Лазерный способ измерения характеристик рефракционного канала

(51)5 С 01 11 21747 ГОсудАРстненный нПО ИЗОБРЕТЕНИ 11 М и ОПРИ П 1 НТ С(СР 1 дТЕТРЫТИЯМ 29 ВЗЯ1 д,д 1"ЮГЧ ие иЗОь"-ед"-ГддддМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ВТОРОИ(54) ЛЛЗЕРН 11 Й СПО ТЕРИСТИК РЕФРАЕ 111 .(57) Изобретение ческой Физике, в ОБ И 311 Г11 НЯ 1(Д.тноситс РЕН 11 Я л.БАРЖ. НИЛОВтехни%е 1 ( стности Изобретение относится к техпиеской Физике, в частности к измерешцо параметров реФрадсциоцных каналов, и может быть ддсддользодано, ционного определения харадте 1 дддстддк ред 1 драдсцддонпдх каналов: диаметра Йрефракционного канала или пучка мощно. го оптического излучения (МОИ). Формирующего при слоем распространении в поглощающей среде реФракцддошдый канал и изменения Я диэлектрддчас 2кой проницаемости среды ца оптвес-. кой оси реФракционцого канала пс отцошенидо к диэлектрической проницаемости среды нне канала, обуслонлешдого нагреванием среды иэ-за поглощения энергии мощного оптического излуче ния и связанного с коэФФициецтом пог" лощепия среды, ццтецсивностью 11 ОИ и коэФФициентом изменения диэлектрццию х"1 дддте оддс тддд дед 1 ад;дцдсддддьх каддалов, 11 елд до да об 13 етешдя явддддстся ддзддерешс диаметра реФракцддошдого двпалац ддэддеддедшя;цдзлектрцческойд прсцддцаемости среды ца оптической осц реФракционцого кацапа по отнодпецидо к диэлектрической ддрсддддддаеддсстд среды нне канала. Способ предполагает посылкув ред 1 драд;цддлдддд дд, капал однонремешдод 1 -.: ну;ол зондпру,ощего лазерногодэлу додд:ддд. 11 учкд; гдосьдл:.от под уд.ла".ддд.=О;д.Г =-90 к оптической осд: рсФракц:.оццого каддда, а об искомых парамедрах судят по соотношениям, д 1 рддведеддддд ддв Формуле изобретения. 1 ил. ческой проницаемости среды при изме"цени температуры,Цель.о цзобретешдя является цэмерс дие диаметра реФракццснцого капала и изменение эпачеаця дддэлсктрической проницаемости среды ца оптической оси ред 1 дракцддоиддого капала относитсддьцо ее зцачешдя нце капала,11 а чертеже приведена схема устройства для осуществледддя способа,Устройство содержит исто 1 ддддддси изпучецця 1 и 2 с коллиматорами 3 и 4,прцемньдми Фокусддвудощидддд линзами 5и 6, а также экранами 7 ц 8 соответ-,ственно11 учок эондирудощего лазерного иэ"лучения посылают от ддсточшддса излу"чедгия 1 под углом ср, =0 к оптической оси 9 реФракционного канала 10,т.е. по его оптической оси. Он про 1602172ходит 1 ереэ коллиматор 3 и принимается фокусирующей линзой 5 с Фокус" ным расстоянием Р , При помощи экрана 7 определяют положение плоскости резкого изображения и измеряют расстояние 111 от Фокальцой плоскости линзы до плоскости изображения. Второй пучок от источника 2 зондирующего Йзлучеция посылают в рефракционный щ1(анал 10 под углом (.Р , близким к .0 1( оптической оси 9, Он проходит через коллиматор 4 и принимается фокусирующей линзой 6 с фокусным расстоянием 1 . При помощи подвижнойго экрана О определяют положение плоскости резкого изображения и измеряют Расстояние от Фокальной плоскости до плоскости резкого изображения Ь . По величинам Ь исудят об искомых 20 Параметрах, которыми являются диаметр рефракциоцного канала и- изменение диэлектрической про м иццаемости среды на оптическои оси рефракциоццого канала по отношению Я дизль (тричсской 1 проницаемости средь 1 1 зне капала. Для этого используют спедую 1 цие зависимости:Я4 6. Гь7 ьаЬЪа , мнш МюН жеще иЗОМ ", ".р(дЯ Уфф 5 Р ф "14 Р1 Ъгде 3.1 расстояние От ис точник 11 3 3излучения, посылаемого пооптической оси канала, досоответствующей приемнойлинзы,Г ,К, - Фокусные расстояния приемЙИык ЛИНЗ.Схемы из двух пучков св .О и1 : 551=90 позволяют исключить влияние аберраций (так как первый пучок распространяется в параксиальной облас-,.45 ти рефракционного канала, а второй проходит через поперечное сечение рефракционцого канала) и, используя различные механизмы влияния ре "фракционного канала на зондирующееизлучение, получить одновременнуюинформацию о двух параметрах реФракционного канала,. Формула изобретения канала, дополнительно 51 осылеют зондирующее лазерное излучение перпендикулярно оптической оси рефракционного капала прицимают его с предварительной Фокусировкой другой приемнойФокусирутощей линзой, измеряют расстоя 11 ие ,5от плоскости резкого изображения сфокусированного излучсння до фо"кальной плоскоси этой линзы и определяют искомые параметры из (.Оотноше-.ний Я РТЮ р" расстояние от точки посылки излучения по оптической оси рефракционного ка"нала до соответствующейприемной Фокусирующей лин"эыф,- Фокусные расстоячия приемнья линз,Лазерный способ измерения характеристик рефракционного канала путем . посылки зондирующего лазерного излучения по оптической оси канала, прие-ма прошедшего заданнь 5 й путь излучения с предварительной Фокусировкой приемной Аокусирующей линзой, опреце" ЛЕНИЯ ПОЛожЕНИЯ ПЛОСКОСТИ РЕЗКОГОизображеция сфокусированного. излучения и измерения расстояния1 От нее. до Факальной плоскости линзы, о т. л и ч а и щ и й с я тем, ч"ос целью измерений диаметра Й рефракционного канала и изменения (",; значе 2ния диэлектрической проницаемости средь 1.на оптической оси рефракционно 1 О канала от(носительно ее значения вне1602172 Составитель С.НепомнящаяРедактор О.Стенииа Техред И.Г 1 оргентал Корректор е с екав 2824 Подписное В Проивводственн ельский комбинат "Патент", г. Ущоро агарин осударственног