Способ ультразвуковой дефектоскопии изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
6 ГОСТЮ СТВЕННЦй НОМИТЕТ СССРГЮ ДУПЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЬ 1 ТЗФ(71) Научно-исследовательский институт мостов Ленинградского ордена Ленина института инженеров железнодорожного транспорта им.акад. В.Н. Образцова:(56) 1. Авторское свидетел В 193132, кл. С 01 Я 29/042. Авторское свидетельс .В 5601.79, кл. С 01 Н 29/04 (прототип) .541 (571 СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ, заключающийся в том, что в контролируемое изделие в процессе сканирования с помощью двух:излучающих преобразователей вводят ультразвуковые колебания, с помощью двух приемных преобразоватлей, размещенных между излучающимипринимают однократно отраженныедонные сигналы и измеряют их амплитуду, которую учитывают приопределении дефекта, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, приемные преобразователи размещают контактно один к другому, выбираютуглы ввода каждой пары излучающегои приемного преобразователей различными по величине, измеряют протяженности участков изделия, в пределахкоторых каждый приемный преобразователь фиксирует первое уменьшениеамплитуды однократно отраженныхдонных сигналов, и участка междуначалами участков первого уменьшения амплитуды,и по значениям угловввода преобразователей и измеренныхпротяженностей участков определяЮтналичие и тип дефекта.Изобретение относится к испытаниям и измерениям и может быть использовано для обнаружения дефектов.Известен способ ультразвуковой дефектоскопии изделий, заключающийся в том, что в контролируемое изделие с помощью одного преобразователя вводят ультразвуковые колебания двух различных частот, принимают, ультразвуковые сигналы из изделия, изме- О ряют амплитуды напряжений в каждом из образованных частотных каналов и по разности измеренных амплитуд определяют дефект 1 .Недостатком способа является низ кая достоверность контроля при использовании для осуществления спосо" ба раздельных ввода и приема ультразвуковых колебаний,Наиболее близким по технической , 20 сущности к предлагаемому является способ ультразвуковой дефектоскопии изделий, заключающийся в том, что вконтролируемое изделие в процессе сканирования с помощью двух излучаю щих преобразователей вводят ультразвуковые колебания, с помощью двух приемных преобразователей, размещенных между излучающими, принимают однократно отраженные донные сигналы З 0 и измеряют их амплитуду, которую учитывают при определении дефекта. При этом также измеряют и учитывают время распространения улвтразвуковых колебаний в изделии 235Недостатком известного способа является низкая достоверность контроля из-за невозможности определения, связано ли уменьшение амплитуды принятых сигналов с наличием де фекта или с нарушением акустического контакта.Цель изобретения-повышение достоверности контроля.Поставленная цель достигается тем,45 что согласно способу ультразвуковой дефектоскопии изделий, заключающемуся в том, что в контролируемое изделие в"процессе сканирования с помощью двух излучающих преобразователей 50 вводят ультразвуковые колебания,. с помощью двух приемных преобразователей, размещенных между излучающими, принимают бднократно отраженные донные сигналы и измеряют их ампли-.55 туду, которую увеличивают при определении дефекта, приемные преобразователи размещают контактно один к другому, выбирают углы ввода каждой пары излучающего и приемного преобразователей различными по величине, измеряют протяженности участков иэделия, в пределах которых каждый приемный преобразователь фиксирует первое уменьшение амплитуды однократно отраженных донных сигналов, и участка между началами участков первого уменьшения амплитуды, и по значениям углов ввода преобразователей и измеренных протяженностей участков определяют наличие и тип дефекта.На фиг, 1 приведена схема реализации способа ультразвуковой дефектоскопии; на фиг. 2 - изменение амплитуды принятых каждым приемником сигналов в процессе сканирования при наличии в изделии объемного дефектаНа фиг. 1 изображены излучающие преобразователи 1 и 2 с различными углами К и Ж ввода, размещенные между излучающими контактно один к другому приемные преобразователи3 и 4, жесткая связь 5, соединяющая все преобразователи, и изделие 6 с дефектом 7, Расстояния между излучающими и приемными преобразователями выбирают с учетом значения их углов ввода и толщины контролируемого изделия, чтобы обеспечить прием однократно отраженных колебаний, а углы ввода Ж К выбирают из требуемой погрешности измерений:с кчем больше отношение , тем вышеЕдКточность измерений.Способ осуществляется следующим образом.По поверхности контролируемого изделия сканируют преобразователями 1-4, которые за счет жесткой связи 5 между ними перемещаются синхронно, При этом излучающими преобразователями 1 и 2 в изделие вводят ультразвуковые колебания. С помощью приемных преобразователей 3 и 4 принимают однократно отраженные донные сигналы и измеряют их амплитуду. При ее уменьшении.(фиг. 2 измеряют протяженности О и 0 участков изделия, в пределах которых каждый из приемных преобразователей 3 и 4 фиксирует первое уменьшение амплитуды однократно отраженных доннйх сигналов, и протяженность участка 1 изделия между началами указанных участков Р и .Х. Но измеренным значениям протяженностей и значениям7Редактор Составитель М. АндрееваЕ. Лушникова ТехредМ.Гергель Корректор И. Эрдейи Заказ 9603/32 Тираж 822ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Подписное филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 углов ввЬда определяют наличие и тип дефекта,. используя условия2 Н у(Х 1(Н(1:80+д иг) 3 (1)8=2 Н Сдж;У Йе О(2)г В "ггде Н - толщина контролируемогоизделия;0,4,г - углы ввода преобразователей; 1,г - протяженности участков изделия, в пределах которыхкаждый приемный преобразователь фиксирует первоеуменьшение амплитуды;- протяженность участка изделия между началами участков1 г сУстановлено, что при выполнении условия 1) уменьшение амплитуды 30796 4однократно отраженных донных сигналов связано с наличием объемногоили протяженного дефекта, а привыполненных условиях 2) - с нали- .чием поперечной трещины или изломапо всей толщине, При невыполненииусловия (1) и 2) уменьшение амплитуды обусловлено или локальным изме-.нением отражающих .свойств донной 10 поверхности, или нарушением акустического контакта. В первом случаевыполняется условие11=Н(КФ+30 г),Ь еа юа во втором15 г К ф 2 Таким образом, использование предложенного способа позволяет повь 1- сить достоверность контроля.
СмотретьЗаявка
3548547, 03.02.1983
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МОСТОВ ЛЕНИНГРАДСКОГО ОРДЕНА ЛЕНИНА ИНСТИТУТА ИНЖЕНЕРОВ ЖЕЛЕЗНОДОРОЖНОГО ТРАНСПОРТА ИМ. АКАД. В. Н. ОБРАЗЦОВА
КРУГ ГРИГОРИЙ АБРАМОВИЧ, ЛОХМАТЫЙ ВСЕВОЛОД ЕФИМОВИЧ, МАРКОВ АНАТОЛИЙ АРКАДЬЕВИЧ, СЫЧ НАДЕЖДА ЮРЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопии, ультразвуковой
Опубликовано: 23.12.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1130796-sposob-ultrazvukovojj-defektoskopii-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ ультразвуковой дефектоскопии изделий</a>
Предыдущий патент: Электромагнитно-акустический преобразователь
Следующий патент: Ультразвуковой преобразователь
Случайный патент: Устройство для регулирования производительности винтового компрессора