Способ ультразвукового контроля изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(5)4 С 01 Б 29 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ енное объ ашиностро еВопилки 7, с. 63.таний.1972,фисп ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Научно-производствдинение по технологии мния ЦНИИТмаш(54) (57) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГОКОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ, заключающийся в том, что излучают в изделие широкополосные импульсы ультразвуковыхколебаний, принимают отраженные отдефекта эхо-импульсы ультразвуковыхколебаний, определяют спектры принятых эхо-импульсов, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышния достоверности контроля, регистрируют первый и второй эхо-импульсы от дефекта, определяют среднюючастоту спектра первого эхо-импульса, для обоих эхо-импульсов определяют площади частей спектров, расположенных ниже и выше найденнойчастоты, и по отношению измеренныхплощадей определяют тип дефекта.Изобретение относится к областинеразрушающих испытаний материалови может быть использовано для определения типа дефекта при ультразвуковом контроле металлов и металлических изделий,Целью изобретения является повышение достоверности контроля путемопределения типа дефекта.,На Фиг.1 показана схема устройства для реализации предлагаемогоспособа, на фиг,2 - спектры первогои второго эхо-импульсов от плоскогодефекта; на фиг.3 - то же, от объемного дефекта. 15Устройство содержит соединенныепоследовательно синхронизатор 1,генератор 2 зондирующих импульсов,пьезопреобразователь 3, усилитель 4,анализатор 5 спектра и регистор 6, 20включенный между синхронизатором1 и вторым входом усилителя 4 блок7 стробирования и соединенный с вторым выходом усилителя 4 осциллографический индикатор 8, соединенный 25вторым входом с синхронизатором 1,Способ ультразвукового контроляреализуется следующим образом.Синхронизатор 1 запускает генератор 2 зондирующих импульсов, кото- З 0рый возбуждает пьезопреобразователь,3. В изделие излучается короткийширокополосный ультразвуковой импульс предпочтительно сдвиговых колебаний, Целесообразность использования сдвиговых волн обусловлена тем,что, во-первых, их скорость в металлах почти в два раза меньше скорости продольных волн, благодаря чемувозможно лучшее временное разрешение сигналов при прочих равныхусловиях, во-вторых, ввиду болееэффективной трансформации сдвиговыхволн в волну обегания по сравнениюс продольными. 45Сигналы от дефекта преобразуютсяпьезопреобразователем 3 в электрические импульсы, усиливаются усилителем 4 и подаются на осциллографический индикатор 8, развертка которого запускается синхронизатором 1.Сигнал от дефекта разделяют повремени приема на первый и второй.Первый сигнал может быть от ближнегок искателю края плоского дефекта(дифрагированный сигнал) или зеркальным отражением от объемного дефекта. Второй сигнал может быть,в случае плоского дефекта, отражением от дальнего к искателю краядефекта, а в случае объемного дефекта - сигналом обегания,В блоке 7 стробирования устанавливается строб, в пределах которогонаходится только один импульс отдефекта - первый или второй. С первого выхода усилителя 4 находящийсяв стробе импульс поступает на анализатор 5 спектра. Спектр анализируемого импульса регистрируется регистратором 6.Определяют среднюю частоту Госпектра первого сигнала, котораяделит спектр на высокочастотную инизкочастотную части. Относительно средней частоты 2 делят такжеспектр второго сигнала на высокочастотную и низкочастотную части.Затем измеряют площади этих частейи по отношению измеренных площадейопределяют тип дефекта. Для этого,например, вычисляют коэффициент изменения формы спектра К, по формулеЯ 2,Яр(Р Я, Яггде Я и Я - площади низкочастотной и высокочастотнойчастей спектра первогосигнала,Я, и Я,- то же, второго сигнала.При использовании монохромати,ческого сигнала с ростом частотыамплитуда волны обегания дефектауменьшается, причем это уменьшениезначительно сильнее, чем уменьшение,обусловленное зависимостью затухания от частоты. В импульсном режимеэто проявляется в снижении уровнявысокочастотной части спектра дляволны обегания дефекта. Поэтомупо коэффициенту изменения формыспектра Кможно определить типдефекта: если Кр больше 2, дефектобъемный, если К меньше 1,3 - плоскостной, Если 1,3 с Крс 2, для определения типа дефекта необходимадополнительная информация,Использование предлагаемого изобретени; позволяет повысить досто верность определения типа дефектов небольших размеров (порядка нескольких длин волн).1188647 Уо фиг Составитель С, Волковедактор А. Гулько Техред А.Ач Коррект Демчик Патент", г. Ужгород, ул. Проектная Филиал аказ 6738/46 ВНИИПИ п 113035Тираж 896 Государственногелам изобретенийосква, Ж, Рау Подписное комитета СССР и открытий ская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
3636485, 25.08.1983
НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ ПО ТЕХНОЛОГИИ МАШИНОСТРОЕНИЯ "ЦНИИТМАШ"
ВИННИКОВ ГЕОРГИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, ВОПИЛКИН АЛЕКСЕЙ ХАРИОНОВИЧ, НАУМОВ МИХАИЛ СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: ультразвукового
Опубликовано: 30.10.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1188647-sposob-ultrazvukovogo-kontrolya-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ ультразвукового контроля изделий</a>
Предыдущий патент: Акустический зонд
Следующий патент: Акустико-эмиссионный способ контроля качества покрытия
Случайный патент: Шаговый электродвигатель