Оптический микроскоп

(21) (22) (46) (71 ) иссл (72) (53) М 47институт ядер енныи 8)85,У 1,с.4 др ОптикО меМ.: Машиност к эксперии позволя- наблюдения ущих под ма.- микроскоо микроско- кционной ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ АВТОРСКОМУ СВ едованииП. М. Сороко535,322.1(088.(57) Изобретение относитсментальной ядерной физикеет повысить эффективностьпрямых следов частиц, идлым углом к оптической оспа. Кочденсор 2 оптическопа снабжен кольцевой дийр(5 ц 4 0 02 В 21/00// 0 ОБРЕТЕНИ решеткой 3, центры кольцевых бороздокоторой образуют эквидистантную последовательность точек на прямой линии в плоскости решетки. Установкаконденсора 2 с возможностью поворотавокруг оси микроскопа позволяет подбирать положение освещающей областив Аорме наклонного цилиндра, при котором ось этого цилиндра параллельнапрямым следам частиц с заданным углом наклона к оптической оси устройства. С помощью объектива 4 и окуляра 5 прямые следы частиц с заданнойориентацией, попавшие в освещеннуюзону,.наблюдаются на всю глубину слояядерной эмульсии. Приведены условия,из которых выбрано расстояние междусоседними бороздками дифракционнойрешетки. 2 ил.. 78773Изобретение относится к экспериментальной физике частиц и можетбыть использовано в технике трековых камер при исследовании свойств элементарных частиц.Цель изобретения - повышение эА- фектинности наблюдения прямых следов частиц, идущих под малым углом А к оптической оси микроскопа (сЯ рад),На Фиг. 1 показан оптический микроскоп преимущественно для наблюдения следов частиц в ядерной Аотоэмульсии; на фиг. 2 - конструктивное выполнение кольцевой диАракционной решетки. Чтобы обеспечить требуемый наклоносвещенной области, оптический микро,коп содержит кольцевую диАракционнуи решетку, выполненную н в;:де набора круговых бороздок, центры которых расположены на экнидистантной последовательности точек Это значит, что каждая кольцевая бороздка имеет свой центр. Последние расположены на прямой линии, которая лежит н плоскостикольцевой дидрракционной решетки. При этом расстояние между двумя соседними точками указанной эквидистантнойпоследовательности точек связано схарактеристиками кольцевой ди 3 ракци Оптический микроскоп содержит источник 1 коллимиронанного пучка света, конденсор 2, кольцевую дийракционную решетку 3, объектв 4 и окуляр 5.Параллельный пучок света из источника 1 коллимированного пускасвета проходит через кольцевую диФракционную решетку 3, Лучи света,диАрагиронанные на следе частицы,.;.вторый попал в освещенную зону, имеищуи йорму наклонного цилиндра, зах-ватываются объективом 4, и унеличенное изображение наклонного следа частицы формируется при помощи окуляра 5Оптический микроскоп преимущественно для наблюдения следов частицв ядерной йотоэмульсии работает следующим образом,Ядерную фотоэмульсию устанавливают н плоскости, вблизи которой формируется освещенная область в Форменаклонного цилиндра. Включают источник 1 коллимированного света. При помощи конденсора 2, установленного свозможностью поворота, подбирают та"кое положение оснещающей области вуорме наклонного цилиндра, при котором ось указанного цилиндра параллельна прямым следам частиц с заданным углом Ы наклона к оси оптического устройства (Ы(1 рад,). При помощиобъектива 4 и окуляра 5 наблюдаютпрямые следы частиц с заданной ориентацией. Если указанный прямой следчастицы попадает н освещенную область оч освещается коиденсорам нансю глубину. При этом не проводя никаких метрических измерений в пространстве искомый прямой след частицылегко отличается от тех, которые имт грчгую ориентацию в пространств",онной решетки оптического микроскопа так, что наибольшее д., и наименьшее 6 расстояния между бороздками кольцевой дифракционной решетки в плоскости, которая проходит через указанную эквидистантную последовательность точек и ось оптического микроскопа, связаны с углом Ы соотношени 2 Аем Й -Й = - й й . При этом разность1 2 3, 1 йЙ -Й ) равна шагу указанной эквиЯдистаитной последовательности точек. Для того, чтобы оптический микроскоп имел требуемое поперечное разрешение ьх, достаточно выпопнить условие1в . - + =-, - или ему эквивалентное а, а,ихЙ,Й6 +Й = - е2 ахЧтобы наблюдать локально освещенный наклонный прямой след частицы ,на всю глубину слоя ядерной фото- эмульсии Ь, используют традиционный прием: уменьшают апертуру объектива 4 до величины я,э 2 Д 7 Б, где Д - дли" на волны света. Для=0,5 мкм, =200 мни, Яр 0,1. При такой апертуре разрешение объектива 4 ухудшается до 10 мкм, Однако результируищее разрешение данного оптического микроскопа определяется не апертурой объектива Я а диаметром освещенной области н форме наклонного цилиндра. Последний равен Ах - требуемому поперечному разрешению предлагаемого оптического микроскопа.,П р и м е р, Наблюдают следы частиц в ядерной Фотоэмульсии Так как бхФ 2 мкм, для с,50 имеютС 1 Д,аЙ Сг . С г 9 сОткуда находят. 55 дгм и =49 мкм Кольцевая,цийракционная ре127 Я 7 73 Составитель И. ОсташенкРедактор И, Горная Техред В.Кадар Корректор Г. Решетки аз 6832/43 Тир ВИЯПИ Государс по делам изо 113035,. Москва, Ж аж 501венного комитета СССРретений и открытий5, Раушская наб, д. сное но-полиграфическое предприяти роектная, 4 Ужгород шетка предлагаемой конструкции может быть изготовлена в виде фазового оптического элемента при помощи лазерного фбтопостроителя для синтеза дифракционных оптических элемен тов,Формула изобретения Оптический микроскоп преимущест- б венно для набЛюдения следов частиц в ядерной фотозмульсии, содержащий последовательно расположенные вдоль оптической осн источник коллимированного пучка света, конденсор, объектив и окуляр, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью повышения эффективности наблюдения прямых следов частиц, расположенных под малым углом К к оптической осй микроскопа 20 конденсор снабжен кольцевой дифракционной решеткой, выполненной в виде набора круговых бороздок, центры которых расположены на эквидистантной последовательности точек на прямой линии в плоскости кольцевой дифракционной решетки, при этом расстояние между соседними бороздками кольцевой дифракционной решетки в плоскости, проходящей через указанную прямую линию и оптическую ось микроскопа, выбраны из условийа-а= - аа;2 Фр2 ьх фгде 6 и й - соответственно наибольшее и наименьшеерасстояния между соседними бороздками;( - длина волны света;ах - требуемое поперечноеразрешение микроскопа; сс 1 рад, а конденсор установлен с возможностью поворота вокруг оптической оси микроскопа.