Способ термических испытаний изделий электронной техники

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 151172 11 4 0 01 Б 31/28 РЕТЕНИ ТЕЛЬСТВ читываю ов п олода с температуре кипения живают также вого равновесия,емпературы осущеньшее тепловой до наступления теп При этом измерение я, м ени ствляют за в делий электронпостоянноиной техники ни пр ров или внешнегоции. По появлениюют количество цикпрекращают стояния конструкефектов определяв, а испытания ОСУДАРСТВЕННЬЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ АВТОРСКОМУ С(54) СПОСОБ ТЕРМИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ(57) Изобретение относится к технике контроля параметров изделий электронной техники. Цель изобретения -Изобретение относится к климатическим испытаниям изделий электроной техники.(ИЭТ) в частности к способам испытания на циклическое воздействие температуры среды.Цель изобретения - уменьшение времени испытаний и повышение информативности контроля за счет определея допустимого числа термоциклов в.оизвольном интервале температур,Способ ипытаний изделий электронной техники на циклическое воздействие температур реализуют следующим образом.Испытуемые изделия помещают в камеру тепла с температурой, равной температуре, при которой изделия сохраняют работоспособность в установленных нормах, выдерживают до наступления теплового равновесия между изделиями и окружающей средой и затем уменьшение времени испытаний и повышение их информативности за счетопределения допустимого числа термоциклов в произвольном интервале температур, При испытаниях иэделия электронной техники помещают в термостаттемпературу которого периодически изменяют от температуры кипения жид-.кого азота до верхней рабочей темпеуры изделии электроннои техники, ытания прекращают в момент выхода рости изменения информативного па етра за установленный допуск, По еделенному числу термоциклов раст допустимое число термоцикри произвольной температуре. помещают в камеру х турой, равной темпе жидкого азота и выд Такие термоциклы повторяют до появления усталостных дефектов, которые фиксируют по изменению параметсле прекращения испытаний т допустимое количество те циклов для произвольного интервалатемператур по формулеК : Я,б 7 х10 эВ/градТ, и Т и Тг ратурного интервала,ехр(-Е/ГГ ,) . ехр(-К/КТ ,)с зд ехр 7-Е АКТ 7 - ехр 7-Г 7 Г 7 количество термоциклов, после которого появляются усталостные дефекты в произвольном интервале температур;количество циклов, через которое осуществляется периодическое измерение инфор 15 мативных параметров; энергия образованиядефектов в данном ви -20де изделий электроннойтехники; постоянная Больцмана;минимальная и максимальная температуразаданного интервалатемператур, К,минимальная и макси -мальная температура 30произвольного темпеСпособ испытания на циклическое воздействие температур реализуется на постоянных непроволочных резисторах типа С 2-29 В следующим образом,Выборку резисторов помещают в камеру с температурой 77 К, выдерживают там в течение времени наступ 40 ления теплового равновесия, примерно равного 20 мин, после чего за время,не более 5 с переносят резисторы в камеру с температурой 473 К и выдерживают в течение того же времени 20 мин. Указанные операции составляют 1 термоцикл.Через каждые 20 термопиклов проводят измерение сопротивления резисторов, Термоциклирование ведут до тех пор, цдка сопротивление не 5 О выйдет за нормы, 1 о результатам измерения строят график относительного изменения сопротивления от количества термоциклов и по графику находят точку, с которой начинается 55 устойчивый рост сопротивления. Используя данное значение можно подсчитать допустимое количество термоциклов с минимальным риском потребителя для интервала температур 253- 323 К; численное значение энергии образования дефектов для минимального риска потребителя равно 0,4 ЭВ.Подставляя численное значение физических величин, входящих в расчетную Формулу, получаем 38000 термоциклов.Таким же образом можно получить допустимое количество циклов для других интервалов воздействующих температуррФо рмула из о б ре тения Способ термических испытаний изделий электронной техники, заключающийся в том, что статистически достоверную выборку изделий электронной техники подвергают циклическому воздействию температур в заданном температурном интервале, периодически проводят выявление усталостных деФектов и измеряют информативные параметры, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью уменьшения времени испытаний и повьппения их информатив - ности за счет определения допустимого числа термоциклов в произвольном интервале температур, время выдержки изделий электронной техники при максимальной и минимальной температурах заданного температурного интервала выбирают большим тепловой постоянной времени иэделий электронной техники, время изменения температуры - меньшим тепловой постоянной времени изделий электронной техники, определяют скорость изменения инфо 1 эмативного параметра, прекращают испытания в момент превьппения скорос-и Изменения информативного параметра заданного значения, допустимое для испытуемых изделий число термоциклов в произвольном интервале темпера тур определяют по формуле1511720 где Б,и ЯаМ Е Составитель В. СтепанкинТехред И.Дидык Корректор Т. Палий Редактор А, Долинич Заказ 5900/50 Тираж 714 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раущская наб д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина, 101 число термоциклов, после которого появляютсяусталостные дефекты впроизвольном интервалетемператур;количество циклов, черезкоторое осуществляетсяпериодическое измерениеинформативных параметров;энергия образования дефектов в данном виде изделий электронной техники;константа Больцмана; Т и Т ф - минимальная и максимальф,ноя температуры эаданно 1го интервала температур;Т и Т - минимальная и максимальн нная температуры произвольного температурногоинтервала,2. Способ по п.1, о т л и ч а1 О ю щ и й с я тем, что в качестве минимальной и максимальной температурзаданного интервала выбираются соответственно температура жидкого азотаи максимально допустимая рабочая тем 15 перУгура изделий электронной техники.