Способ определения параметров феррит-гранатовых пленок
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
3 1508179Изобретение относится к магнитометрии, в частности к магнитооптическим измерениям, и может быть использовано для разработки магнитооптических устройств, элементной базой которых являются магнитные феррит"грана"товые пленки с произвольной ориентацией оси легкого намагничивания(ОЛН), 1 ОЦель изобретения - измерение углов отклонения ОЛН от плоскости плен"оки в диапазоне 0-35На фиг.1 изображена форма петлигистерезиса, получаемой в случае отклонения ОЛН от плоскости образца; наФиг.2 - функциональная схема устройства для реализации способа.Угол Ы отклонения ОЛН от плоскости пленки вычисляют по соотношению участков кривой перемагничивания по формулеЧоК = агсза( -- "),макегде о - угол фарадеевского вращения 25в точке излома кривой перемагничивания в полях, блиэких к нулю;Чмакс угол фарадеевского вращенияпри насыщении пленки в перпендикулярном поле.Устройство .представляет собой ав"томатический магнитополяриметр и состоит из лазера 1, поляризатора 2,ячейки 3 фарадея, магнитооптическогокомпенсатора 4 поворота плоскости поляризации (ячейки Фарадея), образца5, магнитной системы 6, анализатора7, фотоприемника 8, через усилитель9 и синхронный детектор 10 соединенного с усилителем 11 постоянного тока, блока 12 питания, генератора 13звуковой частоты, образцовых резисторов 14, 15 и графопостроителя 16.Устройство работает следующим образом.Луч лазера 1, проходя через поляФризатор 2, попадает на магнитооптический модулятор света (ячейку фарадея) 3 который питается от генерато"ра 13 звуковой частоты К. Азимутплоскости поляризации выходящего измодулятора света изменяется по синусоидальному закону. Далеесвет проходит через магнитооптический компенсатор, поворота плоскости поляризации (ячейку фарадея), образец 5,находящийся в магнитной системе 6анализатор 7 и фотоприемник 8. Оси пропускания анализатора и поляризатора сориентированы под углом 90 одна к другой, поэтому при отсутствии вращения плоскости поляризации образцом на Фотоприемнике отсутствует сигнал частоты Г. С помощью блока 12 питания магнитной системы к образцу прикладывается линейно-изменяющееся магнитное поле в заданном диапазоне, При перемагничивании образца происходит вращение плоскости поля" ризации света, которое приводит к появлению на Фотоприемнике сигнала частоты Г, амплитуда и фаза которого пропорциональны величине и знаку соответственно фарадеевского вращения. Сигнал частоты 1 проходит далее через селективный усилитель 9, синхронный детектор 10. Выход синхронного детектора соединен с входом усилителя 11 постоянного тока, нагрузкой которого является соленоид компенсатора 4.Компенсатор 4 создает в системе вращение плоскости поляризации, обратное по знаку и равное по величине фарадеевскому вращению образца. Таким образом, измеряя ток компенсатора мы можем определить угол фарадеевского вращения с высокой точностью (до 1 Е). Образцовые резисторы. 14 и 15 включены последовательно соответственно с компенсатором 4 и магнитной системой 6. Подавая на ось У графопостроителя 16 напряжение с резистора 1,4, а на ось Х - с резистора 15, получаем зависимость угла Фарадеевского вра" щенияот величины нормального к поверхности образца поля - магнитооптическую петлю гистерезиса.Формула изобретенияСпособ определения параметров фер. рит-гранатовых пленок, включающий пропускание перпендикулярно поверхности пленки линейно-поляризованно.го света, воздействие на нее линейно изменяющимся магнитным полем перпендикулярно поверхности пленки, регистрацию зависимости величинЫ угла фарадеевского вращения от величины магнитного поля, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа путем измерения угла наклона оси легкого намагничивания к плосо кости пленки в диапазоне от 0-35
СмотретьЗаявка
4193492, 11.02.1987
СИМФЕРОПОЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. М. В. ФРУНЗЕ
БУРЫМ ЮЛИАН АНДРЕЕВИЧ, ПРОНИНА НАТАЛЬЯ ВЛАДИМИРОВНА
МПК / Метки
МПК: G01R 33/04
Метки: параметров, пленок, феррит-гранатовых
Опубликовано: 15.09.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1508179-sposob-opredeleniya-parametrov-ferrit-granatovykh-plenok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров феррит-гранатовых пленок</a>
Предыдущий патент: Магнитоизмерительный преобразователь
Следующий патент: Способ определения температуры и электрических свойств мерзлых горных пород
Случайный патент: Состав электродного покрытия