которого размещена электронно-оптическая система не показана). Эквидистантнопанели 1 размещена теневая маска 4 с апер турными отверстиями. Части 5 теневой маски 4 содержат не менее трех апертурныхотверстий и установлены с возможностьювозвратно-поступательного перемещения врадиальном направлении.Устройство работает следующим образом.Теневая маска 4 с эталонной рабочейповерхностью помещается в экраномасочный узел с панелью 1, имеющей сплошноелюминофорное покрытие одного цвета. Затем указанный узел устанавливают в макетразрабатываемого кинескопа, В рабочемрежиме кинескопа засвечивают панель 1 иформируют в контрольных зонах, соответствующих по пространственному положениюразмещению частей 5 маски 4, из электронных следов триады одного цвета свечения.Затем измеряют, например с помощью оптического микроскопа, расстояния междуэлектронными следами внутри каждой триады и расстояния между электронными следами соседних триад. Параметрыэкраномасочного узла после выполненияизмерений считают соответствующими требуемыми, если указанные расстояния совпадают по величине. Если это требованиене выполняется, в одной или несколькихзонах панели 1 производят корректировкурасстояний между маской 4 и панелью 1путем линейных перемещений соответствующих частей 5 маски 4 (с апертурнымиотверстиями) на преварительно опреде 10 15 20 25 30 ленную величину, Указанные перемещенияпроизводят в направлении, соответствующем траектории электронных лучей.После выполнения всех необходимых перемещений получают откорректированную с учетом измеренных расстояний прерывистую рабочую поверхность теневой маски 4. Затем с помощью известных математических приемов эту поверхность аппроксимируют непрерывной поверхностью и получают данные для формирования маски 4 с требуемым рельефом. Эти данные йспользуют для корректировки пресс-формы, с помощью которой изготавливают маску с аппроксимированной поверхностью, т.е, полученный алгоритм рельефа эталонной маски является определяющим для уточнения геометрии пресс-формы. На этом процесс корректировки формы поверхности маски считается законченным.Использование изобретения при изготовлении опытных образцов новых типов кинескопов позволяет в существенной степени (в 10 и более раз) сократить цикличность техпроцесса в части чередования измерений расстояний между экраном и маской и изготовления пресс-формы с уточненной геометрией поверхности, Время изготовления опытного образца цветного кинескопа может быть сокращено от десяти - двенадцати месяцев до одного рабочего дня. 35 40 45 50 55 Формула изобретения 1. Устройство для определения формы поверхности теневой маски цветного кинескопа, содержащее стеклянную панель с люминофорным покрытием, снабженную бортами, соединенными с основанием конуса, в горловине которого размещена электронно-оптическая система, цветоделительный узел, выполненный в виде сферизованной маски с апертурными отверстиями, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и снижения трудоемкости, люминофорное покрытие выполнено с возможностью монохроматического излучения, часть участков маски, содержащих не менее трех апертурных отверстий, равномерно распределены на ее поверхности, отделены от маски, каждый из которых снабжен механизмом возвратно-поступательного перемещения в радиальном направлении,2. Устройство по п,1, о т л и ч а ю ще ес я тем, что в качестве механизма возвратно-поступательного перемещения использованы пьезокерамические датчики.1636892ФиСоставитель В. Кирьяновэктор И, Горная Техред М.Моргентал Корректор Н, Ревская "тф каз 819 Тираж 315 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г; Ужгород, ул,Гагарина
СмотретьЗаявка
4619248, 14.12.1988
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1848
ЗАРЕЦКАЯ ЛАРИСА ФЕДОРОВНА, КОСИЛОВ ВАЛЕРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01J 29/07
Метки: кинескопа, маски, поверхности, теневой, формы, цветного
Опубликовано: 23.03.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1636892-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-formy-poverkhnosti-tenevojj-maski-cvetnogo-kineskopa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения формы поверхности теневой маски цветного кинескопа</a>
Предыдущий патент: Устройство для юстирования отклоняющей системы цветного кинескопа
Следующий патент: Экраномасочный узел цветного кинескопа
Случайный патент: Магнитострикционный преобразователь для линии задержки