Способ определения амплитудного разрешения фотоэлектронного прибора

СОЮЗ СОВЕТСНИХСИЮЛИЯЮЕСНИМРЕСПУБЛИН Н .01 Л 40/О ЗОБРЕТЕН АН О ЬСТВУ ВТО ВИДЕТ ищ М,ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫП 4 Й.(71) Научно-исследовательский инстут прикладных физических проблемим, акад. А.Н.Севченко(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АМПЛИТУДНОГО РАЗРЕШЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРОННОГОПРИБОРА путем формирования световых импульсов, освещения ими фотока"тода прибора и регистрации амплитудного распределения его выходныхсигналов, по которому рассчитываютамплитудное разрешение, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и сокращения времени измерения, световые импульсыформируют по случайному закону сдискретным равномерным распределением интенсивности, а для регистрации используют результирующее ампли-,тудное распределение выходных сигналов.Изобретение относится к измерению параметров фотоэлектронных приборов и может быть использовано для оперативного контроля и калибровки с высокой точностью их амплитудногоразрешения во всем диапазоне.Известен способ определения амплитудного разрешения фотоэлектронного прибора, включающий облучение фотокатода световыми вспышками от. сцинтилляционного кристалла, который облучается.моноэнергетическим -излучением, и регистрацию амплитудного распределения выходных импульсов с помощью многоканального анализатора Г 3.Недостатком такого способа яв ляется его относительно невысокая точность.Наиболее блнзким к изобретению по технической сущности являетсяспособ определения амплитудного раз"решения фотоэлектронного прибора включающий измерение амплиудного разрешения за цикл многократиых измерений только в одной фиксированной точке диапазона путем формирования серии световых испытательных импульсов равной интенсивности, освещения ими фотокатода исследуемого прибора и последующей регистрации , амплитудного раснределеиия выход" ных импульсов, по которому определяют амплитудное разрешение 23 Однако известный способ обладает невысокой точностью, так как он основан на обработке световых исытательных сигналов равной интенсивности, которые не адекватны реальным сигналам оптико-физического эксперимента, интенсивность которых случайна во времени, и не учитывает сложной статической связи между интенсивностью принцмаееас сигналов ихарактерными процессами последейст-;вця фотоэлектронного прибора такими,как утомляемость фотокатода, насыще"ние динодов, индуцирование шумовыхпослеимпульсов и другие, которыеухудшают реальное амплитудное раз-.рещение слабых сигналов тем более,чем больше интенсивность предшествующих сигналов. В этой связи получа": еные оценки амплитудного разрешения ие соответствуют его значениям вфреальных условиях эксплуатации, т.е. в режиме фотопреобразования случайных по интенсивности сигналов в раз 35,образом.40 На вход исследуемого фотоэлек тронного прибора подают серию испытательных световых сигналов (фиг.),,которые формируют по случайному за-,кову с дискретным равномерным распределением интенсивности ф (фиг. 2) число дискретных значений, интенсивность которых выбирается равной числу иеобходимас точек измерения амп-;литудного разрешения по диапазону.формирование световых импульсовно случайному закону может, быть осуществлено с помощью генератора кодов случайньщ чисел с дискретным равномерным распределением, который с частотой таймер-генератора генерирует случайную последовательность цифро- .вых кодов, которые преобразуются преобразователем в пропорциональные 5 10 15 20 25 30 решенном для конкретного фотоэлектронного прибора диапазоне.Кроме того, способ характеризуется малым быстродействием, так какпри этом за цикл многократных измерений амплитудное разрешение прибора измеряется только в одной точкедиапазона.Цель изобретения - повьппение точности и сокращение времени определения амплитудного разрешения.Указанная цель достигается тем,что согласно способу определенияамплитудного разрешения фотоэлектронного прибора путем формирования световых импульсов, освещения или фото,катода прибора и регистрации амплитудного распределения его выходныхсигналов, но которому рассчитываютамплитудное разрешение, световые импульсы формируют по случайному закону с дискретным равномерным распределением интенсивности, а для регистрации используют результирующее,амплитудное распределение выходныхсигналов,На фиг.показана временная интенсивность, ф И) формируемых световых импульсов; на фиг. 2 - плотностьвероятности распределения интенсивности Р(ф) испытательных сигналов;на фиг. Э - плотность вероятностираспределения амплитуды Р(О) (результирующее амплитудное распределе"ние) выходных сигналов фотоэлектронУного прибора (индекс й обозначаетчисло импульсов равной интенсивностиФ и амплитуды О, соответственно).Способ осуществляется следующим27 4образных, сочетаниях интенсивностисигналов, что позволяет определитьреальное амплитудное разрешение сучетом всех явлений последействия истатистического пропесса фотоэлектронного преобразования и усиления, харак, терного для всех фотоэлектронных при-.,боров. При этом можно определить какдифференциальное распределение амплитудного разрешения по диапазону;нап ерш в -де оООЗ%А =оТНМ Хдля каждой точки диапазона (фиг,З),где О- значение моды распределения для точки,п, которое соответ ствует максимуму амплитудногораспределения для этой точки й щ,ДЦ- ширина распределения для точ-ки и на уровне 0,5 М ), так и средвюеа 1. нее значение амплитудного разрешенияпо диапазону и его среднеквадратическое отклонение, что позволяетдостоверно аттестовать фотоэлектронный прибор по амплитудному разрешению, Одновременно предлагаемый спо"соб по сравнению с известным позволяет сократить время измерения ампли"тудного разрешения более чем в 7-0раз за счет его одновременного измерения в ряде точек диапазона и применения испытательных сигналов сравномерным дискретным распределением интенсивности,3 11204 коду каждого числа значения напряжения или тока, питающие источник оптического излучения. Одновременно с подачей испытательных световых сигналов регистрируют результирующее амплитудное распределение выходных сигналов фотоэлектронного прибора (фиг. 3) путем измерения амплитуд выходных сигналов и определения сумм числа импульсов равных амплитуд в10 виде чисел И, которые однозначно связаны с плотностью вероятности амлитудного распределения выходных импульсов Р(Р), Нри этом результирующее амплитудное распределение в от З личие от одномодового амплитудного распределения известного способа имеет . многомодовый характер и несет информа-. цию об амплитудном разрешении фотоэлектронного прибора во всех заданных 2 О точках диапазона.Благодаря тому, что испытательные сигналы формируются одновременно во всем диапазоне интенсивности с рав,номерным распределением интенсивнос ти в диапазоне ф -ф, обеспечивается наиболее сложное статистическое взаимодействие испытательных сигналов разной интенсивности Ф с фото, катодом исследуемого прибора во вре- щ мени (фиг. 3). Это позволяет осуществить оперативное измерение амплитудного разрешения одновременно по всему диапазону при саьаас разио