Устройство для анализа фракционного состава микрочастиц

ОЮЗ СОВЕТСНИХ ОЦИАЛИСТИЧЕСНИРЕСПУБЛИК А 1,1357807 И 21/53, 15/ 51 4 ЕТ СССРОТКРЫТИЙ Е П ЕТЕНИ А.Вороб я сферичес 971, гл,2,ОСУДАРСТВЕННЫЙ КО О ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИ ОВСНОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТ(56) Дейрменджан Д. Рассеяние электромагнитного излучени кими частицами, М,: Мир, 1Патент США У 3361030,кл. О 01 Б 15/02, опублик. 1968. 54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАПИЗА ФРАКЦИОНОГО СОСТАВА МИКРОЧАСТИЦ(57) Изобретение относится к приборам для анализа фракционного состава микрочастиц и может быть использовано при контроле технологическихпроцессов и загрязнения окружающейсреды. Цель - повышение точностианализа. В изобретении используетсялинейка из и+1 фотоприемников, ориентированная вдоль оси зондирующего луча, причем анализируемый объеми линейка фотоприемников находятсяв плоскостях, оптически сопряженныхфокусирующей оптической системой,Этпозволяет вести параллельный независимый набор информации со всех фотоприемников. Тем самым ускоряетсянабор информации и повышается точность анализа. 2 ил, 13Изобретение относится к технической Физике, в частности к устройствам для анализа микрочастиц при контроле технологических процессов и загрязнения окружающей среды промьшэленными выбросами,Цель изобретения - повышение точности анализа микрочастиц относи",ельно фракций, счетная концентрация которых в пробе мала.На фиг. представлена общая схемаустройства; на фиг, 2 - регистрирукщая часть устройства.Устройство содержит источник 1 излучения, объектив 2, сопло 3 для подачи пробы в анализируемый объем,фокусирующую оптическук систему 4,и+ оптики-электронных фотоприемныхтрактов 5, входные элементы которыхсоставляют линейку б и соединены ссистемой 7 обработки сигналов, Область пересечения потока пробы и каустической поверхности Я излученияобразует анализируемый объем 9.Устройство работает следующим образом.Зондирующий луч объективом 2 заводится в анализируемый объем 9,Когда частипы пробы пересекают анализируемый объем 4, изображение частиц строится на линейку б входных элементов фотоприемных трактов, При этом в силу условий, накладываемых нд количество входных элементов (и+1), максимальная вероятность попадания в отдельную входную апертуру света более, чем от одной частицы, много меньше единицы, Поэтому н каждом фотоприемном тракте вырабатываются сигналы от отдельных микрочастиц, Сигналы с каждого фотоприемного тракта поступают на систему 1 обработки данных, Анализ этих сигналов в сис.- теме обработки позволяет сделать вывод о фракционном составе микрочастиц пробы. За счет повышения скорости набора информации в каналах, соответствующих наименее часто встречающимся в анализируемом потоке фракциям мик-. рочастиц, точность анализа этих фракций увеличивается, 57801 2 чэ сэ .э м ч л а и э с б р е т е н и я Устройство для анализа фракционного состава юкрочастиц, содержа- Г;нее последовательно расположенные и оптически связанные между собой источник излучения, объектив, фокуси.- рующую оптическую систему и оптико- электронный фотоприемный тракт,соединенный системой обработки сигналов а также сопло для подачи пробы в анализируемый объем, расположенное между объективол и фокусирующей оптической системой, о т л и ч а ю - щ е е с я тем, что, с пелью повышения точности анализа Фракций микрочастиц, счетная конвентрация которыхв пробе мала, оно дополнительно содержит и оптико-электронных фотоприемных трактов ось сопла для подачипробы проходит через каустическую ээвсрхность излучения источника в его сфокусированной части, а ось ка устической поверхности расположенав Фокдльной плоскости фокусирующей всрхности из:эучения, причем увеличение К фокусируюшей оптической системы общая плошадь э апертур входных элементов и их общее количество ,и+1) свяэдэлы сотношением, си сопла для подачип 1 э бэы;шириэпэ:эотока пробы в-дпрдвлении оси каусгичесной поверхности излучения; период линейки входных элемс тов оптико-электронных Фотоприемныхтрактов,оптической системы, при этом входные элементы ээсех оптико в электронн Фцтоприемньэх трдктов образуют линейЗп ку, находящуюся в плоскости изображения Фокуспрующей оптической системы и параллельную оси кдустической по1357807 Составитель В,КалечицТехред М,Дидык Редактор П,Гереши Корректор А.Зимокосов Заказ 5990/42 Тираж 776 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д.4/5