Способ выделения изображения дефекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТ ИЧЕСК А 513 4 С 0 ГОСУДАРСТВЕННЫПО ИЗОБРЕТЕНИЯМПРИ ГКНТ СССР ИТЕТРЫТИЯМ ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ЛЬСТ АВТОееноМУ С омя ние(56) Авторское свидетельство СССР и" 285042, кл, С 01 М 23/20, 1970.Авторское свидетельство СССР В 596836, кл. С 01 Л 1/44, 1978.(54) СПОСОБ ВЫДЕЛЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНДЕФЕКТА(57) Изобретение относится к фории и может быть использовано д Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано дляавтоматической расшифровки рентгенограмм сварных соединений,Целью изобретения является повьппеинформативности способа.На чертеже приведена структурнаясхема устройства, реализующего способвыделения изображения дефекта.На устройство поступает световойпоток, прошедший через рентгенограмму 1 сварного шва. Устройство содержит генератор 2 тактовых импульсов,фотоэлектронный умножитель 3, соединенный с аналого-цифровым преобразователем 4, связанным с входом цифровой многоотводной линии 5 задержки си отводами, Первый отвод линии 5 задержки соединен с первым входом комЯО 152035 автоматической расшифровки рентгенограмм сварных соединений, Цель изобретения - расширение информативности споеоба, Способ включает сканирование рентгенограммы световым лучом, преобразование светового потока в электрический сигнал, его квантование, запоминание одномерногоучастка изображения, сравнение величин кодов на всем участке изображения дефекта одновременно, их логическое сложение и перемножение, атакже их запоминание и вычитание,Способ .позволяет выделить энергетические параметры сигнала дефекта приодновременном устранении пространственной помехи - сигнала валика усиления шва. 1 ил. паратора 6, (и) отводов (кроме первого и второго) соединены с первыми входами (и) компараторов 7-11, вторые входы всех (и) компараторов 6-11 соединены с вторым отводом линии 5 задержки и входом линии 12 за держки. Выходы (и) компараторов ,7-11 соединены с входами логической схемы ИЛИ 13, выход которой соединен с первым входом логической схемы И 14 второй вход которой соединен с выходом компаратора 6. Выход логической схемы И 14 соединен с первым входом оперативно-запоминающего устройства 15, второй вход которого соединен с первым отводом линии 5 задержки, Выход оперативно-запоминающего устройства 15 соединен с первым входом компаратора 6 и первым входом вычитаю 1520355щего устройства 16, второй вход которого соединен с выходом линии 12 задержки, а выход - с входом цифровоговидеоконтрольного устройства 17. Выход генератора 2 тактовых импульсовподключен к входам аналого-цифровогопреобразователя 4, линии 5 задержки,линии 12 задержки, оперативно-запоминающего устройства 15 и цифровоговидеоконтрольного устройства 17. Устройство работает следующим образом.Рентгенограмму 1 сварного шва сканируют перпендикулярно направлению шва оптическим лучом с апертурой, соответствующей минимальному размеру дефекта, Световой поток, прошедший через рентгенограмму, падает на фото электронный умножитель 3, на выходе которого появляется напряжение, обратно пропорциональное плотности по- чернения сканируемого участка рентгенограммы 1 сварного шва. Это напряже" 25 ние подается на аналого-циФровой преобразователь 4, где оно квантуется сигналами от генератора 2 тактовых импульсов, значение амплитуды в каждой точке преобразуется в двоичный30 код и подается на вход цифровой многоотводной линии 5 задержки с и от. водами, длительность задержки которой равна максимальному размеру выделяемых дефектов. Значение двоичного кода второго отвода линии 5 задержки, со 35 ответствующее значению сигнала ана" лизируемой точки, подается на вторые входы компараторов 7-11, где они сравниваются со значениями двоичных кодов всех последующих (и) отводов40 линии 5 задержки. Значение двоичного кода первого отвода линии 5 задержки через оперативно-запоминающее устройство 15 подается на первый вход компаратора 6, на второй вход которо 45 го подается значение двоичного кода второго отвода линии 5 задержки. Сигналы с выходов компараторов 7-11 поступают на входы логической схемы ИЛИ 13, где они логически сумми руются, результат поступает на первый вход логической схемы И 14, а на второй ее вход подается сигнал с вы- хода компаратора 6. По наличию сигнала на выходе логической схемы И, 14 55делается вывод о принадлежности анализируемой точки рентгенограммыизображению дефекта. В этом случае, те. при наличии дефекта, по сйгналу, поступающему с выхода логическей схемы И 14 на вход бперативно"запоминающего устройства 15, запоминается предыдущее значение, квда первого отвода линии 5 задержки и подается на первый вход вычитающего устройства 16, на второй вход которого подается выходной сигнал линии 12 задержки. Длительность задержки равна периоду тактовых импульсов. Задержанное значение кода второго отвода линии 5 задержки, сов" мещенное во времени со значением кода первого отвода этой же линии задерж- ки, подается на второй вход вычитаю- щего устройства 16. В результате вычитания на .выходе вычитающего устройства 16 получается разностный сигнал, который подается на вход цифрового видеоконтрольного устройства 17, формирующего изображение дефекта.При отсутствии дефекта, т.е. при отсутствии сигнала на выходе логической с семы И 14, через оперативно-запоминающее устройство 15 передается текущее начение сигнала первого отвода линии " задержки, В результате вычитания его из задержанного,в линии 12 задержки и совмещенного с ним во времени сигнала ьторого отвода линии 5 задержки в вычитающем устройстве 16 устраняетс.". сигнал валика усиления сварного шва.Таким образом, при обработке рентгенограмм сварных соединений предлагаемый способ выделения изображения дефекта позволяет не только обнаружить дефект, но и определить энерге" тические параметры сигнала дефекта и тем самым повысить информативность способа.Формула изобретенияСпособ гьц,еленин изображения дефекта, заключающийся в том, что рентгенограмму сварного соединения сканируют оптическим лучом, преобразуют прошедший через рентгенограмму свето" вой поток в электрический сигнал и квантуют его, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повьппения информативности способа, после квантования запоминают п последовательных значений сигнала, соответствующих максимальному размеру дефекта, сравнивают значение сигнала в анализируемой точкеоставитель Р. Вшкайтехред А.Кравчук актор И. Булла Т Корректор Л. Пат акаэ 6746/42 Тираж 46 б Подписное Государственного комитета по изоб 113035, Москва, Ж, Ра тениям и открытиям при ГКНТ СССР ская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 5 1520355 6со значением сигнала в предыдущей вычитают из него значение сигнала точке и с изначениями сигнала пос- анализируемой точки, повторяют опеледующих точек, при условии, что зна- рацию вычитания при анализе после,чение сигнала в анализируемой точкедующих точек до получения значения меньше значения сигнала в предыпу 5сигнала анализируемой точки, большего щей точке и меньше или равно значению или равного запомненному сигналу, и .сигнала по крайней мере в одной из подают полученный раэностный сигнал последующих иточек, запоминают на видеоконтрольное устройство.значение сигнала предыдущей точки и
СмотретьЗаявка
4260340, 11.06.1987
СПЕЦИАЛЬНОЕ КОНСТРУКТОРСКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ БЮРО ФИЗИКО МЕХАНИЧЕСКОГО ИНСТИТУТА ИМ. Г. В. КАРПЕНКО
РУДЕНКО ВИТАЛИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ГАЗДАЙКА БОГДАН ПЕТРОВИЧ, ЛУНИК ТАМАРА НИКОЛАЕВНА, БАБУШКИН АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01J 1/44
Метки: выделения, дефекта, изображения
Опубликовано: 07.11.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1520355-sposob-vydeleniya-izobrazheniya-defekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выделения изображения дефекта</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля дефектов поверхности
Следующий патент: Счетчик фотонов
Случайный патент: Способ измерения концентрации веществ