Способ исследования температурного режима в поверхностном слое

Номер патента: 112607

Автор: Сухов

ZIP архив

Текст

Юв 112607 Класс 421, 8,СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУС. А, Сухов СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОГО РЕЖИМА ВПОВЕРХНОСТНОМ СЛОЕ Заявлено 13 апрели 1957 г. ва Ув 571422 в Комитет ио делам изобретений и открв 1 гийпри Совете Министров СССРИсследование температурного режима в поверхностном слое, образованном гальваническим покрытием одного металла другим. осущесгвляют, обычно, путем измерения термоэлектродвижущей силы, возникающей в слое покрытияПредлагаемый способ более совершенен, по сравнению с известными, так как позволяет исследовать температурный режим в поверхно. стном слое разнородных трущихся тел. Это достигается тем. что на поверхность одного из трущихся тел наносят покрытие из другого металла.На фиг. 1 и 2 изображена схема измерения температур по предлагаемому способу.Торец исследуемого образца 1 (фиг. 1) покрывают гальваническим или химическим путем тонким слоем 2 металла, создающего с металлом образца значительную термоэлектродвижущую силу. Образец 1 прижимают к пластине 3 и к ним подключают гальванометр 4. Пластина 3 и соединительные провода должны быть изготовлены из того.же металла, что и образец 1. Слой 2 покрытия совместно с металлом образца 1 и пластины 3 образуют термопару, в которой, поверхность 5 служит первым спаем, а поверхность 6 - вторым спаем, Если между этими поверхностями создать разность температур, то в цепи возникает термоэлектродвижущая сила, по которой можно определить эту разносгь и найти среднее значение градиента температур внутри тонкого слоя покрытия.Разность температур между поверхностями 5 и 6 можно создаватьпутем нагрева (или охлаждения) пластины 3 или же путем трения образца 1 о пластину 3.Поскольку гальванические покрытия можно делать весьма тонкими,112607предлагаемый метод позволяет измерять разности температур и температурные градиенты в таких тонких слоях, для которых .другие методы непригодны,Пользуясь набором одинаковых образцов 7, 8 и 9 (фиг. 2) со слоями 2 покрытия различной толщины, можно исследовать распределение температур и температурных градиентов в слоях толщиной порядка единиц или десятков микрон у поверхностей трения.Предмет изобретенияСпособ исследования температурного режима в поверхностном слое, образованном, гальваническим покрытием одного металла другим, путем замера термоэлектродвижущей силы, возникающей в слое покрытия, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью исследования температурного режима в поверхностном слое разнородных трущихся ел, на поверхность одного из них наносят покрытие из другого металла.

Смотреть

Заявка

571422, 13.04.1957

Сухов С. А

МПК / Метки

МПК: G01K 7/08

Метки: исследования, поверхностном, режима, слое, температурного

Опубликовано: 01.01.1958

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-112607-sposob-issledovaniya-temperaturnogo-rezhima-v-poverkhnostnom-sloe.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования температурного режима в поверхностном слое</a>

Похожие патенты