Способ определения температуры

Способ реализуется определенНой последовательностью операций.Регулятором Э температуры задаются значения температуры модели АЧТ и производится запись значений сигналов пирометра, соответствующих каждой температуре модели АЧТ, в блок 6 преобразования, Полученная эависииесть Ццт = 1 (Тц ) хранится в памяти блока 6 преобразования,55 ЦЛцт,ЦЛцт, для модели АЧТ (абсолитно черного тела) при температурахТ и Т, по имеющейся зависимостисигнала пирометра от интенсивностиизлучения модели АЧТ в диапазонетемператур, измеряемых пирометромЦ 4 цт = Г(Тюц 1 ), вычисляют значениекоэффициента излучательной способности 6; для каждой точки сканируемой 10поверхности иэделия;в диапазоне тем"ператур о Т 1 и Тц по формулеЦт, - ЦтУщт, - 13 ьч,Значения сигналов пирометра 1.14 ц 5тедля модели АЧТ при температуре Т 1,равной значению, температуры в каждой1-й точке сканируемой поверхностиизделия в рабочем режиме, вычисляютпо формуле 20Бт, - %;Ц., =- + 1.1 ц 1-,мТ ф . Л юи по имеющейся зависимости Ояцт =1(ТАцг ) определяют температуру,Твцтт., которая является истинной температ рой х-й точки поверхности изделия в рабочем режиме,При этом значения 1 Зт,1%11 ц ; Ц ; "; опРеделЯю сЯ пред"т, ф КТтфварительно по объекту измерения для 30каждой точки и хранятся в памятиустройства,Ири измерении объекта в рабочемрежиме измеряется только значение1. ть35Способ может быть реализован спомощью устройства, блок-схема которого приведена на чертеже.Устройство содержит пирометр , 4 Озапоминающее устройство 2, регулятор3 температуры, блок 4 управления пирометром, вычислительный блок 5, блок6 преобразования, блок 7 заданиявходных воздействий, блок 8 регистрачии, камеру 9 тепла, двухкоординатныйсканирующий столик 1 О, блок 11 управления столиком. 11 осле этого исследуемое изделие устанавливают в камеру 9 тепла, установленную на двухкоординатном сканируемом столике 1 О, и производят сканирование заданной площади поверхности изделия, находящегося в рабочем режиме, с одновременной записью сигналов пирометра Ц 1 в каждой 1-й точке поверхности изделия в эапдминающее, устройство 2. На следующем этапе производят нагрев изделия в камере 9 тепла до температуры Т близкой к ожидаемой мак" симальной температуре на поверхности объекта в рабочем режиме, и сканирование заданной площади поверхности с одноэременной записью в запоминающее устройство 2 значений сигна" лов пирометра Ц 1 в каждой 1-й точке поверхности. При этом с блока 7 зада" ния входных воздействий в блок,б преобразования вводится значение температуры Т, а с выхода блока б преобразования в вычислительный блок 5 вводит"я значение сигнала пирометра БАц 1 при темПературеИзмерения сигналов пирометра Пт, при температуре Т, определенной по описанной методике, в каждой 1-й точке поверхности иэделия и последовательность операций аналогичны измерениям при температуре поверхности изделия Т. Нри этом координаты -й точки вводятся в запоминающее устройство 2 через блок 11 управления столикомИосле окончания измерений в соответс.вии с сигналами блока 4 управ" ленья пирометром в вычислительномтфблоке 5 производятся последовательно вычисления значений иэлучательной способности Е; и истинной температуры Т; в каждой 1-й точке поверхности иэделия, запись результатов вычислений производится в блок 8 регистрации.Таким образом с высокой точностью и производительностью определены значения истинной температуры в каж" дой д-Я точке сканируемой поверхности изделия в рабочем режиме.Первые результаты исследования температурных полей р-и-переходов3мощных транзисторов и СВЧ-диодов показали, что в диапазоне температур от.25 до 250 С достигается требуемаяформула изобретения Составитель В.Зу Техред М,Ходвнич Кучеряв едвкто карева оррек Заказ 3336 ЗН - Тираж 434 Подписное НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям прил ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. ужгород, ул. Гагарина, 10 5 5 точность измерений (+2 ОС) и производительность по сравнению с прототипом возрастает в десять раэ,Способ определения температуры, основанный на последовательном измерении н запоминании сигналов пиромет. ра в каждой 1-й точке сканируемой по. верхности иэделия в рабочем режиме и нагретого виейним источником до определенной известной температуры Т с последующим определением температуры Т; точек сканируемой поверхности иэделия, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повыщения точности эа счет исключения влияния фонового излуЧения и коэффициентов излучения и производительности, дополнительно измеряют и запоминают сигналы пирометра в тех же точках сканируемой поверхности при температуре Т, которую выбирают ниже температу 33459 6ры Т определяют значения сигналовпирометра для модели абсолютно черноетело (АЧТ) при температурах Т 1 н Тпо имеющейся зависимости сигналапирометра от интенсивности излучениямодели АЧТ в диапазоне температур,иэмеряеюв пирометром, вычисляютзначение коэффициента яэлучательнойспособности для каждой точки сканируемой поверхности иэделия по измереннымзначениям сигналов пирометра для какдой-й точки сканируемой поверхностииэделия при температурах Т и Т ипо значениям сигналов пирометра длямодели АЧТ для этих же температури по полученным значениям сигналапираеетра для какдой 1-й точки врабочем режиме и сигналов от модели 20 АЧТ и поверхности иэделия при тем-,перв 1 уре Т, с учетом вычисленногозначения козффюциента излучательнойспособности определяют истинную температуру 1-й точки поверхности в рв бочем режиме.