Способ измерения поверхностного сопротивления диэлектрического материала

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 4 6 01 К 27 2 ЗОБРЕТЕН ОПИС видетельство СССРС 01 К 27 00 1970 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ ТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское свидетельствИф 459742, кл. О 01 Й 27/00,1973. Авторское сУ 386350, кл. / (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛА(57) Изобретение может быть использовано в деревообрабатывающей, химической промышленности и др. для анализа свойств материалов электрическими методами. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет устранения методических погрешностей, влияния атмосферных факторов, неравномерности структу ры материала и т.д. Сначала опред ляют предпробойные ток 1 и напряжение 0при фиксированном межэлект родном расстоянии 1. Далее участок исследуемого материала обрабатывают токопроводящим составом и, перемещая электродную пару с расстоянием 1 вдоль границы раздела, когда один электрод находится на проводя-, щем участке, а другой - вне его, определяют точку плоскости, где межэлектродное сопротивление достигает заранее выбранного значения В ,затем при предпробойном токе 1 определяют напряжение на электродах О, а в точке, где при токе 1 напряжение достигает величины потенциала. исследуемого материала, перемещение прекращают и измеряют при этом межэлектродное сопротивление Й,. По результатам совместных измерений О, К, О определяют величину поверхностного сопротивления. Возможно повышение точности измерении при использовани оских электродов, расположенныхтогонально относительно друг друга.з.п.ф-лы.Изобретение относится к физическому анализу свойств материаловэлектрическими методами и можетбыть использовано в деревообрабаты 5вающей, химической и других отраслях промышленности при определении поверхностного электрическогосопротивления диэлектрических материалов, 10Целью изобретения является повышение точности измерений.Способ осуществляют следующимобразом.Выбирают размер исследуемого 15диэлектрического образца не менееудвоенного размера используемыхэлектродов. Электроды накладываютна диэлектрический образец, подаютна них напряжение от высоковольтногоисточника, изменяют межэлектродноерасстояние (1) до образования электрического пробоя. Эта точка фиксируется по резкому скачку тока и снижению напряжения. Фиксируют для данной рабочей точки расстояние 1предпробойное значение тока 1и О,.Далее часть площади исследуемогообразца обрабатывают токопроводящимсоставом, который наносят путем вти- ЗОранияУстанавливают один электродна обработанный участок, другой -вне его на расстояние 1 от первого. Не меняя межэлектродного расстояния 1 = 1 перемещают электроднуюпару вдоль границы раздела обработанного и необработанного токопроводяшим составом участков диэлектрического образца, одновременно измеряявеличину межэлектродного сопротивле Ония Р. По достижении последнего заранее выбранного значения Р электродную пару фиксируют, устанавливают ток, равный 1 ,и регистрируютнапряжение на электродах О = Ог,45Не меняя межэлектродного расстояния1 = 1,продолжают перемещать электродную пару вдоль границы раздела,измеряя одновременно величину напряжения на электродах О. При достижении напряжения значения О =: О, гдеО - потенциал ионизации для данноЧго диэлектрика (справочная величинаопределения путем подсчета среднейвеличины потенциала ионизации элементов, составляющих химическую основуисследуемого диэлектрического материала), перемещение электродов прекращают. Б этой рабочей точке из меряют межэлектродное сопротивлениеР,. По результатам совместных измерений определяют поверхностное электрическое сопротивление исследуемогоматериала:гР, Оп,мРО,где Рм поверхностное электрическое сопротивление исследуемого материала;сопротивление материалапри потенциале ионизацииО и токе 1;максимальное предпробойноенапряжение;выбранное значение сопротивления, определяемоепроводимостью статическихзарядов (Р= 10 Ом);напряжение на электродахпри токе 1, и сопротивлении Р,. Формула изобретения 1, Способ измерения поверхностного сопротивления диэлектрического материала, заключающийся в том, что на исследуемый материал накладывают измерительные электроды, подключают их к источнику высокого напряжения, измеряют параметры электрической цепи при различных межэлектродных промежутках и по результатам совместных измерений определяют поверхностное сопротивление, о т л иТочностные характеристики способа могут быть улучшены при использовании плоских электродов с осями, расположенными ортогонально.Способ позволяет классифицировать диэлектрические материалы по их электростатическим свойствам, что в обычных условиях представляет значительные трудности, так как необходимо принимать во внимание не только особенности возникновения носителей зарядов и их изменяемость, но и различные условия их релаксации, на совместный результат действия которых в значительной степени влияют атмосферные условия, химические особенности, неравномерность в структуре поверхности материалов и др. При предлагаемой измерительной процедуре эти методические погрешности устраняются.Заказ 4433/50 Тираж 730 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4 ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности, изменяют межэлектродное расстояние до образования электрического пробоя и фиксируют расстояние 1значения тока 1,и напряжения 0, подвергают обработке части площади исследуемого мате 3риала токопроводящим составом уста"навливают один электрод на обработанный участок, другойвне его на расстоянии1, неменяя межэлектродного расстоянияперемещают электродную пару до достижения величины межэлектродногосопротивления, равной заранее выбранному значению Й , затем при токефиксируют значение напряженияО, а в точке, где при токезначение напряжения достигается величины потенциала ионизации исследуемого материала 0 , перемещение прекращают и измеряют при этом сопротивление Й,.1 О 2. Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности, измерения производят с помощью электродов, расположенных ортогонально относительно друг друга.