Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1147967
Автор: Алексеев
Текст
союз сонетснихСООИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 4(51) б 27/ ОП ОРСКОМУ Св Я ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРпо делАм изобРетений и отнРытий(71) Куйбышевский электротехнический институт связи(54)(57) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ КОРОТКИХ ИЗДЕЛИЙ, содержащий измерительный преобразо-, ватель, формирователь,к входу которого подключен измерительный преобразователь, М вспомогательных преобразователей,установленных соосно с измерительным преобразователем, блокуправления, к входам которого подклю.чены вспомогательные преобразователи, и блок разбраковки, о т .л и ч а ю щ и й с я тем, что, с БО 1147967 А целью повышения надежности контрол он снабжен щ -1 измерительными преобразователями, расположенными соосно с первым измерительным преобразователем и подключенными к формирователю, соединенными последовательно переключателем, подключенным квыходу формирователя, блоком образцовых сигналов и арифметико-логическим блоком, выход которого подключен к блоку разбраковки, измерительным блоком, первый вход которого.объединен с вторым входом блока образцовых сигналов и подключен к выходу блока управления, второй вход соединен с вторым выходом переключателя, а выход измерительного блока подключен к второму входу арифметико-логического блока, и распределителем, выходы которого подключены к соответствующим входам блока упавления, формирователя, блока обазцовых сигналов и измерителього блока.Изобретение относится к методамнеразрушающего контроля и можетбыть использовано для контроля качества малогабаритных изделий в автоматизированных системах.,Известен электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий соединенные последовательно измерительный преобразователь, блок сравнения, блок обработки сигналов и индикаторныйблок и соединенные последовательновторой вихретоковый преобразователь,блок управления и блок образцовыхсигналов, подключенный к второмувходу блока сравнения 1,Недостатком этого дефектоскопаявляется необходимость перестройкиблока образцовых сигналов при перехо"де от контроля изделий одного типоразмера к контролю изделий другоготипоразмера,Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий измерительный преобразователь,формирователь, к входу которого подключен измерительный преобразователь, 1 вспомогательных преобразователей, установленных соосно с измерительнымпреобразователем, блок управления,к входам которого подключены вспомогательные преобразователи и блокразбраковки Я ,Недостатками известного дефектоскопа также являются необходимость его перестройки для контроляизделий другого типоразмера и зависимость результата контроля от внешних условий и электромагнитных 4 Освойств изделий.Цель изобретения - повышение надежности контроля,Поставленная цель достигаетсятем, что электромагнитный дефектоакоп для контроля коротких изделий,.содержащий измерительный преобразователь, формирователь, к входу которого подключен измерительный преобразователь, 1 вспомогательных преобразователей, установленных сооснос измерительным преобразователем,блок управления, к входам которогоподключены вспомогательные преобразователи, и блок разбраковки,снабжен визмери ".ельными преобразователями, расположенными соосно спервым измерительным преобразователем и подключенными к формирователю, соединенными последовательно переключателем, подключенным к 60выходу формирователя, блоком образцовых сигналов и арифметико-логическим блоком, выход которого подключенк блоку разбраковки, измерительнымблоком, первый вхоц которого объе динен с вторым входом блока образцовых сигналов и подключен к выходу блока управления, второй входсоединен с вторым выходом переключателя, а выход измерительного блока подключен к второму входу арифметико-логического блока, и распределителем, выходы которого подключены к соответствующим входам блокауправления, формирователя, блока образцовых сигналов и измерительногоблока.На чертеже изображена блоксхема электромагнитного дефектоскопа для контроля коротких иэделий.Дефектоскоп содержит М измерительных преобразователей 1-3, соединенные последовательно формирователь 4, к входу которого подключены измерительные преобразователи1-3, переключатель 5, блок 6 образцовых сигналов, арифметико-логическииблок 7 и блок 8 разбраковки.Дефектоскоп содержит также И-вспомогательных преобразователей 9-11,блок 12 управления, к входу которогоподключены вспомогательные преобразователи 9-11, измерительный блок 13,первый вход которого объединен с вторым входом блока 6 образцовых сигналов и подключен к выходу блока 12управления, второй вход соединен свторым выходом переключателя 5, а выход измерительного блока подключенк второму входу арифметика-логического блока 7, и распределитель 14,выходы которого подключены к соответствующим входам блока 12 управления, формирователя 4, блока 6 образцовых сигналов и измерительного блока 13.На чертеже изображены также трубопровод 15, на котором "оосно закреплены измерительные,и вспомогательные преобразователи 1-3, 9-11и контролируемое изделие 16,Дефектоскоп работает следующимобразом,Первоначально дефектоскоп переводится в режим Обучение. Для этого переключателем 5 подключают блок 6 образцовых сигналов к выходу формирователя 4, Из заведомо годных иэделий отбирается выборка, и каждое контролируемое изделие 16 последовательно перемещается по трубопроводу 15 под действием собственного веса. При перемещении контролируемого изделия 16 последовательно срабатывают измерительные преобразователи 1-3 и вспомогательные преобразователи 9-11. Сигнал от вспомогательных преобразователей 9-11, характеризу" ющий положение контролируемого иэделия 16, поступает на блок 12 управления.1147967 Составитель Ю,ГлазковРедактор Е.Копча Техред Т,Маточка Корректор М.Поко Заказ 1568/36 Тираж 897 . Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР,по делам изобретений и открытий 113035, Москва, ж, Раушская наб.:, д.4/5Филиал ППП Патентф, г,ужгород, ул.Проектная, 4 По командам блока .12 управлениясигналы, поступившие с выхода формирователя 4, дискретизируются исуммируются,В конце цикла Обучением вблоке 6 образцовых сигналов хранится усредненная информация, описывающая годные изделия в К контрольных точках,Затем переключатель 5 подключает к выходу формирователя 4 измерительный блок 13, и дефектоскоп переходит в режим РаспознаваниеВ этом режиме сигналы, поступающие от измерительных преобразователей 1-3 для каждого контролируемого изделия 16, сравниваются в арифметико-логическом блоке с запомненными контрольными сигналами, По результатам сравнения арифметикологический блок 7 выделяет команду в блок 8 разбраковки, Синхронизация работы всех блоков осуществляется распределителем 14.Изобретение позволяет повысить йдежность контроля путем уменьшения ошибок первого и второго рода, величины перекрестных полей, увеличивает . вероятность выявления минимальных дефектов,
СмотретьЗаявка
3650806, 11.10.1983
КУЙБЫШЕВСКИЙ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ СВЯЗИ
АЛЕКСЕЕВ АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскоп, коротких, электромагнитный
Опубликовано: 30.03.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1147967-ehlektromagnitnyjj-defektoskop-dlya-kontrolya-korotkikh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий</a>
Предыдущий патент: Электромагнитный дефектоскоп
Следующий патент: Устройство для определения энергетических диаграмм ферромагнитных материалов
Случайный патент: Устройство для контроля счетчиков