Устройство для измерения статических параметров электронных ламп

Номер патента: 128901

Автор: Бакалейник

ZIP архив

Текст

Ло 128901 Класс 21 и, 13 вв21 а 4, 71 ссср ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУяЭписные группы ЛРЛо 97; И. С. Бакалейник АРАМЕТРОВ СТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СТАТИЧЕСЭЛЕКТРОННЫХ ЛАМП за М 606805/26 в Комитет но лелам изобретенийпри Совете Министров СССРюллетене изобретений М 11 за 1960 г. Заявлено 28 августа 1958 ги открыт публиковано вИзвестны устройства для измерения статических параметров электронных ламп методом переменных приращений с использованием электронного стабилизатора. Основной недостаток известных устройств состоит в том, что они не обладают достаточной точностью цзмерешй, не имеют непосредственного отсчета показанцй ц не позволяют непосредственно измерять крутизну характеристики лампы.В описываемом устройстве эти недостатки устранены тем, что испытуемая лампа при измерениях внутреннего сопротивления (Я, ) ц коэффициента усиления ( и ) включается последовательно с электронным стабилизатором, и тем, что при измерении крутизны характеристики лампы (5) сопротивление нагрузки испытуемой лампы включено в анодную цепь регулирующей лампы злетронного стабилизатора, а испытуемая лампа включена параллельно выходу электронного стабилизатора.На фиг. 1 показана скелетная схема устройства прц измерении коэффициента усиления ( о ).Анодный ток испытуемой лампы 1 стабилизируется стабилизатором тока 2. На сетку лампы 1 подается переменное напряжение с генератора 3. Изменение потенциала сетки равносильно измененпо статического сопротивления лампы 1, но так как ток поддерживается постоянным, то изменяется падение напряжения на участке анод - катод испытуемоц лампы 1. С анода лампы 1 снимается напряжение, пропорциональное коэффициенту усиления 1, Показания фиксируются прибором 4, Шкала - прямоотсечная и линейная.На фиг, 2 показана скелетная схема устройства при измерении внутреннего сопротивления Й;.На сетке лампы 1 поддерживается постоянное напряжение. На ано лампы 1 подаются стабилизированные по амплитуде переменные прира щения анодного тока (1, ) отгенератораи стабилизатора переменног12890тока ,ЦирДМ сопротивление й, будет при этом пропорциональноизменению анодного напряжения (Ьа ),т% ф,ф, ==М с ; гд/г: - коэффициент пропорциональности, равныйффУ".Отсчет внутренцеГ сопротивления осуществляется непосредственнопо прибору 3, Для измерения ламп с различным анодным током в устройстве вомо калбровка (не поаано ца схеме), прн которс)й измсрястся известное эталонное сопротивление, включаемое вместо испытусмой лампы.На фиг. 3 показана скелетная схема устройства при измерении кр,тцзцы .(Зрактеристики лампы.Крутизна характеристики (5) определяется отношением приращенийанодного тока (Л 1, ) и напряжения на сетке лампы (ЛГ,) при постояц.цом анодцом напряжении.П 1)и с 1-: СОНМ крутизна Я 1)актсристик 1 пропорциоцал 1 з ЛУ.В описываемом устройстве измеряется переменное напряжение Ь;которое выделяет переменный ток ца сопротивлении нагрузки испытуемой лампы..а -ау 1 р 1 а-,апри 1(=-сопз и Г=сопй крутизна пропорциональна (/ Анодцос а пряжение испытуемой лампы 1 стаоилизируется стабилизатором 2. На сетку лампы подается напряжение с генератора 3. Изменение потенциала сетки равносильно изменению статического сопротивления лампы 1, но тяк 1(як няп)яжснис учзсткя анод - катод пост 05 нО, я сопротивение ня этом участке меняется, то меняется ток. Эти измецспия гока создают на сопротивлении 4 псременцос папряжс.нис, которос измеряется грибс,)ох ), отградуированным в значениях крутизны.Предс т изобрс тс ци1. 1 стрОЙстВО,Л 51 11 змсрспи 51 стзтичсс(Ня)ямстров электроннх ЛЯМП МСТОДОМ ПЕРЕЪ 1 ЕННЫПИ 1)ацсПИЙ С ИСПОЛЗОВЯЦИСМ ЭЛСКТОННОГО стабилизатора, о т л и ч а ю щ с с с я тем, что, с целью повыпксния точности измерений и получсния непосредственного отсчета показаний, в не, испытуемая лампа, при измсрепиях внутреннего сопротивления (1( и КОЭС)фИЦИСНТЗ УСИЛЕНИЯ ( с ), ВКЛЮЧСНЗ ПОСЛЕДОВЗТСЛ НО С ЭЛЕКТРОНПМ ста бил изатором.2. Устройство по и. 1, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью непосредственного измерения крутизны характеристики лампы (5), в нем сопротивление нагрузки испытуемой лампы включено в анодную цепь рсгулируОщсй ламп Элскт)онного стабилизатора 3 испытуемая Лампа В(лО- чсца параллельно выходу электронного стабилизатора

Смотреть

Заявка

606805, 28.08.1958

Бакалейник И. С

МПК / Метки

МПК: G01R 31/24, H01J 9/42

Метки: ламп, параметров, статических, электронных

Опубликовано: 01.01.1960

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-128901-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-staticheskikh-parametrov-ehlektronnykh-lamp.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения статических параметров электронных ламп</a>

Похожие патенты