Прибор для измерения микротвердости
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 159052
Авторы: Гиндин, Завь, Киричек, Стародубов
Текст
Подписная группа Ло 11 б Заявитель Физико-технический институт АН УССРПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ Известны приборы для измерения микро- твердости путем прямого нагружения алмазной пирамиды, содержащие оптическую систему для отсчета размеров отпечатков и металло- графических исследований плоских шлифов.Предлагаемый прибор для проведения испытаний при низких температурах снабжен вакуумной камерой с расположенными внутри нее предметным столиком для образца и инденторным устройством, размещенной в сосуде Дюара, в который поступает охлаждающая жидкость.На фиг. 1 изображен общий вид предлагаемого прибора; на фиг. 2 - вакуумная камера прибора, продольный разрез.На плите 1 прибора расположена верхняя крышка 2, которая винтами 3 может перемещаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях, В крышку вмонтированы оптическая система для отсчета размеров отпечатка с объективом 4 и инденторное устройство 5,В вакуумной камере б прибора расположены предметный столик 7 и индентор 8, Камера помещена в сосуде 9 Дюара, в который поступает охлажденная жидкость из переносного сосуда Дюара (на чертеже не показан) по трубке 10, Внутри камеры б расположен дру. гой сосуд 11 Дюара.Испытуемый образец 12 одним концом закреплен в зажиме предметного столика, а другим соединен с тягой 13 и пружинным динамометром 14.При проведении измерений образец устанавливают на предметный столик, крышкой 2 закрывают измерительную камеру и включают откачку для создания вакуума. Затем сосуд 9 Дюара заливают жидким азотом (или другим жидким хладоносителем) и охлажда159052ют образец через холодопроводящий стержень 15. Одновременно охлаждают индентор 8 (алмазной пирамиды) до температуры испытуемого образца. После того как образец и индентор охлаждены до нужной температуры (контролируется термопарой или термометрами сопротивления), изучают микроструктуру и измеряют микротвердость охлажденного образца. Микротвердость измеряют прямым иагружением индентора 8 и последующим отсчетом размеров (диагоналей) отпечатка через оптическую систему. П редмет изобретенияПпибо лр р д, я измерения микротвердости путем прямого нагржения алмазнои пирамиды, содержащий оптическую систе ту для отсчета размеров отпечатка и сосос дюара, отли. чающийся тем чть, что, с целью проведения испытанийиий при низких тсмпеоат ра.,х, он сиаожен вак"умну, ой камерон с расположенными вн т и нее пу рс редметным стОликОм для Ооразв сосуде Дюара, в который поступает охлаждающая жидкость.Составитель М. Б. НанкинРедактор Т, В, Данилова Техред Л. П. Курилко Корректор Т. Д. ХромцеваПоди. к печ, 22/1 - 64 г. Формат бум. 60 М 90/з Объем 0,35 изд. л,Зак. 3295/3 Тираж 425 Цена 5 коп.ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2
СмотретьЗаявка
802339
Физико технический институт УССР
И. А. Гиндин, Б. П. Зав зкин, Я. Д. Стародубов, И. Р. Киричек
МПК / Метки
МПК: G01N 3/54
Метки: микротвердости, прибор
Опубликовано: 01.01.1963
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-159052-pribor-dlya-izmereniya-mikrotverdosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Прибор для измерения микротвердости</a>
Предыдущий патент: 159051
Следующий патент: 159053
Случайный патент: Способ определения сил взаимодействия стержня с нагреваемой оснасткой