Солнечная печь

Номер патента: 885738

Опубликовано: 30.11.1981

Авторы: Дуб, Соколов, Сычева, Шторм

МПК: F24J 2/46

Метки: блоков, излучения, концентратора, солнечного, стендовой, фацет, юстировки

...в фокус "Р. В этом случае поворотом блока 1 вокруг вершины центральной фацеты 5 добиваются совмещения изображения дополнительного источника 6 с Фокусом "Р,Затем устанавливают в Фокусе "Ристочник 3 расходящегося пучка 2 светаи направляют его на центральную фацету 5, добиваясь поворотом плоскогозеркала 4 совмещения автоколлимационного изображения источника 3 с изображением источника 6,После этого можно считать стенд отюстированвым и приступать к корректировке положения фацет в блоке 1.Это осуществляется путем освещенияподлежащей юстировке Фацеты в блоке 1расходящимся пучком 2 света от источника 3. Естественно, что поперечныйразмер пучка 2 не должен превосходитьразмера одной фацеты. Корректировкой .положения юстируемой фацеты...

Номер патента: 717501

Опубликовано: 25.02.1980

Автор: Глазов

МПК: F24J 2/46

Метки: концентраторов, солнечной, фацет, энергии

...5 дпя откачкиСоставитель А, Смирноваедактор Е, Кравцова Техред С. Мигай Корректор В ницкая Заказ 9814/53 Тираж 857 ЦНИИПЙ Государственного комитета йо делам йзобретений и открыти 113035, Москва, Ж, РаушскаяодписноеСССР абд, 4/ ППП Патент", г, Ужгород, ул. Проектна 371воздуха и обечайкой 6, Заготовка 2" -расположена на последней, а шаблон -3 "устаповлек в корйусе "4 и имеет выс "тупы 7, выполненные с возможностьюизменения "их вйсоты. Между шаблойом3 и заготовкой 2 и установлена упругаяпластина 8.,Способ осуществляется следующим образом.На выступы 7 шаблона 3 устанавливают упругую пластину 8 а на обечайку 6, расположенную несколько вышепластины 8, - заготовку 2, Нагревательную печь 1, йоЖешейнувйа йодъемйом,устройстве (не показано)...

Номер патента: 1250792

Опубликовано: 15.08.1986

Авторы: Афян, Вартанян, Мадатян, Ростокинский, Тверьянович, Шекоян

МПК: F24J 2/46

Метки: концентратора, матрица, методом, моллирования, солнечной, стекла, фацет, энергии

...осуществляют с помощью винтовьж соединений 5, связанных с основанием 1. 20 35Опорные площадки 4 (фиг. 2) имеютв плане круглую форму.Матрица для изготовления фацет концентратора солнечной энергии методом моллиронания стекла работает сле- щ дующим образом. Изобретение относится к гелиотехнике, в частности к матрицам для изготовления фацет концентратора солнечной энергии методом моллирования стекла. 5Целью изобретения является расширение рабочего диапазона матрицы на изготовление фацет фрагментарной формы.На фиг. 1 показана конструктивная 10 схема матрицы для изготонления фацет концентратора солнечной энергии методом моллирования стекла; на фиг. 2 то же, вид сверху,792 2Устанавливают штыри 2 (фиг. 1) по высоте таким образом, чтобы...

Номер патента: 1481571

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Абдурахманов, Азимов, Пирматов, Урюпин

МПК: F24J 2/06

Метки: печи, солнечной, юстировки

...8 гелиостатов 2 выполнены в виде высокоточных 40зеркал.Датчики 5 установлены на стойках10 при помощи призм 11. Стойка 10выполнена в виде жесткой формы на бетонном основании гелиостатного поля 45(не показано). Теодолит 9 устанавливают на стойке 10 несколько смещенным относительно датчика 5. Фацеты12 гелиостата 2 снабжены юстировочными винтами 13. 50фацеты 4 (фиг,1) концентратора 1также снабжены юстировочными винта"ми (не показано).В фокусе Р концентратора 1 установлен экран 14 со светочувствительными элементами 15, расположеннымипо его площади с определенным шагоми регистрирующими величину световойэнергии, падающей на экран 14,71 2Элементы 15 подключены к системе регистрацни, а затем, при необходимости, к ЭВМ (не показано).Способ...

Номер патента: 316943

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Шеклеин, Энергетический

МПК: G01J 5/60

Метки: оптических, печи, солнечной, температур

...влияния отраженного солнечного излучения измерения по описываемому способу производят на длинах волн, лежа щих внутри полос полного поглощения в одном из интервалов наземного солнечного спектра. чаше поглощается практически полностью, т. е. в падающем солнечном потоке эти спектральные участки отсутствуют. В то же время, вследствие несравненно меньшей длины опти;еского пути от нагреваемого в фокусе печи образца до пирометра, непрерывный спектр излучения образца не претерпевает таких изменений и содержит участки, отсутствующие в падающем излучении. Это дает возможность обычными методами оптической пирометрии проводить измерения яркостных и цветовых температур, выбирая в качестве рабочих длин волн те спектральные участки, где...