Способ измерения температуры структуры тиристоров

Номер патента: 1392521

Авторы: Гуревич, Долгих, Синявский

ZIP архив

Текст

(5 СТ ельство СССР К 31/26, 1976. ГОСУДАРСТНЕННЫИ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ ПИСАНИЕ ИЗО КОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Научно-исследовательский институт по передаче электроэнергии постоянным током высокого напряжения (72) В.А.Долгих, М.К.Гуревичи В.А.Синявский(56) Грехов И,В Гуревич М.К.Об определении температуры активного элемента силовых тиристоров. - Электронная техника. Сер. 4 "Электроваку умные и газоразрядные приборы", 1982 вып.3, с.42-44,Авторское свидет)1 600483, кл, 0 01 4) СПОСОБ ИЗМЕРЕН)И ТЕМПЕРАТУРЫ РУКТУРЫ ТИРИСТОРОВ(57) Изобретение относится к спосо-бам измерения температуры тиристоров, используемым при производстве и эксплуатации мощных тиристоров, Целью изобретения является повьпцение точности и достоверности измерений. Перед измерением температуры со скоростью, обеспечивающей стационарность процессов в структуре исследуемого тиристора, изменяют ток управления от нуля до значения 1, , при котором термочувствртельный параметр, например напряжение анод-катод, начинает возрастать после его спада. Температуру структуры тиристора измеряют при таке управления, составляющем 1 15) Т 2 ил11 зобрегецие относится к технике функциональных измерений полупроводниковых приборов, а именно к способам измерения температуры тиристоров, используемым цри производстве и эксплуатации мощных тиристоров, а также при испытаниях тиристорных преобразователей, и является усовершенствованием изобретения по авт.св. М 600483, 10Цель изобретения - повышение точности и достоверности измерений.На фиг.1 представлена типичная зависимость термочувствительного параметра, в качестве которого используется напряжение Ц , от тока управления 1 (выделена область значеций тока управления, при которых достигается повышение точцости и достоверности измерений); на фиг.2 в ,схема 2 О устройства для осуществления предлагаемого способа.Между управляющим электродом и катодом испытуемого тиристора 1 подключают стабилизированный источник 2 25 напряжения и с помощью переменного резистора 3 изменяют ток управления.С помощью измерительного прибора 4 с высокоомцым входом, подключенным к аноду и катоду испытуемого тиристора1, регистрируют изменение Ии фиксируют положение резистора 3, соответствующее минимальному значениюИд (,фиг.1). 11 ри этом значение токауправления соответствует оптимальному 1 .11 огрешцость измерения температуры при 11 =10. не превышает1,5%. С ростом 1,1 по отношению к 1погрешность измерения слабо растет,но даже при 1 :1,5 1 , не превышает57 Формула изобретенияСпособ измерения температуры струк туры тиристоров по авт. св. У. 600483, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и достоверности измерений, предварительно со скоростью, обеспечивающей стационарность процессов в р-п-р-п-структуре, изменяют ток управления от нуля до значения 1 щ , при котором термочувст вительный параметр начинает возрастать после его спада, и температуру структуры тиристора измеряют при токе управления, составляющем 1-1,5 оптФиг. Составитель В,КамянскийТехред Л.Сердюкова Корректор В.сутяга Редактор А.Огар Заказ 1888/51 Тираж 772 Подписное ВНИИИИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

3793190, 24.09.1984

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПО ПЕРЕДАЧЕ ЭЛЕКТРОЭНЕРГИИ ПОСТОЯННЫМ ТОКОМ ВЫСОКОГО НАПРЯЖЕНИЯ

ДОЛГИХ ВЛАДИМИР АБРАМОВИЧ, ГУРЕВИЧ МАРИЯ КОПЕЛЬЕВНА, СИНЯВСКИЙ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: структуры, температуры, тиристоров

Опубликовано: 30.04.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1392521-sposob-izmereniya-temperatury-struktury-tiristorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения температуры структуры тиристоров</a>

Похожие патенты